轻元素EDXRF分析技术研究及应用
轻元素(这里主要是指原子序数12~20之间的元素,如Al、Si、S、K、Ca等元素)是很多工业原料中元素分析的必测成分,它们有可能是有益元素也有可能是有害元素。在工业生产流程中,对于轻元素测量的准确度、精确度以及测量速度都提出了很高的要求。近年来EDXRF分析方法越来越广泛地应用于工业领域的元素分析,该分析方法具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠、易于实现自动化及在线分析等优点。但是由于轻元素特征X射线能量低、荧光产额低,激发、探测效率很低,同时由于轻元素间的K系谱线能量十分接近,基体效应影响严重等原因,大大限制了EDXRF分析技术在轻元素定性定量分析上的应用。本项研究源自国家“863”计划项目“海底原位X射线探针分析系统研制”,开展EDXRF分析技术对轻元素(主要是S、K、Ca)的分析研究,探讨轻元素测量的最佳实验条件,对S元素的检出限进行了测定,同时对不同样品中的S、K、Ca元素进行了定量分析,以此促进EDXRF技术在工......阅读全文
对俄歇电子能谱仪的定性分析
通过正确测定和解释AES的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息，能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等多种情报。 定性分析 定性分析主要是利用俄歇电子的特征能量值来确定固体表面的元素组成。能量的确定在积分谱中是指扣除背底后谱峰的最大值，在微分谱中通常规定负峰对应的能量值。
两种类别的X－射线荧光光谱的区别在哪
X 射线荧光 (XRF) 光谱测定是一种无损式分析技术，可用于获取不同类型材料的元素信息。 它已在许多行业和应用领域中得到广泛运用，包括：水泥生产、玻璃生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、石油和石化、聚合物及相关行业、制药、保健产品和环保。 光谱仪系统通常分为两大类：波长色散式系统 (WDXRF) 和
辉光放电质谱仪的应用范围
辉光放电质谱法作为一种固体样品的直接分析方法，被认为是目前为止唯一的同时具有最广泛的分析元素范围和足够灵敏度的元素分析方法，已成为固体材料多元素分析尤其是高纯材料分析的强有力的工具。直接对固体进行分析避免了将固体转化成溶液时因在溶解、稀释等过程中造成的玷污和灵敏度降低，而且该方法对样品的分析
RoHS指令的检测方法
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式(手持式)ROHS检测仪检测，能通过的就算合格
RoHS指令的检测方法
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式(手持式)ROHS检测仪检测，能通过的就算合
电子能谱仪的分类
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。光电子能谱仪光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样品成分的信息。试
牛津仪器超级能谱仪
近日，牛津仪器成功为西安交大、上海科技大学、中国科技大学、华为4家单位安装调试了最新的超级能谱仪Extreme，取得到了客户的一致好评。 Extreme超级能谱仪拥有独到的设计，可以满足在极低加速电压下工作的需要，实现10nm左右空间分辨率的能力，是纳米材料、薄膜材料分析的利器。 同
X荧光光谱仪的分类介绍
X荧光光谱仪可分为能量色散（EDXRF）和波长色散(WDXRF)两大类，随后将详细介绍。可分析的元素及检测限主要取决于所用的光谱仪系统。EDXRF分析的元素从Na到U；WDXRF分析的元素从Be到U。浓度范围从ppm到100％。通常重元素的检测限优于轻元素。
能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。
俄歇电子能谱分析的特点
横向分辨率取决于入射束斑大小；俄歇电子来自浅层表面(电子平均自由程决定)，其信息深度为1.0-3.0nm；检测极限可达10-3单原子层（可以有效的用来研究固体表面的化学吸附和化学反应）；并且其能谱的能量位置固定，容易分析；适用于轻元素的分析
X荧光光谱仪分类及比较
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
手持式合金分析仪的特点是什么？
特点 ——便携、高效、准确可以在质量控制、材料分类、合金鉴别、事故调查等现场应用。 ——选配小点瞄准模式，可检测被检测面积较小的样品，如：焊点、焊缝。 ——高性能硅漂（SDD）探测器（25平方毫米），即可分析Mg、Al、Si、P等轻元素。 可分析元素分析范围 一般可以分析的元素范围为N
值得收藏！一文了解XRF前世今生及主流产品
主要厂商及产品XRF中便携式X射线荧光是主要类型，约占40%。本文对主要手持式 XRF产品（均为EDXRF）制造商及拳头产品进行总结，以供读者参考。更多XRF产品的介绍请见续篇。品牌型号特点赛默飞Niton™ XL5 Plus2021年发布，重2.8磅，1~2秒牌号鉴别，可靠的元素分析（包括轻元素）
详细解析X荧光光谱仪的物理原理
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画
电子能谱仪的分类介绍
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。 光电子能谱仪 光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样品成
关于电子能谱仪的分类介绍
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。 1、光电子能谱仪 光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样
电子能量损失谱由哪几部分组成？
EELS和HREELS是不同的系统。前者一般配合高分辨透射电镜使用，而且最好是场发射枪和能量过滤器。一般分辨率能达到0.1eV－1eV，主要用于得到元素的含量，尤其是轻元素的含量。而且能够轻易得到相应样品区域的厚度。而HREELS是一种高真空的单独设备，可以研究气体分子在固体表面的吸附和解离状态。
离子探针分析仪特点
离子探针分析仪有以下几个特点：1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。4. 可作同位素
请问离子探针分析仪有哪些特点？
SISM有以下几个特点： 1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。 2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。 3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。 4
电子能量损失谱由哪几部分组成？
电子能量损失谱由哪几部分组成？EELS和HREELS是不同的系统。前者一般配合高分辨透射电镜使用，而且最好是场发射枪和能量过滤器。一般分辨率能达到0.1eV－1eV，主要用于得到元素的含量，尤其是轻元素的含量。而且能够轻易得到相应样品区域的厚度。而HREELS是一种高真空的单独设备，可以研究气体分子
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
设备更新指南丨布鲁克X射线荧光光谱仪系列
多种应用场景：未知样品成分分析、材料研究、地质环境、艺术考古、生命科学高分辨率微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO超轻元素X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS高性能开放式X射线荧光光谱仪M6 JETSTREAM紧凑型便携台式X射线荧光光谱仪CTX高性能全反射X射线荧光光谱仪S4
散裂中子源出束记：小中子有大能量
8月底的一个上午，在广东东莞国家大科学工程——中国散裂中子源靶站谱仪控制室中，工程总指挥兼工程经理陈和生发出指令，从加速器引出的质子束流首次打向金属钨靶。 一眨眼的功夫不到，科研人员便从6号和20号中子束线测量到两个慢化器输出的中子能谱，散裂中子源顺利获得中子束流。至此，中国首个散裂中子源主
X荧光光谱仪XRF的性能特点和技术优势
X荧光光谱仪XRF是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体
X射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
X射线波谱仪的基本信息介绍
X射线波谱仪的特点是分辨率高，通常为5—10eV，且可在室温下工作，因此分析的精度高而检测极限低。此外，根据布拉格定理2dsinθ=λ，采用晶面间距d大的分光晶体，可以分析标识X射线波长为λ的硼、碳、氮、氧等轻元素。但是X射线波谱仪也有其局限性，它的分光晶体接受X射线的立体角小，X射线的利用率低
稳定同位素有哪些用途
大多数元素是其同位素的混合物，将其彼此分离（或部分分离）是一种特殊的精密分离──同位素分离。其中氘、锂 6是重要的核燃料。各种纯的稳定同位素成为核物理学和核化学研究的材料。氢、氮、碳、氧、硫等轻元素的稳定同位素则广泛作为示踪原子，用于研究化学和生物化学的各种过程和机理，以及分子的微观结构与性质的关系
手持光谱仪的使用详解
手持光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线和原子发生碰撞的时候，驱逐出一个内层的电子从而出现一个空穴，让整个原子体系处于不稳定状态，当较外层的电子跃迁到空穴时，产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收从而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应，
X射线荧光光谱法的展望
X射线荧光光谱法 X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（
X荧光仪的主要功能
主要功能 分析范围： Be -U 较小的占地面积 微区分析 上照设计 30 μm超薄窗 Mapping: 元素分布 He 密封:样品室一直在真空环境中 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高