轻元素EDXRF分析技术研究及应用
轻元素(这里主要是指原子序数12~20之间的元素,如Al、Si、S、K、Ca等元素)是很多工业原料中元素分析的必测成分,它们有可能是有益元素也有可能是有害元素。在工业生产流程中,对于轻元素测量的准确度、精确度以及测量速度都提出了很高的要求。近年来EDXRF分析方法越来越广泛地应用于工业领域的元素分析,该分析方法具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠、易于实现自动化及在线分析等优点。但是由于轻元素特征X射线能量低、荧光产额低,激发、探测效率很低,同时由于轻元素间的K系谱线能量十分接近,基体效应影响严重等原因,大大限制了EDXRF分析技术在轻元素定性定量分析上的应用。本项研究源自国家“863”计划项目“海底原位X射线探针分析系统研制”,开展EDXRF分析技术对轻元素(主要是S、K、Ca)的分析研究,探讨轻元素测量的最佳实验条件,对S元素的检出限进行了测定,同时对不同样品中的S、K、Ca元素进行了定量分析,以此促进EDXRF技术在工......阅读全文
表面分析技术的特征比较
表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚焦成细小的高
表面分析的分析方法
表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚焦成细小的高
帕纳科推出新型台式能量色散X射线光谱仪――Epsilon－3
帕纳科公司新型Epsilon 3台式能量色散X射线荧光光谱仪，从此建立了能谱仪(EDXRF)新的性能标准! 帕纳科公司新推出的Epsilon 3 台式能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱仪--挑战传统，其性能超过了预期水平。新型Epsilon 3和Epsilon 3 XL光谱仪能够
首颗大气99.9％为氧气的白矮星“现身”
巴西和德国天文学家发现了一颗迄今独一无二的白矮星，其大气层99.9%为氧气，而绝大多数白矮星的大气层由氢和氦等轻元素构成。它是已知第一颗大气层几乎为纯氧的恒星，挑战了现有的恒星演化理论，或将有助科学家们更透彻地洞悉恒星进化的秘密。研究报告发表在最新一期的《科学》杂志上。 当恒星的燃料耗尽，开
电子探针的功能和应用特点
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
电子探针的功能介绍
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线
如何选择X射线荧光分析仪的探测器？
真正评估一款分析仪是否合适，是了解它可以为您想要检测的元素提供怎样的分析结果。首先要从探测器上进行选择： X射线荧光分析仪的探测器类型：PIN还是SDD 手持式XRF分析仪有两种类型的探测器：PIN和SDD。PIN探测器是一种较为落后的技术，与SDD(硅漂移探测器)相比，价格更便宜，不过，其
您的手持式XRF分析仪需要哪种探测器？
在购买手持式XRF分析仪时，确定需要硅漂移探测器（SDD）还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。 奥林巴斯Vanta Element XRF系列中的两款分析仪就配备了两种不同的探测器：Vanta Element分析仪装配有PIN探测器，而Vanta Element-S分析仪装配有SDD探测器。
表面分析的基本内容
biaomian fenxi 表面分析 surface analysis 对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的 材料物理试验。表面分析方法有数十种，常用的有离子 探针、 俄歇电子能谱分析和 X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能 电子衍射
日本研究小组宣布铁合金纵波测速可知地球液态外核缺碳
日本理化学研究所放射光科学综合研究中心的中岛阳一特别研究员，与东京工业大学地球生命研究所广濑敬教授的联合研究小组日前宣布，他们通过在70万个大气压、2800开尔文（K）的超高压高温条件下测量出液态铁合金的纵波速度，从而发现地球的液态外核碳极度缺乏。 地球中心是半径为3500公里的金属
环境分析仪的特点
◆速度快，操作简单 “开机启动-瞄准发射-察看结果”，整个分析过程仅需数秒便可完成 ◆特殊构造采用坚韧的塑料密封外壳，重量轻，坚固耐用；密封式设计，防尘、防水、防腐蚀，可在任何地方安全使用 ◆无损检测与破坏性检测方法不同，样品在整个测试过程中无任何损坏 ◆最优化应用高性能X射线探测器选项，
ROHS分析仪的技术标准
检测方法-能量散射X荧光光谱分析 重量-净重1.19 kg，上电池后1.6 kg X光管-X-射线管, W正极, 10-40 kV, 10–50mA, 6个滤光片位置和5个滤光片 检测器-Si-PiN二极管检测器, 5.95 keV Mn的K-alpha谱线 < 230 eV FWHM，
手持式合金分析仪使用前的检查及校准
手持式合金分析仪使用前的检查及校准 手持式合金分析仪的特点 快速检测，操作简单。从检测点到扣扳机，几秒钟即可显示检测数据。 特别定制。坚固密封的外部结s，仪器外部使用坚固的莱克桑（LEXAN）工程塑料和接近1.53公斤的重量，适合在任何地方使用，真正的防尘和防水。 无损
开创性研究揭示火星内核组成
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/4/499573.shtm一位艺术家描绘的火星内部结构以及地震波穿过火星核心时所经过的路径。图片来源：美国国家航空航天局喷气推进实验室和论文合著者之一、马里兰大学地质学教授尼古拉斯·施默尔据发表在最新一期《美国
X射线荧光光谱法的优点有哪些？
与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于进行无损分析等。其次，与原子发射光谱法相比,除轻
质子激发X射线荧光分析的非真空分析技术
质子X 射线荧光分析一般在真空中照射样品（称作真空分析或内束技术），但也发展了一种非真空分析技术（或称外束技术），即将质子束从真空室中引出，在空气（或氦气）中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷（质子电荷）而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积
微区X射线光谱分析仪的分析应用
电子探针全称电子探针X 射线显微分析仪，又称微区X射线光谱分析仪，是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，英文简称为EPMA。 可用来分析薄片中矿物微区的化学组成，分析对象是固体物质表面细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，
ACCULIBS2500一体化激光诱导击穿光谱仪
海洋光学出品的ACCULIBS2500一体化激光诱导击穿光谱仪是适用于环境，材料，生化和艺术品鉴定领域的实时，多元素分析设备。得益于样品平台和保护气体的自动控制系统，ACCULIBS2500+可以轻松实现对含轻元素（原子序数≤12）的固态样品进行不同位置，甚至不同深度的元素成分分析，还可以自动进行目
矿石分析仪对矿石开采的相关介绍
1、对矿石交易、决策提供理论依据； 2、在露天矿场对钻孔样本进行即时筛检，从而在搬运矿石/废料方面提高了效率； 3、对储矿堆的现场分析有助于为工厂迅速配料和给料； 4、对于进料、精矿、尾料的实时分析，使得在处理厂内就可以对材料的配量随时进行调整； 5、在矿场应用中，通常需要对具体的样本和
什么是同位素丰度？
一种元素的同位素混合物中，某特定同位素的原子数与该元素的总原子数之比值。常以原子百分数表示。例如，水中氢由氘和氢两种原子组成，天然水中的氘同位素浓度为0.015%，表示氘原子数在整个氢中占0.015%，氢原子数则占99.985%。某元素的同位素丰度一般是固定的，可是用非常准确的同位素分析法发现，元素
能量色散X荧光光谱仪性能特点
超薄窗X光管,指标达到先进水平采用数字多道技术,可以达到超高计数率,提高测试效率和精度SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率、峰背比和能谱特性低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证仪器工作的一致性高信噪比的电子线
射频辉光放电质谱仪简介
射频辉光放电质谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2015年6月17日启用。 技术指标 可测元素：元素周期表中除氢（H）外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C、N、O、P、S等轻元素 最低检出限：优于100ppt； 分辨率：优于4000； 分析速度：快速，一次可给出多量、少量、痕量及
通过扫描电镜打出的能谱数据该怎么分析？
能谱分析报告单一般如上图，我用彩框进行了一下分区。以下：1. 元素种类2. 元素序号3. 非归一化质量分数(元素质量分数之和不是100%)4. 归一化质量分数(元素质量分数之和换算成百分比)5. 原子比，这个一般用来判定成分，如我图中氧镁炭比例为3:1:1，大致推断出该未知粉末主要成分为碳酸镁。6.
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
俄歇电子能谱学（Auger－electron－spectroscopy），简称AES
俄歇电子能谱基本原理：入射电子束和物质作用，可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征X射线，也可能又使核外另一电子激发成为自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征X射线或俄歇电子。原子序
为什么扫描电子显微镜的分辨率和信号的种类有关
扫描电子显微镜的分辨率和信号种类有关？试将各种信号的分辨率高低作一比较。答:扫描电子显微镜的分辨率和信号种类是有关的.具体比较如下表:信号 二次电子 背散射电子 吸收电子 特征x射线 俄歇电子分辨率 5-10 50-200 100-1000 100-1000 5-10二次电子和俄歇电子的分辨率最高,
激光诱导击穿光谱仪技术参数
元素测量范围原子序数Z>=1 (包括C, H, O等有机元素，以及N, Li, Be, B等轻元素，以及几乎所有金属、非金属元素)浓度范围10ppm至%级别（取决于元素及仪器配置）分析时间一般20s左右样品形态固体或粉末（粉末需要压片后测量）。直接测量，无需特别的样品制备样品放置及定位XYZ三轴可自
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
X射线光谱仪的吸收效应和增强效应
吸收效应和增强效应，曲线a表示氢元素中重元素的X射线和含量的关系，种元素的分析光谱受轻元素发生的吸收效应较小，所以在低含量范围，重元素的X射线强度随含量的增加而迅速上升，重元素含量很高以后曲线的斜率就变小了；曲线b时分析由原子序数相近的元素所构成的样品时所得到曲线，待测元素自身吸收稍大于其他共存