电子探针显微镜之元素分析范围广
电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(Ｕ)，因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线，而氢和氦原子只有 K 层电子，不能产生特征 X 射线， 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线，但产生的特征 X 射线波长太长，通常无法进 行检测，少数电子探针用大面间距的皂化膜作为衍射晶体已经可以检测 Be 元素。能谱仪的 元素分析范围现在也和波谱相同，分析元素范围从硼(Be)——铀(Ｕ)。......阅读全文
EDS元素分析
一、实验目的 1.了解能谱仪（EDS）的结构和工作原理。 2.掌握能谱仪（EDS）的分析方法、特点及应用。 二、实验原理 在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材料中感兴趣部位的化学成分进行点分析、面分析、线分析。它的主要优点有：（1）分析速
关于电子探针的定性分析方法介绍
1. 定点分析： 将电子束固定在要分析的微区上，用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。 镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元
什么是电子探针显微分析仪
电子探针显微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全称：电子探针x射线显微分析，是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。适用于分析试样中微小区域的化学成分，是研究材料组织结构和元素分布状态的有效方法。 电子探针显微分析是利用聚焦电子束（电子探测针）照
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
扫描电镜之阴极发光
阴极发光是指晶体物质在高能电子的照射下，发射出可见光、红外或紫外光的现像。例 如半导体和一些氧化物、矿物等，在电子束照射下均能发出不同颜色的光，用电子探针的同 轴光学显微镜可以直接进行观察可见光，还可以用分光光度计进行分光和检测其强度来进行 元素分析。 阴极发光现象和发光能力、波长等均与材
近6000万！这所大学公布质谱、电镜政府采购意向
为便于供应商及时了解政府采购信息，根据《财政部关于开展政府采购意向公开工作的通知》（财库〔2020〕10号）等有关规定，浙江大学2022年7至8月政府采购意向公开如下：序号采购单位采购项目名称采购品目采购需求概况预算金额(万元)预计采购日期备注1浙江大学高分辨二次离子质谱仪A02100407质谱
电子探针X射线微区分析能谱仪分析特点
具有以下优点（与波谱仪相比） 能谱仪探测X射线的效率高。 在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动），不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
电子探针的工作原理及构造
工作原理分析由莫塞莱定律可知，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，并满足以下关系：通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含有的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，即:就能进行电子探针的定量分析。 当然利用电子束激发的X射线进行元素分析，其
元素分析仪元素分析仪的原理和分析方法
元素分析仪是一种能分析物质所含元素的一种仪器，能利用先进的技术精密地分析物质，已广为使用。可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多种元素。 元素分析仪作为一种实验室常规仪器，可同时对有机的固体、高挥发性和敏感性物质中
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
液氮罐的日常保存 1、液氮罐的放置 液氮罐要存放在通风良好的阴凉处，不能在太阳光下直晒，且无论在使用或存放时，液氮罐均不能倾斜、横放、倒置、堆压、相互撞击或与其他物件碰撞，要做到轻拿轻放，并始终保持直立。严禁在容器盖上放置物体和密封颈口。用于长期贮存时，则需要定期补充液氮，补充时机一般为液氮剩余
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。 电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP根据检测器的不同分为ICP-OES(电感耦合等离子发射光谱仪，古代人也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者能测元素周期表中的绝大部分元素，两者之间能测得元素稍有差异，检出能力上后者要比前者高，当然价格上也贵很多，不过一般来说ICP-OES也就够用了。ICP测试一般要对
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP元素测试：电感耦合等离子发射光谱仪（ICP） 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素（金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素），且均有较好的检出限。检测器线性范围
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP根据检测器的不同分为ICP-OES(电感耦合等离子发射光谱仪，古代人也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者能测元素周期表中的绝大部分元素，两者之间能测得元素稍有差异，检出能力上后者要比前者高，当然价格上也贵很多，不过一般来说ICP-OES也就够用了。ICP测试一般要对
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP根据检测器的不同分为ICP-OES(电感耦合等离子发射光谱仪，古代人也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者能测元素周期表中的绝大部分元素，两者之间能测得元素稍有差异，检出能力上后者要比前者高，当然价格上也贵很多，不过一般来说ICP-OES也就够用了。ICP测试一般要对
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP元素测试：电感耦合等离子发射光谱仪（ICP） 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素（金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素），且均有较好的检出限。检测器线性范围
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP元素测试：电感耦合等离子发射光谱仪（ICP） 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素（金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素），且均有较好的检出限。检测器线性范围
ICP做元素分析，可以测哪些元素
ICP元素测试：电感耦合等离子发射光谱仪（ICP） 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素（金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素），且均有较好的检出限。检测器线性范围
电子探针X射线显微分析仪简介
电子探针X射线显微分析仪，简称电子探针。是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，并根据X射线的波长和强度，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针分析的原理是以电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从
电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针X射线显微分析仪(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的简称为电子探针 。在众多样品化学成分分析的仪器中，电子探针分析技术(EPMA)是一种应用较早、且至今仍具有独特魅力的多元素分析技术。 二战以来，世界经济和社会的迅猛发展极大的促进了科
电子探针X射线微区分析的工作原理
电子探针（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。 其原理是：用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征X射线，分析特征X射线的波长（或能量）可知元素种类；分析
电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针可以对试样中微小区域微米的化学组成进行定性或定量分析，除做微区成分分析外，还能观察和研究微观形貌、晶体结构等。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用，是土壤和矿物测
岛津应对超轻元素分析的科研利器
导读电子探针作为显微形貌观察和微区成分分析一体化的分析仪器，具有不损坏样品、分析方式多样（点、线、面及状态分析）、简单快速、准确度高等特点，被广泛应用在材料学、地质学等研究领域。超轻元素是指原子序数小于10的元素（Be、B、C、N、O、F），一直是电子探针分析中的难点和重点。目前，超轻元素分析测试，
x射线荧光光谱的微区分析技术介绍
铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。 微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射
电子探针X射线显微分析仪的阴极发光介绍
阴极发光是指晶体物质在高能电子的照射下，发射出可见光红外或紫外光的现像。阴极发光现象和发光能力、波长等均与材料基体物质种类和含量有关。阴极发光效应对样品中少量元素分布非常敏感，可以作为电子探针微区分析的一个补充，根据发光颜色或分光后检测波长即可进行元素分析。从阴极发光的强度差异还可以判断一些矿物
关于电子探针X射线微区分析面分析的相关介绍
使入射电子束在样品表面选定的微区内作光栅扫描，谱仪固定接收某一元素的特征X射线信号，并以此调制荧光屏的亮度，可获得样品微区内被测元素的分布状态。元素的面分布图像可以清晰地显示与基体成分存在差别的第二相和夹杂物，能够定性地显示微区内某元素的偏析情况。在显示元素特征X射线强度的面分布图像中，较亮的区
元素分析仪
1. 美国CE-440型有机碳氢氮氧硫元素分析仪（CHN O S）的分析范围包括化学和药物学产品、精细化工产品、药物、肥料、石油化工产品 ，橡胶、塑料、高分子材料及添加剂、建筑和绝缘材料、煤、固体废弃物等。被广泛应用于化学、化工、制药、农业、环保、能源、材料等不同领域的研究分析。2. PerkinE