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用X射线能谱仪分析元素时,应该选择合适的计数率才能获得所需的准确性。本文对能谱仪分析元素的基本原理及选择高计数率时所引起元素分析的误差做了论述。 ......阅读全文
分析测试百科网讯 2017年8月21日，牛津仪器在宜昌万达皇冠假日酒店举办2017年纳米分析技术论坛，吸引了来自高校、研究院所、半导体公司、钢铁企业等近270位研究和技术人员参与，展现了牛津仪器在纳米分析领域的最新分析技术及应用进展。牛津仪器纳米分析技术论坛 牛津仪器纳米分析部全球销售和服务总
拉曼光谱的原理及应用 拉曼光谱由于近几年来以下几项技术的集中发展而有了更广泛的应用。这些技术是：CCD检测系统在近红外区域的高灵敏性，体积小而功率大的二极管激光器，与激发激光及信号过滤整合的光纤探头。这些产品连同高口径短焦距的分光光度计，提供了低荧光本底而高质量的拉曼光谱以及体积小、容易使用的
在我们日常的材料分析研究中，扫描电子显微镜是最常用的仪器之一。相对于普通的光学显微镜，电子显微镜具有分辨率高，放大倍率宽，图像景深好，样品制备简单等特点，在生物，材料，环境等学科中有着广泛的应用。一、扫描电镜的基本结构扫描电镜，左面为镜筒和样品室，右面室是成像和记录系统，两部分是由同步扫描发生器和信
EDS元素分析一、实验目的 1.了解能谱仪（EDS）的结构和工作原理。 2.掌握能谱仪（EDS）的分析方法、特点及应用。 二、实验原理 在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材料中感兴趣部位的
EDS元素分析 一、实验目的 1.了解能谱仪（EDS）的结构和工作原理。 2.掌握能谱仪（EDS）的分析方法、特点及应用。 二、实验原理 在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材料中感兴趣部位的化学成分进行点分析、面分析、线分析。
X射线谱仪简介编辑X射线谱仪设计有20路探测器，是此次载荷中探测器路数最多的系统，为有效预防多路探测器之间相互干扰，在硬/软件设计中还专门设计了“隔离”探测器单元功能及对太阳监测器计数率的调阈指令，以提高探测器在轨长期工作的可靠性 [1] 。X射线谱仪指向月面，由16
Thermo Scientific QuasOr 电子背散射衍射【品牌】赛默飞【型号】Thermo Scientific QuasOr电子背散射衍射EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析，特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化综合分析时，其渐已成
Thermo Scientific QuasOr 电子背散射衍射【品牌】赛默飞【型号】Thermo Scientific QuasOr电子背散射衍射EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析，特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化综合分析时，其渐已成
分析测试百科网讯 今天，科技部发布了《“重大科学仪器设备开发”重点专项2016年度申报指南》，详情如下。 附1：申报相关要求和规定 附2：“重大科学仪器设备开发”重点专项2016年度申报指南 科学仪器设备是科学研究和技术创新的基石，是经济社会发展和国防安全的重要保障。为
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁 分析
工作原理分析由莫塞莱定律可知，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，并满足以下关系：通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含有的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，即:就能进行电子探针的定量分析。 当然利用电子束激发的X射线进行元
2013年10月23-26日，两年一届的BCEIA盛会在北京展览馆顺利召开。天美公司携众多新品精彩亮相，并于展会现场为FS5荧光光谱仪举行新品揭幕仪式。展台观众络绎不绝，天美公司现场工作人员也热情接待前来参观者， 现场气氛异常热闹。分析测试百科网作为特邀媒体之一参加了FS5
透射电子显微镜 (transmission electron microscopy﹐简写为TEM)。 构造原理 ： 电子显微镜的构造原理与光学显微镜相似﹐主要由照明系统和成像系统构成(图1 光学显微镜与电子显微镜的对比 )。照明系统包括电子枪和聚光镜。钨丝在真空中加热并在电场的作用下发射出电
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放
前言如果要分析材料微区成分元素种类与含量，往往有多种方法，其打能谱就是我们最常用的手段中打能谱。能谱具有操作简单、分析速度快以及结果直观等特点，最重要的是其价格相比于高大上的电镜来说更为低廉，因此能谱也成为了目前电镜的标配。今天新能源前线团队专门搜集了有关能谱（EDS）的各种问题，汇总成文，希望能给
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分析测试百科网讯 2015年10月27日第十六届北京分析测试学会报告会暨展览会（BCEIA）在北京国家会议中心开幕，布鲁克携多款新产品亮相。10月28日下午，布鲁克举行了BECIA2015布鲁克新品发布会，隆重推出了此次在BCEIA期间展出的新品。此次发布会，布鲁克邀请了包括分析测试百科网在内多
众所周知，热分析仪器可以和很多分析类仪器联用。比较常见的有：红外光谱（FTIR）、气相色谱（Gas Chromatography）、质谱（Mass Spectrometry）、显微镜等。通过和这些分析仪器联用可以弥补热分析仪器的一些局限性，更有效地分析样品的物理、化学特性。然而，在材料分析中，X射线
天津汇晶科技发展有限公司的杨新先生 来自天津汇晶科技发展有限公司的杨新先生介绍了《CAMSCAN扫描电镜最新技术》。Obducat Camscan 公司在扫描电子显微镜制造业享有盛誉，是现存历史最久
3、检测记录系统X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩（90%）和甲烷（10%）的混合气体，X射线射入管内，使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时，又引起其它Ar原子电离，雪崩式电离的结果，产生一脉冲信
分析测试百科网讯 2016年4月22-26日，2016全国表面分析应用技术学术交流会在古都西安召开。交流会由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会、中国科学院化学研究所、北京师范大学、北京化工大学、广东省表面分析专业
Q1:能谱的缩写是EDS还是EDX？ 开始的时候能谱的缩写有很多，比如EDS，EDX，EDAX等。ED就是Energy Dispersive，后面因为X-ray Analysis和Spectrum这几个词的不同用法，导致了缩写的不同。而且相应的汉译也有很多，比如能量色散谱，能量散射谱等等。不过
(三)X射线光电子能谱法的应用 (1)元素定性分析 各种元素都有它的特征的电子结合能，因此，在能谱图中就出现特征谱线，可以根据这些谱线在能谱图中的位置来鉴定周期表中除H和He以外的所有元素。通过对样品进行全扫描，在一次测定中就可以检出全部或大部分元素。 (2)元
配备X射线能谱仪的扫描电子显微镜不仅能够观察材料的微观形貌还可对微区成分进行分析，现已广泛应用于材料分析测试领域。提高能谱仪定量分析的准确度，是科学研究和工业生产的重要课题。本论文对能谱仪的物理基础、工作原理、定性分析、定量分析等方面进行了阐述，并围绕如何获得不锈钢标样定量分析的最佳工作条件以及提高
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样
【成分分析简介】 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量分析，鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助剂、特定成分及含量、异物等。 【成分分析分类】 按照对象和要求：微量样品分析 和 痕量成分分
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
一 X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er；其中：hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；