Antpedia LOGO WIKI资讯

紫外可见分光光度计测试杂散光

根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小,容易显现杂散光。 因此,紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光。因为根据仪器学理论中的光电发射理论,光电倍增管在220nm处的光谱响应(灵敏度)低,容易显现杂散光。而测试340nm处杂散光的原因是完全不同的,因为340nm处一般是氘灯换钨灯和仪器调换滤光片的地方,此时zui容易产生杂散光。 所以,对于紫外可见分光光度计来讲,应该测试220nm和340nm两处的杂散光。紫外可见分光光度计杂散光测试步骤,首先将参比液注入配对石英石吸收池,分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。将减光片插入试样光路的滤光片槽内,其读数即为减光片的衰减值K,然后将减光片插入参......阅读全文

紫外可见分光光度计测试杂散光

根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小,容易显现杂散光。 因此,紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散

紫外可见分光光度计杂散光测试步骤

  据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号

紫外可见分光光度计杂散光测试步骤

据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小

紫外可见分光光度计杂散光测试步骤

据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小

紫外可见分光光度计杂散光测试步骤

据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小

如何测试紫外可见分光光度计杂散光

据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小

如何测试紫外可见分光光度计杂散光

    据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即

紫外可见分光光度计杂散光测试步骤

  据了解,有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号

紫外可见分光光度计杂散光的测试材料

摘要:杂散光的测试材料中,可分为滤光片和滤光液两种。滤光片又分为带通滤光液和截止滤光片两种。滤光液则有很多种,如丙酮、Nal、NaBr. KCI (12g/l). NaN02等。 杂散光的测试材料中,可分为滤光片和滤光液两种。滤光片又分为带通滤光液和截止滤光片两种。滤光液则有很多种,如丙酮、Na

紫外可见分光光度计杂散光的测试方法

摘要:国内外的紫外可见分光光度计研制者和使用者们,在杂散光的测试工作中,最常用的测试方法是所谓“截止滤光法” (The CutOff Filter Method),或称作“滤光片法” (The Filter Method)。 目前,国内外的紫外可见分光光度计研制者和使用者们,在杂散光的测试工作中