杂散光(Straylight)对吸光度的影响
一、杂散光的重要性杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源, 它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时, 被分析的试样浓度越大, 其分析误差就越大。ASTM 认为: “杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤其对高浓度的分析测试时, 杂散光更加重要”。有文献报道, 在紫外可见光区的吸收光谱分析中, 若仪器有1%的杂散光, 则对2. 0A 的样品测试时, 会引起2%的分析误差。杂散光对高浓度试样的影响如下图 所示。二、杂散光的定义及理论推导(一) 杂散光的定义目前, 国际上对杂散光的定义各异。下面介绍几种比较简洁的杂散光的定义。1. ASTM 的定义美国的ASTM 对杂散光定义是: 杂散光既难给出确切的定义, 又难进行准确的测量。人们常将杂散光定义为在单色器额定通带之外的透射辐射能量与总的透射能量之比。2. Richard 的定义日本的......阅读全文
杂散光(Stray－light－)对吸光度的影响
一、杂散光的重要性杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源, 它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时, 被分析的试样浓度越大, 其分析误差就越大。ASTM 认为: “杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤
杂散光的五种定义
目前，国际上很多学者都很重视杂散光，他们对杂散光的定义各异。下面介绍国内外学者对杂散光的几种定义。(1) ASTM的定义美国的ASTM认为：杂散光既难给出确切的定义，又难进行准确的测量。人们常将杂散光定义为在单色器额定通带之外的透射辐射能量与总的透射能量之比。(2) Richard的定义日本学者Ri
紫外可见分光光度计杂散光
一、杂散光的重要性 杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源, 它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时, 被分析的试样浓度越大, 其分析误差就越大。ASTM 认为: “杂散光可能是光谱测量中主要误差的
紫外分光光度计杂散光如何测定
将参比液注入配对石英石吸收池，分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。将减光片插入试样光路的滤光片槽内，其读数即为减光片的衰减值K.然后将减光片插入参比光路的滤光片座内，将石英吸收池中的蒸馏水依次换成上述截止滤光液，插入试样试样池座中，在相应的波段内扫描、打印；在记录纸的作标上
如何降低分光光度计的杂散光？
可以通过以下方法降低分光光度计的杂散光：一、仪器设计与制造方面优化光学系统：采用高质量的光学元件，如光栅、棱镜等，具有高的光学纯度和低的散射特性。精确的光学加工和镀膜技术可以减少表面反射和散射，从而降低杂散光。设计合理的光路结构，避免不必要的反射和散射路径。例如，采用双光束或多光束设计，可以减少杂散
降低分光光度计的杂散光的方法
可以通过以下方法降低分光光度计的杂散光：一、仪器设计与制造方面优化光学系统：采用高质量的光学元件，如低散射的光栅、棱镜和透镜等。这些元件能够减少光在传播过程中的散射，从而降低杂散光的产生。设计合理的光路结构，避免光线在仪器内部的多次反射和散射。例如，采用直角入射和出射的光路设计，可以减少反射光的干扰
紫外可见分光光度计测试杂散光
根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小，容易显现杂散光。 因此，紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散
紫外可见分光光度计杂散光小议
紫外可见分光光度计杂散光小议所谓的杂散光严格意义上来讲是所要单色光以外的光，都为杂散光，但是目前国内外的定义不完全相同，有的是从辐射的角度，有的是从能量的角度，有的是从需不需要的角度来考虑。总体上来讲应该是不该有的光出现了，这就是杂散光。杂散光是分光光度计的关键性技术指标，它是分析误差的主要来源，它
紫外杂散光标准品
可溯源标准品用于验证分光光度计杂散光规格。 描述 每种杂散光标准品都会在特定波长以下停止透光。在该截止点以下，任何测量值都可归于仪器杂散光。不满足仪器规格的杂散光测量值可能表示仪器灯源出现问题，会导致分析错误。提供下列标准品用于测定杂散光：氯化钾，截止点在 200
紫外光度计杂散光与分析测试误差的关系
杂散光对紫外可见分光光度计分析测试误差的影响可分成两种类型。第一种是杂散光的波长与测试波长相同；它是由于测试波长因为某些原因而偏离正常光路，在不通过试样的情况下，直接照射到光电转换器上。引起这种杂散光的原因，大多是由于光学元件、机械零件的反射和漫反射所引起。这种杂散光可以通过一个对测试波长不透明的样
紫外可见分光光度计杂散光的定义
摘要：目前，国际上有很多制造和使用紫外可见分光光度计的科技工作者，都很重视杂散光，他们对杂散光的定义各异。下面介绍几种比较简洁的杂散光的定义。 紫外可见分光光度计杂散光的定义 目前，国际上有很多制造和使用紫外可见分光光度计的科技工作者，都很重视杂散光，他们对杂散光的定义各异。下面介绍几种比较简洁
分光光度计的杂散光来源有哪些？
分光光度计的杂散光来源主要有以下几个方面：一、光学系统光学元件表面的散射：分光光度计中的透镜、反射镜、光栅等光学元件的表面可能存在微小的瑕疵、划痕或灰尘，这些都会导致光的散射，产生杂散光。例如，透镜表面的划痕会使部分光线偏离正常的光路，散射到其他方向，进入检测器，从而增加杂散光的强度。光学元件的内部
分光光度计的杂散光来源有哪些？
可以通过以下方法减少分光光度计的漏光现象：一、仪器设计与制造方面优化光学系统设计：在分光光度计的设计阶段，应采用合理的光学布局，尽量减少光在传输过程中的散射和反射。例如，使用高质量的反射镜和透镜，确保光的传输路径清晰明确，减少不必要的反射和散射。对于关键的光学部件，如光栅、狭缝等，应进行精确的加工和
紫外可见分光光度计杂散光的来源
紫外可见分光光度计杂散光的来源紫外可见分光光度计产生杂散光的因很多，其最主要的原因大致有以下9个方面：①灰尘沾污光学元件（如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等）；②光学元件被损伤，或光学元件产生的其他缺陷（如光栅、透镜和反射镜、棱镜材料中的气泡等）；③准直系约部或有关隔板边缘的反射；④光学系统或检测
紫外分光光度计杂散光的校正方法
杂散光的校正方法：小量的杂散光往往会引起较大的测量误差，它的校正可用一个能完全吸收某一波长单色光，且在其他波长吸收很弱的溶液。从这个溶液所表现的透光情况可推测杂散光的近似值。由杂散光带来的伪吸收带，亦可用Beer-Lambert定律来检查，但用此定律检查伪吸收带误差较大。由切断范围之外所表现的透
破解日冕仪镜面尘埃杂散光影响有新招
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/8/506477.shtm记者13日从中国科学院云南天文台获悉，该台高级工程师张雪飞等人利用丽江观测站100毫米日冕仪，研究了镜面尘埃引起的杂散光对日冕像的影响及修正方法。该研究有助于更精确的分析日冕强度、结构
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
如何测试紫外可见分光光度计杂散光
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
如何测试紫外可见分光光度计杂散光
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号
紫外可见分光光度计杂散光的测试材料
摘要：杂散光的测试材料中，可分为滤光片和滤光液两种。滤光片又分为带通滤光液和截止滤光片两种。滤光液则有很多种，如丙酮、Nal、NaBr. KCI (12g/l). NaN02等。 杂散光的测试材料中，可分为滤光片和滤光液两种。滤光片又分为带通滤光液和截止滤光片两种。滤光液则有很多种，如丙酮、Na
紫外可见分光光度计杂散光的测试方法
摘要：国内外的紫外可见分光光度计研制者和使用者们，在杂散光的测试工作中，最常用的测试方法是所谓“截止滤光法” (The CutOff Filter Method)，或称作“滤光片法” (The Filter Method)。 目前，国内外的紫外可见分光光度计研制者和使用者们，在杂散光的测试工作中
杂散光与仪器学理论
摘要：杂散光是紫外可见分光光度计等光学类分析仪器的重要性能技术指标之一，它是光学类分析仪器分误差的主要来源之一，它限制仪器对被分析样品的浓度的上限。 杂散光是紫外可见分光光度计等光学类分析仪器的重要性能技术指标之一，它是光学类分析仪器分误差的主要来源之一，它限制仪器对被分析样
关于杂散光测试时光源的选择
摘要：ASTM认为：一般测试紫外可见分光光度计光谱仪器紫外区的杂散光时采用氘灯、氢灯或氙灯作光源；而可见光区则用钨灯(工作温度为2850 ---3300K)作光源。 ASTM认为：一般测试紫外可见分光光度计光谱仪器紫外区的杂散光时采用氘灯、氢灯或氙灯作光源；而可见光区则用钨灯(工作温度为2850
使用紫外可见光光度计进行杂光散光测试
我们该如何使用紫外可见光光度计进行杂光散光测试呢?下面跟我一起来了解一下吧。 据了解，有的紫外可见光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为： ①根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小，
使用紫外可见光光度计进行杂光散光测试
我们该如何使用紫外可见光光度计进行杂光散光测试呢?下面跟我一起来了解一下吧。 据了解，有的紫外可见光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为： ①根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小，容
杂散光的重要性——紫外可见分光光度计
杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源, 它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时, 被分析的试样浓度越大, 其分析误差就越大。“杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤其对高浓度的分析测试时, 杂散光更加重