Antpedia LOGO WIKI资讯

ICPAES常见问题

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,国外已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。今天,我们为您带来ICP-AES分析常见12个故障问题及解决办法! 1、影响等离子体温度的因素有: ①载气流量:流量增大,中心部位温度下降; ②载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加; ③频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低; ④第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂的等离子体,电子温度将增加。 2、电离干扰的消除和抑制: 原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的......阅读全文

ICP-AES常见问题

  电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,国外已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。今天,我们为您带来ICP-AES分析常见12个故障问

ICP-AES 干扰

1. 光谱干扰 ICP-AES的光谱干扰其数量很大而较难解决,有记录的ICP-AES的光谱谱线有50000多条,而且基体能引起相当多的问题。因此,对某些样品例如钢铁、化工产品及岩石的分析必须使用高分辨率的光谱仪。广泛应用于固定通道ICP-AES中的干扰元素校正能得到有限度的成功。ICP-AES中的背

ICP-AES仪器构成

  基本组成  ICP-AES分析仪器主要由样品导入系统、检测器、多色器和RF发生器构成。    ICP-AES分析仪器的基本组成  样品导入系统  样品导入系统由蠕动泵、雾化器、雾化室和炬管组成。  进入雾化器的液体流,由蠕动泵控制。泵的主要作用是为雾化器提供恒定样品流,并将雾化室中多余废液排出。

ICP-AES是什么仪器

ICP-AES不是仪器,而是电感耦合等离子体原子发射光谱法。电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法,具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,国外已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。方法原理:电感耦合等离子体焰矩温度可达6000~8

ICP-AES分析性能特点

  电感耦合等离子体(ICP)是由高频电流经感应线圈产生高频电磁场,使工作气体形成等离子体,并呈现火焰状放电(等离子体焰炬),达到10000K的高温,是一个具有良好的蒸发-原子化-激发-电离性能的光谱光源。而且由于这种等离子体焰炬呈环状结构,有利于从等离子体中心通道进样并维持火焰的稳定;较低的载气流

元素分析方法:ICP-AES

AES(原子发射光谱)测试原理:处于激发态的待测元素的原子回到基态时,发射的特征谱线。定性分析:是根据特征谱线,原子结构不同对应不同的谱线定量分析:根据特征谱线的强度,与待测原子浓度成比例关系测试原理过程的示意图:首先测试样品前处理,利用等离子体光源(ICP)使样品蒸发汽化,离解或者分解为原子状态,

ICP-AES的方法原理

电感耦合等离子体焰矩温度可达6000~8000K,当将试样由进样器引入雾化器,并被氩载气带入焰矩时,则试样中组分被原子化、电离、激发,以光的形式发射出能量。不同元素的原子在激发或电离后回到基态时,发射不同波长的特征光谱,故根据特征光的波长可进行定性分析;元素的含量不同时,发射特征光的强弱也不同,据此

ICP-AES固体样品的制备

分析样品的采样、制备(粉碎,缩分)是分析工作的第一道工序,也是往往容易忽视而很重要的一道工序。如果出现差错,则整个随后的分析工作是毫无意义了。不同种类的样品如矿石、金属、植物、土壤、环保等都有不同相应的样品加工规范。总的来讲样品的制备过程应考虑到:1)      采样的代表性每一个分析用的样品必需对

ICP-AES发射光谱理论

电感耦合高频等离子体发射光谱仪(ICP-AES)发射光谱理论  原子发射光谱分析测定的是原子外层电子从高能级向低能级跃迁时发射出的电磁辐射。在原子外层电子“跳回”和“跃迁”的过程中原子所放出的能量和所接受的能量与辐射或吸收的电磁波的波长有严格的一一对应的关系:  ΔΕ=hν= hc/λ  ΔΕ—量子

ICP-AES的使用和维护

ICP-AES的使用和维护1、仪器一定要有良好的使用环境  等离子体光谱与其它大型精密仪器一样,需要在一定的环境下运行,失去这些条件,不仅仪器的使用效果不好,而且改变仪器的检测性能,甚至造成损坏,缩短寿命。根据光学仪器的特点,对环境温度和湿度有一定要求。如果温度变化太大,光学元件受温度变化的影响就会