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随着探头制造技术水平的提高、电子学技术的发展,以及对脉冲处理技术和重叠峰处理方法的改进,能谱定量分析的精度得到不断提高。目前,对原子序数在11～30之间的常用元素,其分析精度大体上可以达到波长谱仪的水平。由于能谱定量分析的方法简单、操作方便,它既能进行大试样的平均成份分析,也能进行微粒、薄板、镀层、涂层和相分析,而且一般在3～5分钟内即可得出14种元素的分析结果,因此能谱分析技术发展迅速,有赶上或代替波长谱仪的趋势。......阅读全文
X荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信
用X光能否鉴定人体内的石状物体真的是钻石？先要了解什么是X光。 X射线的本质和光一样,是一种电磁辐射,它覆盖了从0.01nm到10nm的波段范围,对应的能量范围从125eV到125keV。通常我们把波长在0.001nm～0.1nm之间，能量较高的X射线称为硬X射线,；波长在0.1nm以上，能量
诺贝尔奖是以瑞典著名的化学家 阿尔弗雷德·贝恩哈德·诺贝尔的部分遗产（3100万瑞典克朗）作为基金在1900年创立的。该奖项授予世界上在物理、化学、生理学或医学、文学、和平和经济学六个领域对人类做出重大贡献的人，于1901年首次颁发，截止2016年共授予了881位个人和23个团体。今天我们将盘点
【成分分析简介】 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量分析，鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助剂、特定成分及含量、异物等。 【成分分析分类】 按照对象和要求：微量样品分析 和 痕量成分分
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
3、检测记录系统X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩（90%）和甲烷（10%）的混合气体，X射线射入管内，使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时，又引起其它Ar原子电离，雪崩式电离的结果，产生一脉冲信
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
能谱仪结构及工作原理 X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常称为X射线能谱分析法，简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被广泛使用。 1。特征X射线的产生 特征X射线的产生是入射电子使内层电子
能谱仪结构及工作原理 X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常称为X射线能谱分析法，简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被广泛使用。 1。特征X射线的产生 特征X射线的产生是入射电子使内层电子
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法
红外光谱样品制备 红外光谱是未知化合物结构鉴定的一种强有力的工具，尤其近几年来各种取样技术和联用技术的迅速发展，使得它成为分析化学应用中最广泛的仪器之一。 样品要求： 1、气体、液体（透明，糊状）、固体（粉末、粒状、片状…）。 气体样品：采用气体吸收池进行测试，吸收峰的强度可以通过调整气
红外光谱的原理及应用 (一)红外吸收光谱的定义及产生 分子的振动能量比转动能量大，当发生振动能级跃迁时，不可避免地伴随有转动能级的跃迁，所以无法测量纯粹的振动光谱，而只能得到分子的振动-转动光谱，这种光谱称为红外吸收光谱 红外吸收光谱也是一种分子吸收光谱。当样品受到频率连续变化的红外光照射
工作原理分析由莫塞莱定律可知，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，并满足以下关系：通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含有的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，即:就能进行电子探针的定量分析。 当然利用电子束激发的X射线进行元
拉曼光谱的原理及应用 拉曼光谱由于近几年来以下几项技术的集中发展而有了更广泛的应用。这些技术是：CCD检测系统在近红外区域的高灵敏性，体积小而功率大的二极管激光器，与激发激光及信号过滤整合的光纤探头。这些产品连同高口径短焦距的分光光度计，提供了低荧光本底而高质量的拉曼光谱以及体积小、容易使用的
众所周知，热分析仪器可以和很多分析类仪器联用。比较常见的有：红外光谱（FTIR）、气相色谱（Gas Chromatography）、质谱（Mass Spectrometry）、显微镜等。通过和这些分析仪器联用可以弥补热分析仪器的一些局限性，更有效地分析样品的物理、化学特性。然而，在材料分析中，X射线
X射线能谱分布在双能谱X射线计算层析(CT)成像、CT图像的硬化校正、CT成像的定量分析等方面起着重要的作用。传统的X射线能谱估计方法是通过直接测量X射线穿过不同厚度物质后的衰减数据,间接估计X射线的能谱分布。与传统方法相比,提出一种由已知结构模体的CT数据间接估计X射线能谱的方法。该方法的特点是:
(六)X射线仪器 1. X射线衍射仪 国外在X射线衍射仪方面的的技术发展很快。主要表现在新型探测器、模块化、分析软件的功能强化、先进的X射线光学器件等方面。 目前国外各衍射仪生产厂家纷纷研发配备新型高性能探测器，以确保高档仪器市场中的竞争地位。有的公司每不到两年就推出一种新仪器。
4 、误差范围我们要考虑热释光的精确度问题，对古剂量、年剂量影响的各种因素（灵敏度、非线性、饱和等），那么就不但需要精确确定天然放射性来源，而且应考虑陶器在历史上实际接受放射性照射条件，如含水量、氢逃逸等影响的因素。只有对上述各种因素作了正确测定和较正后，才有可能使其精确达到 10%&nb
(六)X射线仪器 1. X射线衍射仪 国外在X射线衍射仪方面的的技术发展很快。主要表现在新型探测器、模块化、分析软件的功能强化、先进的X射线光学器件等方面。 目前国外各衍射仪生产厂家纷纷研发配备新型高性能探测器，以确保高档仪器市场中的竞争地位。有的公司每不到两年就推出一种新
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放
1.电子探针谱仪分为能谱仪和波谱仪原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。适合分析材料:金属及
(三)X射线光电子能谱法的应用 (1)元素定性分析 各种元素都有它的特征的电子结合能，因此，在能谱图中就出现特征谱线，可以根据这些谱线在能谱图中的位置来鉴定周期表中除H和He以外的所有元素。通过对样品进行全扫描，在一次测定中就可以检出全部或大部分元素。 (2)元
1.美国Xenemetrix（能量色散） 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光
所有固体样品定量分析的方法都是利用一个已知成分的标样，在多数情况下，（尤其金属）纯元素是适用的。无论是样品还是标样，都是在相同的试验条件下检测的。测出的相对强度比k，必需很精确，否则任何定量分析方法均会造成相同的误差。假设k已
根据所采用的激发源的不同，电子能谱分析主要可分为以下两大类：一是以光电子能谱（简称PES）；二是电子束作激发源去照射样品，测量样品所发射出的俄歇电子能量，称为俄歇电子能谱（简称AES）。1、光电子能谱以一定能量的X射线或光（如紫外光）照射固体表面时，被束缚于原子各种深度的量子化能级上的电子被激发而产
表面分析方法表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析，其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚
仪器分析法根据被测量的物理和物理化学性质可分为以下几类：光学分析法电化学分析法色谱分析法质谱分析法热量分析法放射化学（又称活化）分析法分析化学是研究物质的化学组成，测定有关成分的含量以及鉴定物质化学结构的科学。随着科学技术的发展，分析化学分支为化学分析和仪器分析。其中化学分析是以化学反应为基础的分析
在X射线计算断层(CT)成像领域,多种应用需要准确的X射线能谱信息,包括双能谱CT图像重建、CT图像硬化校正、CT图像的定量分析等。然而,由于CT系统中X光机发出的射线流强很大,X射线源的能谱一般难以利用X射线光谱仪直接测量,更为常用的方法是利用不同厚度特定模体的透射数据,对X射线能谱进行间接估计。