HORIBA科技推出扫描电子显微镜的新的CLUE系列检测器
Clue系列探测器 HORIBA CLUE系列提供了一个可扩展的平台，用于SEM和双SEM / FIB（聚焦离子束）显微镜对纳米物体的成像和光谱分析。 近日，HORIBA科技发布用于扫描电子显微镜（SEM）的新型HORIBA CLUE系列探测器。 HORIBA CLUE系列包括： i-CLUE快速阴极发光（CL）成像系统，具有大视场椭圆形收集镜。 i-CLUE在市场上独树一帜，可以实时升级到完整的光谱解决方案，为分析科学家提供了价格合理的高灵敏度CL检测的第一步。 F-CLUE坚固的成像和超光谱CL解决方案是对现有配置的轻松升级。超紧凑的内部设计（完全可伸缩的镜子收集）、外部的样品室、光纤耦合光谱仪适合所有带有自由水平端口的显微镜的客户。 H-CLUE成像和超光谱CL解决方案通过结合DUV-VIS-NIR，直接光耦合和高分辨率光谱仪的高质量抛物面镜，在市场上具有最佳性能。 R-CLUE结合HORIBA阴......阅读全文
HORIBA科技推出扫描电子显微镜的新的CLUE系列检测器
Clue系列探测器 HORIBA CLUE系列提供了一个可扩展的平台，用于SEM和双SEM / FIB（聚焦离子束）显微镜对纳米物体的成像和光谱分析。 近日，HORIBA科技发布用于扫描电子显微镜（SEM）的新型HORIBA CLUE系列探测器。 HORIBA CLUE系列包括： i-
HORIBA重组欧洲业务－成立HORIBA－FRANCE－SAS
分析测试百科网讯 近日，HORIBA宣布其旗下HORIBA Jobin Yvon SAS与其子公司HORIBA FRANCE SARL合并。新公司将被称为HORIBA FRANCE SAS。 HORIBA Jobin Yvon SAS主营材料科学和生物制药仪器以及高性能光学元件，其子公司HOR
Keynote－Speaker:－Atsushi－Horiba
Atsushi Horiba Atsushi Horiba is Chairman & Group CEO of HORIBA, Ltd., an analytical device manufacturing company located in Kyoto with 49 group comp
SEM特点
特点（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍
SEM结构
结构1．镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束（直径约几个nm），并且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各种信号。2．电子信号的收集与处理系统在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇（Auger）电子
SEM工作程序
工作程序（1）开启试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT），将试样放入试样室后将试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT）关闭抽真空。（2）开启镜筒真空隔阀。（3）加高压（ACCELERATION POTENTIAL）至25KV.（4）加灯丝电流（FILAMENT）至7.5-8.（5）调节显示
SEM放大倍数
放大倍数扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。目前，大多数商品扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即扫描电镜弥补了光学
SEM相关应用
扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析： 1、观察纳米材料：其具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。2、材料断口的分析：其景深大，图象富立体感，具有三维形
SEM衬－度
衬 度衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高
SEM景－深
景 深景深是指焦点前后的一个距离范围，该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求，可以成清晰的图像；也即，景深是可以被看清的距离范围。扫描电子显微镜的景深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大，所得扫描电子像富有立体感。电子束的景深取决于临界分辨本领d0和电子束入射半角αc。其
SEM真空系统
SEM真空系统 不同的灯丝，SEM真空系统的设计有所不同。在钨灯丝系统中，灯丝的真空度受到运行状态影响。例如，每次加载或卸载样品时，都会有空气进入真空柱，影响灯丝的使用寿命。观察不导电样品时，通常需要低真空，也会缩短灯丝寿命。对于CeB6系统，比如飞纳电镜，内置涡轮分子泵，采用分级真空系统，通过压差
SEM灯丝选择
01.电子源大小电子源大小为电子枪发射出电子后经韦氏帽汇聚后所形成的电子束斑，六硼化镧和六硼化铈灯丝明显小于钨灯丝，更有利于经过聚光镜和物镜汇聚后形成更小的电子束斑，从而得到更好的分辨率； 02.亮度亮度为灯丝单位面积内的电子流强度，亮度越高，越有利于得到更充足的信号，提高图片的信噪比和清晰度。六硼
SEM关机程序
关机程序（1）关灯丝电流（FILAMENT）。（2）关高压（ACCELERATION POTENTIAL）。（3）反时针调节显示器对比度（CONTRAST）、亮度（BRIGHTNESS）到底.（4）关闭镜筒真空隔阀。（5）关主机电源开关。（6）关真空开关。（7）20分钟后，关循环水和电子交流稳压器开
HORIBA拉曼光谱实验室在京成立
HORIBA Scientific 旗下的 Jobin Yvon 具有近 200 年历史。作为目前世界上唯一拥有全系列高端拉曼光谱仪的公司，HORIBA Scientific 提供从研究级、分析级、工业在线监控拉曼，仅研究级和分析级就拥有多达 5 种焦长可供选择，用户可以根据自己的应用需求，选择
Horiba推出MEXA－2010SPCS
分析测试百科网讯 作为排放测量和汽车测试系统的领先供应商，Horiba将其固体粒子数的测量能力进一步扩展到纳米范围新的MEXA-2010SPCS（Solid Particle Counting System）固体粒子计数系统的引入使粒子测量低于当前23nm的法定检测限。在最近的科学证据表明纳米颗
HORIBA携多款新品亮相慕尼黑
分析测试百科网讯 2020年11月16日-18日，慕尼黑上海分析生化展在上海新国际博览中心隆重召开。HORIBA携多款新品亮相展会，其中，LabRAM Soleil高分辨超灵敏智能拉曼成像仪获得了现场观众们的特别关注。LabRAM Soleil产品展示 集200年光谱技术于一身
一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能
环形全息复制衍射光栅技术助NASA发现冥王星冰山
分析测试百科网讯 2015年7月14日，“新视野”号探测器飞过冥王星并发回冥王星及其卫星Charon的照片，照片揭示了他们的地质、表面和大气信息。山脉的照片显示这种地质活动发生在不到1亿年前。冰一氧化碳、甲烷、氮气均被检测到。冥王星的大气层主要由氮气组成。然而，虽然冥王星的质量很小
SEM解决方案
解决方案 随着用户数量的增长，phenom飞纳电镜不同的应用也在增长。除了纳米纤维，其他方面的应用案例如下： 1. 活体实验之后的药物释放系统成像2. 反应物颗粒形貌3. 摩擦和划痕测试-包含残渣水平-关于涂层、合成树脂和玻璃4. 处理和应用对于Dyneema纱线和胶带形貌的影响5. 复合材料内部填
SEM相关应用二
6、在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。 7、进行从高倍到低倍的连续观察：扫描电镜的放大倍数范围很宽（从5到20万倍连续可调），且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行分析
SEM图像分析软件
SEM图片是电子扫面的图片，把微观世界放大到几千甚至上万倍，这个图片是需要你结合自身的知识背景加以专业的判断才能得出的结论的，而不是有什么软件会告诉你什么图片能说明啥。
sem如何调清晰
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是要看你的技术咯，电子束对中，像散调节，wobble，最后就是f
SEM－和AFM对比
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而A
HORIBA－新款立式SPRiLab+系统
为您的实验室节约更多空间! HORIBA Scientific发布了最新款的SPRi-Lab+系统，一款实时监控多通道平行、无标记生物分子相互作用的紧凑灵活的仪器。 现在，SPRi-Lab+具有两种构造，为您提供更多选择! ・ 标准卧式构造，垂直插入生物芯片 ・ 立式构造
HORIBA客户俱乐部会员报名开始
HORIBA Scientific诚邀您注册成为我们的客户俱乐部会员。 我们将以邮件方式定期或不定期的将HORIBA最新的产品、应用案例、技术、培训等信息发送到您注册的邮件地址。 此外，作为HORIBA Scientific客户俱乐部成员，我们还将在年节期间为您免费邮寄礼品到您指定的
HORIBA科学升级拉曼ParticleFinder软件
分析测试百科网讯 近日，HORIBA科学仪器事业部宣布为LabSpec 6光谱组件推出新的升级版ParticleFinder模块。这个版本是作为支持与R.J. Lee（Monroeville, PA）合作的粒子及痕量化合物的分析研究以及与TZW：水技术中心（卡尔斯鲁厄，德国）合作的微塑料水研究的
HORIBA科学发布在线拉曼学院
分析测试百科网讯 近日，HORIBA科学推出“拉曼学院”在线学习网站。 拉曼学院的设计为初学者和有经验的拉曼用户提供了增加拉曼专业技能深度和广度的工具。这将使他们能够完成更多的应用，反过来，这也可以提高他们的拉曼设备的价值。 在拉曼学院的页面上有4个学习区域：拉曼光谱入门 包括拉曼
Horiba推出Ultima时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命系统
分析测试百科网讯 Horiba近期推出了新的Ultima TCSPC荧光寿命系统,对短寿命的测量进行了优化。 新的Ultima荧光计结合了最新的高时间分辨率TCSPC电子器件、可互换的高速光源和探测器技术，使得Horiba科学的最灵活的专用寿命光学平台FluoroCube能够提供可用的最高性能
HORIBA收购SPM制造商－首次实现拉曼与SPM真正耦合
具有50多年拉曼光谱仪制造经验的全球拉曼(Raman)技术领导者HORIBA Scientific今年年初宣布成功收购美国顶尖扫描探针显微镜(SPM)制造商AIST-NT。收购前，双方经历了长达四年的合作。这次收购意味着扫描探针显微镜与拉曼光谱技术实现真正意义的耦合，NanoRaman将会有完整
CCD探测器与CID探测器
CCD（Charge-coupled Device）的概念CCD，英文全称：Charge-coupled Device，中文全称：电荷耦合元件。可以称为CCD图像传感器。CCD是一种半导体器件，能够把光学影像转化为数字信号。 CCD上植入的微小光敏物质称作像素（Pixel）。一块CCD上包含