杂散光与仪器学理论
摘要：杂散光是紫外可见分光光度计等光学类分析仪器的重要性能技术指标之一，它是光学类分析仪器分误差的主要来源之一，它限制仪器对被分析样品的浓度的上限。 杂散光是紫外可见分光光度计等光学类分析仪器的重要性能技术指标之一，它是光学类分析仪器分误差的主要来源之一，它限制仪器对被分析样品的浓度的上限。从仪器学理论来讲，对于紫外可见分光光度计一般应该测试紫外区的杂散光。因为波长是能量的倒数，波长越短，其能量越大。所以，短波部分的杂散光非常重要。但是，我国过去的紫外可见分光光度计国家标准，曾规定用NaBr水溶液测试220nm处的杂散光，而NaBr的透光点在225nm处。测试点离透光点只有5nm。而科学家研究表明：测试点离透光点的距离应该是20～45nm。所以测试出来的杂散光会很大。由于测试材料和测试方法不对，所以过去我国的紫外可见分光光度计检测出杂散......阅读全文
紫外杂散光标准品
可溯源标准品用于验证分光光度计杂散光规格。 描述 每种杂散光标准品都会在特定波长以下停止透光。在该截止点以下，任何测量值都可归于仪器杂散光。不满足仪器规格的杂散光测量值可能表示仪器灯源出现问题，会导致分析错误。提供下列标准品用于测定杂散光：氯化钾，截止点在 200
杂散光的五种定义
目前，国际上很多学者都很重视杂散光，他们对杂散光的定义各异。下面介绍国内外学者对杂散光的几种定义。(1) ASTM的定义美国的ASTM认为：杂散光既难给出确切的定义，又难进行准确的测量。人们常将杂散光定义为在单色器额定通带之外的透射辐射能量与总的透射能量之比。(2) Richard的定义日本学者Ri
杂散光与仪器学理论
摘要：杂散光是紫外可见分光光度计等光学类分析仪器的重要性能技术指标之一，它是光学类分析仪器分误差的主要来源之一，它限制仪器对被分析样品的浓度的上限。 杂散光是紫外可见分光光度计等光学类分析仪器的重要性能技术指标之一，它是光学类分析仪器分误差的主要来源之一，它限制仪器对被分析样
关于杂散光测试时光源的选择
摘要：ASTM认为：一般测试紫外可见分光光度计光谱仪器紫外区的杂散光时采用氘灯、氢灯或氙灯作光源；而可见光区则用钨灯(工作温度为2850 ---3300K)作光源。 ASTM认为：一般测试紫外可见分光光度计光谱仪器紫外区的杂散光时采用氘灯、氢灯或氙灯作光源；而可见光区则用钨灯(工作温度为2850
杂散光光纤光谱仪的优点
杂散光光纤光谱仪是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的一种技术。光谱测量被广泛应用于多种领域，如颜色测量、化学成份的浓度检测或电磁辐射分析等。杂散光光纤光谱仪一般都包括入射狭缝、准直镜、色散元件（光栅或棱镜）、聚焦光学系统和探测器。而在单色仪中通常还包括出射狭缝，让整个光谱中一个很窄的部分照射到
紫外检测器杂散光的相关介绍
定义：测量中不应该有光的地方有光叫杂散光(SL)。它是分析误差的主要来源之一,会直接限制仪器的检测上限。 测试方法：冷态开机预热30min,SBW=2nm,用标准光源或标准片测试口；如：用He—Ne Laser(标准光源),在632．8±5nm处测试。实测3次,取均值即是(法国JY标准)。用截
杂散光(Stray－light－)对吸光度的影响
一、杂散光的重要性杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源, 它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时, 被分析的试样浓度越大, 其分析误差就越大。ASTM 认为: “杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤
测试杂散光时滤光片和滤光液
摘要：紫外可见分光光度计滤光片和滤光液中，哪种好呢? Slavin等曾认为用溶液能给出真实的杂散光用滤光片则可能低估杂散光。Richard等人则认为滤光片有非常广阔的截止区(Broad Cut Off)，而滤光液的截止要比滤光片更加锐利；并且它给出了NaBr水溶液和Corning Vyc
普析推出高端紫外－杂散光指标全球最高
——普析“T10双光束紫外可见分光光度计技术鉴定会”圆满召开 2012年8月31日，中国分析测试协会针对北京普析通用仪器有限责任公司（以下简称普析）最新推出的T10双光束紫外可见分光光度计在北京世纪金源大饭店召开了技术鉴定会。普析通用公司领导及相关部门员工、业内专家及媒体近50人与会。技
紫外可见分光光度计杂散光
一、杂散光的重要性 杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源, 它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时, 被分析的试样浓度越大, 其分析误差就越大。ASTM 认为: “杂散光可能是光谱测量中主要误差的
关于杂散光测试时电转换器的选择
摘要：一般国外在测试紫外可见分光光度计的紫外可见区的杂散光时，基本上都采用光电倍增管作光接收器；红外区则用热电偶、热敏电阻等。根据笔者的实践证明，在紫外光区、可见光区，用光电倍增管R456、R928作光接收器为最好；在红外区用真空热电偶或硫化铅(PbS)为最好。 一般国外在测试紫外可见分光光度计
紫外分光光度计杂散光如何测定
将参比液注入配对石英石吸收池，分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。将减光片插入试样光路的滤光片槽内，其读数即为减光片的衰减值K.然后将减光片插入参比光路的滤光片座内，将石英吸收池中的蒸馏水依次换成上述截止滤光液，插入试样试样池座中，在相应的波段内扫描、打印；在记录纸的作标上
破解日冕仪镜面尘埃杂散光影响有新招
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/8/506477.shtm记者13日从中国科学院云南天文台获悉，该台高级工程师张雪飞等人利用丽江观测站100毫米日冕仪，研究了镜面尘埃引起的杂散光对日冕像的影响及修正方法。该研究有助于更精确的分析日冕强度、结构
紫外可见分光光度计测试杂散光
根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小，容易显现杂散光。 因此，紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散
紫外可见分光光度计杂散光小议
紫外可见分光光度计杂散光小议所谓的杂散光严格意义上来讲是所要单色光以外的光，都为杂散光，但是目前国内外的定义不完全相同，有的是从辐射的角度，有的是从能量的角度，有的是从需不需要的角度来考虑。总体上来讲应该是不该有的光出现了，这就是杂散光。杂散光是分光光度计的关键性技术指标，它是分析误差的主要来源，它
西安光机所研制出国内口径最大杂散光测试系统
近日，中科院西安光学精密机械研究所研制出大口径三波段点源透过率杂散光测试系统并通过验收。科研人员攻克了大口径主镜接近超光滑表面的加工、基于计算机辅助装调技术、大口径离轴平行光管装调等多个技术难点。 专家鉴定认为，该测试系统的特点是测试波段覆盖广、测量口径大，为目前国内测量口径最大的杂散光测试设
如何降低分光光度计的杂散光？
可以通过以下方法降低分光光度计的杂散光：一、仪器设计与制造方面优化光学系统：采用高质量的光学元件，如光栅、棱镜等，具有高的光学纯度和低的散射特性。精确的光学加工和镀膜技术可以减少表面反射和散射，从而降低杂散光。设计合理的光路结构，避免不必要的反射和散射路径。例如，采用双光束或多光束设计，可以减少杂散
杂散光光纤光谱仪的优点在于哪里？
杂散光光纤光谱仪是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的一种技术。光谱测量被广泛应用于多种领域，如颜色测量、化学成份的浓度检测或电磁辐射分析等。杂散光光纤光谱仪一般都包括入射狭缝、准直镜、色散元件（光栅或棱镜）、聚焦光学系统和探测器。而在单色仪中通常还包括出射狭缝，让整个光谱中一个很窄的部分照射到
低杂散光和优秀的处理能力的光谱仪
具有低杂散光和优秀的处理能力的光谱仪海洋光学的微型光谱仪Torus崭新上市.该光谱仪在可见光范围内(360-825nm) 具有低杂散光(400nm处 0.015%) 效应及良好的颜色测量效果, 提高了低照度下测量的灵敏度和处理效果.Torus具有优秀的热稳定性, 其表现可媲美科研级光谱仪
紫外光度计杂散光与分析测试误差的关系
杂散光对紫外可见分光光度计分析测试误差的影响可分成两种类型。第一种是杂散光的波长与测试波长相同；它是由于测试波长因为某些原因而偏离正常光路，在不通过试样的情况下，直接照射到光电转换器上。引起这种杂散光的原因，大多是由于光学元件、机械零件的反射和漫反射所引起。这种杂散光可以通过一个对测试波长不透明的样
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
如何测试紫外可见分光光度计杂散光
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小
分光光度计的杂散光来源有哪些？
可以通过以下方法减少分光光度计的漏光现象：一、仪器设计与制造方面优化光学系统设计：在分光光度计的设计阶段，应采用合理的光学布局，尽量减少光在传输过程中的散射和反射。例如，使用高质量的反射镜和透镜，确保光的传输路径清晰明确，减少不必要的反射和散射。对于关键的光学部件，如光栅、狭缝等，应进行精确的加工和
紫外可见分光光度计杂散光的来源
紫外可见分光光度计杂散光的来源紫外可见分光光度计产生杂散光的因很多，其最主要的原因大致有以下9个方面：①灰尘沾污光学元件（如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等）；②光学元件被损伤，或光学元件产生的其他缺陷（如光栅、透镜和反射镜、棱镜材料中的气泡等）；③准直系约部或有关隔板边缘的反射；④光学系统或检测
如何测试紫外可见分光光度计杂散光
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即
杂散光被测波段及测试点数量的选择
W．Slavin认为：杂散光通常在紫外区，但实际上应测量整个光谱区的两个端点的杂散光才能说明问题。日本岛津公司对许多紫外可见分光光度计杂散光的测试，都只测量340nm和220nm两点；而美国Beckman对DU-8B紫外可见分光度计杂散光的测试时，则测量220nm、340nm、370nm、680nm
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号
紫外可见分光光度计杂散光的定义
摘要：目前，国际上有很多制造和使用紫外可见分光光度计的科技工作者，都很重视杂散光，他们对杂散光的定义各异。下面介绍几种比较简洁的杂散光的定义。 紫外可见分光光度计杂散光的定义 目前，国际上有很多制造和使用紫外可见分光光度计的科技工作者，都很重视杂散光，他们对杂散光的定义各异。下面介绍几种比较简洁
紫外可见分光光度计杂散光测试步骤
据了解，有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光，不测试340nm处的杂散光，这样是不正确的，需测试220nm处杂散光是因为：①根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；②根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小