XRF荧光光谱仪基体效应校正方式
在XRF荧光光谱仪分析中, 基体效应往往是引起分析误差的主要来源之一。基体效应是元素间的吸收一增强效应和物理一化学效应, 通常, 基体效应是指被测样品中元素间的吸收-增强效应。为了保证分析结果的准确性, 必须对基体效应进行校正。目前对基体效应的校正已发展为两大分支, 其一是通过实验的手段, 称之为实验校正法; 其二是通过计算的方法, 称之为数学校正法。(一) 实验校正法实验校正法, 除前面所述的粉末稀释法、薄样法外, 还有内标法、标准比较法、散射线内标法等。内标法是外加一个其特征x射线波长与被测元素分析线相近的元素, 作为内标元素, 利用分析线与内标线的强度比与含量之间的关系, 建立工作曲线, 求出被测元素的含量。该法可以有效地补偿元素间的吸收-增强效应以及制样误差、仪器漂移, 提高分析精度。内标法在溶液滤纸片法中被普遍采用。比如，稀土分析中常用的内标元素是钒, 也可以用其它元素作内标元素, 例如, 用铜为内标分析永磁合金(Sm......阅读全文
XRF荧光光谱仪基体效应校正方式
在XRF荧光光谱仪分析中, 基体效应往往是引起分析误差的主要来源之一。基体效应是元素间的吸收一增强效应和物理一化学效应, 通常, 基体效应是指被测样品中元素间的吸收-增强效应。为了保证分析结果的准确性, 必须对基体效应进行校正。目前对基体效应的校正已发展为两大分支, 其一是通过实验的手段, 称之为实
XRF中白云鄂博矿元素间基体效应及影响系数的研究
白云鄂博矿在我国稀土产业的发展过程中具有十分重要的地位。因此，以不破坏白云鄂博矿的形态为前提条件下，对其进行快速、准确的分析是非常重要的。X射线荧光光谱分析技术具有可直接对块状、粉末状样品进行分析的特点，同时其还具有分析准确度高、分析元素范围广（Na-U）、分析速度快、操作简便等优点，正好能满足快速
荧光光谱仪器的校正
灵敏度校正 荧光光度计的灵敏度可以用被检测出的最低信号来表示，通常以硫酸奎宁的检出限或者以纯水的的拉曼峰的信噪比（S/N）表示。 荧光光度计的灵敏度与光源强度，单色器（包括透镜，反射镜）的性能，放大系统的特征，和光电倍增管的灵敏度有关； 与所选用的波长，狭缝宽度有关。 与被测空白溶剂的拉曼散射，激
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
简述基体效应的校正方法
长期以来，许多学者从各个不同的角度出发，对基体效应及其校正做厂专门研究，提出了很多行之有效的校正方法。这些校正方法，可以划分为实验校正方法和数学校正方法两大类。实验校正法主要以实验曲线进行定量测定为特征的。如稀释法、薄试样法、增量法、列线图法、补偿法、辐射体法(又称透射校正法、发射吸收法)、内标
X荧光光谱仪XRF的性能特点和技术优势
X荧光光谱仪XRF是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
X射线荧光光谱仪的基体效应的概述
在X射线荧光分析中，随着高度精密、稳定仪器的出现与发展，基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。所谓基体效应，全面说来，是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化，对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成，通常指包括分析元素在内的主量元素；样品的物理-化学状态，则应包括固体粉末的
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
X荧光光谱仪XRF的优势介绍
1、采用独特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）； 2、具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化； 3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求； 4、大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便； 5、配备功能齐全的
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成；X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
XRF(X射线荧光光谱仪)选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测仪检测，能通过的就算合
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
为你介绍X荧光光谱仪及其性能特点
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS
XRF在矿物加工领域中的应用
5.1 XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光（XRF)分析技术主要用于元素成份分析，具有现场快速、无损和多元素同时分析的特点。目前，该技术已广泛应用于地质、环境、工业产品、半成品及原料的质量检测，特别是在矿冶领域中，对矿石品位的检测有着良好的经济和社会效益。 近年来，随着新一代基于高分辨率电致冷
X荧光光谱仪在水泥质量控制应用中存在的问题
目前随着分析技术的不断发展，X荧光光谱仪分析的应用越来越普遍。X射线荧光光谱仪可以对从Be-U的元素进行定性和定量的分析。 尽管x射线荧光光谱分析压片方法因操作简单、分析速度快、度高、成本低等优点在水泥生产中广泛应用，但由于水泥原料矿物的成分及结构复杂，样片的制作因人而异及X射线荧光光谱仪
X荧光分析基体效应校正研究及在水泥工业中的应用
水泥生产企业需要对原材料、燃料、生料、半成品、熟料及水泥成品的化学成份进行分析,确保水泥生产的质量要求。X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点,正好满足水泥生产过程中化学成份快速准确分析的要求,是现代化水泥生产企业最重要的成份分析仪器。在X射线荧光分析中,由于基体
铁合金X荧光分析技术的研究
铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂,其组分直接影响着钢铁产品的质量,因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点,受到了科研和生产人员重视。本文采用便携式XRF分析仪开展铁合金主元素的快速分析研究,重点讨论了铬
铁合金X荧光分析技术的研究
铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂,其组分直接影响着钢铁产品的质量,因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点,受到了科研和生产人员重视。本文采用便携式XRF分析仪开展铁合金主元素的快速分析研究,重点讨论了铬
简述X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
XRF荧光光谱仪的优劣势说明
XRF荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪（波谱仪，WDXRF）和能量色散型X荧光光谱仪（能谱仪，EDXRF）。我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器。 1、XRF荧光光谱仪的优势 （1）制样简单。通常情况下是物理制样。试样经过简单的破碎、研磨成粉末压片或熔
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm 4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干；2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm；3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，需提前说明。
江苏天瑞在CISILE－2011上推出新型SUPE－XRF－2400
2011年4月25日，第九届中国国际科学仪器及实验室装备展览会(CISILE 2011)在北京展览馆隆重召开。天瑞仪器在展会期间举办了“SUPE XRF 2400新品发布会”。发布会现场气氛热烈，展台前吸引了众多观众驻足观看，业界多家媒体应邀参加了此次发布会。 天