X射线能谱仪分析的基本原理
X射线能谱仪为扫描电镜附件，其原理为电子枪发射的高能电子由电子光学系统中的两级电磁透镜聚焦成很细的电子束来激发样品室中的样品，从而产生背散射电子、二次电子、俄歇电子、吸收电子、透射电子、X射线和阴极荧光等多种信息。若X射线光子由Si（Li）探测器接收后给出电脉冲讯号，由于X射线光子能量不同（对某一元素能量为一不变量）经过放大整形后送入多道脉冲分析器，通过显像管就可以观察按照特征X射线能量展开的图谱。一定能量上的图谱表示一定元素，图谱上峰的高低反映样品中元素的含量（量子的数目）。......阅读全文
X射线光电子能谱仪的主要用途
XPS：固体样品的表面组成分析，化学状态分析，取样讯息深度为～10nm以内. 功能包括:1. 表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯.2. 维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析（角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式）3. 线扫瞄或面扫瞄
黄金首饰的鉴定（X射线能谱仪应用之一）
黄金首饰的鉴定（Ｘ射线能谱仪应用之一）山东工业大学侯绪荣，曹丽敏，费振义利用ｘ射线能谱仪定量测定黄金首饰成分，选择合理测试参数，经多次测定取其平均值而获得其成分，并借助改变加速电压，判断成分波动范围的合理性。
X射线能谱仪分析元素时对计数率的选择
用X射线能谱仪分析元素时,应该选择合适的计数率才能获得所需的准确性。本文对能谱仪分析元素的基本原理及选择高计数率时所引起元素分析的误差做了论述。
X射线光电子能谱仪的主要用途
XPS：固体样品的表面组成分析，化学状态分析，取样讯息深度为～10nm以内. 功能包括:1. 表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯。2. 维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析（角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式）3. 线扫描或面扫描
关于X射线光电子能谱仪的基本用途介绍
X射线光电子能谱仪的用途：固体样品的表面组成分析，化学状态分析，取样讯息深度为～10nm以内. 功能包括: 1. 表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯。 2. 维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析（角分辨方式,,氩离子或团簇离子
X射线能谱仪的发展及对矿物学的影响
在伦琴发现X射线的早些年代里,不同能量的X射线是根据它们的穿透物质的能力来区分的。布拉格利用晶体衍射把不同波长的X射线区分开。莫塞莱利用此种方法得到了许多X射线谱,此种方法至今仍用于X射线的测量及研究。无论使用何种方法对X射线进行测量,都需要一个合适的X射线探测器。最早的探测器为盖格计数管,后改用正
X射线能谱仪的能谱分析中出现的假峰是什么情况？
分析某些元素时可能会出现和峰，和峰的出现会造成和峰附近的背底变形，如果与其他峰出现重叠，计算结果时即使扣除背底也不能得到满意的结果。此时，需要改变采谱条件，减少计数率，减小和峰对背底的影响，避免和峰的出现。计数率可通过改变束流、更换光阑、调节探测器与样品间的距离等措施来调节。 逃逸峰是探测器在
X射线晶体谱仪研发获进展
近期，中国科学院近代物理研究所原子物理中心科研人员自主研发了用于内壳多空穴离子X射线精细结构测量的宽带高分辨晶体谱仪，相关成果于4月3日发表在光谱学期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析内壳多空穴离子的X射线精细结构不仅是研究量子电
HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究
采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。
X射线光电子能谱（XPS）的简介
XPS是重要的表面分析技术之一，是由瑞典Kai M. Siegbahn教授领导的研究小组创立的，并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪，1981 年，研制出高分辨率电子能谱仪。他在1981年获得了诺贝尔物理学奖。
X射线光电子能谱应用领域
主要用途：1.表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯.2.维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析(角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式)3.线扫瞄或面扫瞄以得到线或面上的元素或化学态分布.4.成像功能.5.可进行样品的原位处理 AES:1
软X射线能谱测试Ross滤片对设计
为获得“阳”加速器上Z箍缩等离子体软X射线辐射谱,设计了一套6通道的软X射线能谱仪,谱仪范围0.1keV-1.5keV,采用Ross滤片差分法。文中介绍了测量箍缩软X射线能谱的Ross滤片对的设计,并从理论上计算了对应“阳”加速器上等离子温度为20eV的黑体辐射谱时,PIN探头的输出电流,从计算结果
用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度
本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和
X射线能谱数据采集卡的PCI改造
本文利用PCI接口芯片PCI9052,结合CPLD技术,成功地将基于ISA总线的X射线能谱数据采集卡改造为PCI总线模式,并详细介绍了PCI接口芯片PCI9052的硬件连接、译码和配置方法,以及应用DriverWorks进行WDM驱动程序开发的过程。
基于DSP的X射线能谱数据采集系统设计
在此以X射线透射衰减规律为基础,设计出基于DSP的X射线能谱数据采集系统。重点介绍用于能谱数据采集的硬件电路和软件设计,其中,硬件电路主要由前置放大、滤波、主放大、峰值保持电路组成,软件主要由TMS320F2812对经过预处理后的脉冲信号进行多道脉冲幅度分析操作,并最终绘制出X射线能谱图。本系统具有
用X射线能谱研究金基六元合金
利用Ｘ射线能谱（ＥＤＳ）和透射电子显微术（ＴＥＭ）等手段研究了Ａｕ－Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｒ－Ｉｎ－Ｚｒ合金的显微组织。研究结果表明，合金主要由Ａｕ基固溶体和Ｎｉ基固溶体组成。此外还有两种第二相粒子，一种粒子（命名为η相）含Ｃｒ量为９０ａｔ％，属简单正交结构，ａ＝０．４４８ｎｍ，ｂ＝１．４０ｎｍ，ｃ＝１．２
X射线光电子能谱法的简介
中文名称X射线光电子能谱法英文名称X-ray photoelectron spectroscopy，XPS定 义以单色X射线为光源，测量并研究光电离过程发射出的光电子能量及相关特征的方法。能够给出原子内壳层及价带中各占据轨道电子结合能和电离能的精确数值。应用学科材料科学技术（一级学科），材料科学技
脉冲硬X射线能谱软化方法数值分析
基于轫致辐射原理,提出了通过轫致辐射靶优化设计软化脉冲硬X射线能谱的方法。采用MCNP程序模拟了复合薄靶和反射靶的输出参数,分析了复合薄靶中转化靶和电子吸收材料厚度对脉冲硬X射线能谱、转换效率以及透射电子份额的影响;给出了反射靶透射和反射X射线能谱、转换效率的差异及其随电子入射角度的变化规律。根据模
激光等离子体X射线能谱的测量
分别用K边滤波和滤波-荧光法测量了激光等离子体发射的1.5—100keV的X射线连续谱。文中叙述了激光等离子体X射线能谱的测量方法和多道X射线能谱仪,介绍了激光聚变实验结果。
高能X射线能谱测量中衰减材料特性影响
基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量,采用蒙特卡罗成像模拟的方法研究衰减材料选择对能谱准确稳定重建的影响。设计多孔准直模型模拟X射线穿过不同衰减材料的透射过程,并在单次成像中获得完整的衰减透射率曲线。由衰减透射率求解能谱是一种病态条件问题,采用改进的迭代扰动法进行解谱,计算时考虑透射率计算值与真实值
腔靶软X射线能谱结构的实验研究
叙述了利用双狭缝透射光栅谱仪,在高功率激光物理联合实验室神光装置上,对腔靶不同位置的能谱进行诊断,给出了腔靶源区能谱的空间分布和爆区的能谱结构,为腔靶辐射场的研究提供了重要信息。
利用深度剂量数据重建放射治疗X射线能谱
利用深度剂量测量数据重建放射治疗X射线能谱,并对重建方法进行评价。先用Monte-Carlo模拟计算60个单能光子束的深度剂量分布作为基函数,然后使用Cimmino迭代法对测量的深度剂量进行线性拟合,得到相应射野每个单能光子束对测量深度剂量的贡献权重,即放射治疗所用的轫致辐射X射线的相对能谱。考虑机
关于x射线光电子能谱的简介
以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。 处于原子内壳层的电子结合能较高，要把它打出来需要能量较高的光子，以镁或铝作为阳极材料的X射线源得到的光子能量分别为1253.6ev和1486.6ev，此范围内的光子能量足以把不太重的原子的1s电子打出来。周期表上第二周期中原子的1s电子的
X射线光电子能谱学
X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用于测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X
X射线光电子能谱仪和样品制备
XPS仪由X射线激发源、样品台、电子能量分析器、检测器系统、超高真空系统等部分组成。X射线源：在目前的商品仪器中，一般采用Al/Mg双阳极X射线源。常用的激发源有Mg Ka X射线，光子能量为1253.6 eV和Al Ka X射线，光子能量为1486.6 eV。电子能量分析器：电子能量分析器是XPS
X射线能谱分析
能量色散谱仪(EDS)原来是一种核物理分析设备。由于半导体检测器制造和微信号低噪声电子学技术的进步,EDS的分辨率(谱线半高宽)由60年代的300ev提高到70年代的150ev,能对Al、Si这类较轻的元素的X射线谱作出明确的鉴别,因此从70年代开始,EDS被大量地用作荧光X射线分析和组装到扫描电镜
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
能谱干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
在各种探测器结合脉冲幅度分析器使用时，对一定波长的谱线，将产生具有平均脉冲幅度正比于光子能量的脉冲幅度分布。这种脉冲幅度分布的能谱干扰，不只是来自激发源、样品成光路中的干扰线，也可能来自计数器的逃逸峰在气体探测器中，决定于所充的情性气体种类（Ar、Kr或Xe等）及其能量分辨率；闪烁探测器则决定于
关于X射线光电子能谱仪的基本信息介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
X射线能谱仪表征能用原子吸收光谱仪代替吗
x射线 0.01-10nm波长比原子吸收光谱仪用的射线要小很多,原子吸收用到的波长200nm以下的很少了,没几个元素,一般在200-800之间