多相体系银焊条的X射线能谱定量分析
稀土银焊条属多相体系,它由低含量微细稀土氧化物弥散分布在银基体中所组成。文献[1][2]提出的多相体系样品电子探针定量分析法均由样品面扫描谱获得实验数据,对焊条中低含量的第二相元素,其峰强很低,实验误差大。因在银焊条中:基体对第二相各元素无荧光效应;基体对第二相各元素的质量吸收系数相近,第二相各元素特征x射线穿出基体时相对强度的变化可忽略,故基体、第二相之间的相互作用可忽略,宜用Russ法 。......阅读全文
HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究
结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方
NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究
为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同
X射线能谱仪对茶树菇子常见微量元素的定性定量分析
利用扫描电镜和 X射线能谱仪对茶树菇子实体的菌褶、菌柄、菌托和菌盖中常见的微量元素 Na、Mg、S、P、Ca、K、Fe、Cu、Mn和 Zn进行了测定 ,计算了它们的相对重量百分比。结果表明菌盖、菌托、菌褶和菌柄均含上述各种微量元素 ,但含量各不相同。
二元化合物成分的X射线能谱无标样定量分析
常规的X射线能谱无标样定量分析采用Russ法。最近吴自勤等人又提出X射线能谱无标样定量分析的直接法。本文仍采用直接法,但吸收了Russ法中的优点。用常规的ZAF修正中使用的物理公式,推出X射线能谱另一种无标样定量分析的方法,它更便于计算。对NaCl,NaI,KCl,AgI,ZnS和GaAs样品的实验
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究
采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。
X射线能谱仪的现状和发展趋势
1984年本文作者在参加了匹兹堡会议以后,曾在本刊发表的文章中预测X射线能谱仪已经进入了一个新的发展阶段。除了元素分析以外,能谱仪将不断地开发新的综合的显微分析功能,而图象处理和图象分析是其一个主要方面。自此以后,在中国于1985、1987和1989年召开了三届北京分析测试学术报告和展览会(BCEI
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度
本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和
脉冲硬X射线能谱软化方法数值分析
基于轫致辐射原理,提出了通过轫致辐射靶优化设计软化脉冲硬X射线能谱的方法。采用MCNP程序模拟了复合薄靶和反射靶的输出参数,分析了复合薄靶中转化靶和电子吸收材料厚度对脉冲硬X射线能谱、转换效率以及透射电子份额的影响;给出了反射靶透射和反射X射线能谱、转换效率的差异及其随电子入射角度的变化规律。根据模
激光等离子体X射线能谱的测量
分别用K边滤波和滤波-荧光法测量了激光等离子体发射的1.5—100keV的X射线连续谱。文中叙述了激光等离子体X射线能谱的测量方法和多道X射线能谱仪,介绍了激光聚变实验结果。
【科普】X射线能谱仪和波谱仪的优缺点
一,能谱仪 能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪,其关键部件是Si(Li)检测器,即锂漂移硅固态检测器,它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。 Si(Li)能谱仪的优点： (1)分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射
X射线能谱仪分析的基本原理
X射线能谱仪为扫描电镜附件，其原理为电子枪发射的高能电子由电子光学系统中的两级电磁透镜聚焦成很细的电子束来激发样品室中的样品，从而产生背散射电子、二次电子、俄歇电子、吸收电子、透射电子、X射线和阴极荧光等多种信息。若X射线光子由Si（Li）探测器接收后给出电脉冲讯号，由于X射线光子能量不同（对某一元
软X射线能谱测试Ross滤片对设计
为获得“阳”加速器上Z箍缩等离子体软X射线辐射谱,设计了一套6通道的软X射线能谱仪,谱仪范围0.1keV-1.5keV,采用Ross滤片差分法。文中介绍了测量箍缩软X射线能谱的Ross滤片对的设计,并从理论上计算了对应“阳”加速器上等离子温度为20eV的黑体辐射谱时,PIN探头的输出电流,从计算结果
X射线能谱数据采集卡的PCI改造
本文利用PCI接口芯片PCI9052,结合CPLD技术,成功地将基于ISA总线的X射线能谱数据采集卡改造为PCI总线模式,并详细介绍了PCI接口芯片PCI9052的硬件连接、译码和配置方法,以及应用DriverWorks进行WDM驱动程序开发的过程。
X射线光电子能谱（XPS）的简介
XPS是重要的表面分析技术之一，是由瑞典Kai M. Siegbahn教授领导的研究小组创立的，并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪，1981 年，研制出高分辨率电子能谱仪。他在1981年获得了诺贝尔物理学奖。
基于DSP的X射线能谱数据采集系统设计
在此以X射线透射衰减规律为基础,设计出基于DSP的X射线能谱数据采集系统。重点介绍用于能谱数据采集的硬件电路和软件设计,其中,硬件电路主要由前置放大、滤波、主放大、峰值保持电路组成,软件主要由TMS320F2812对经过预处理后的脉冲信号进行多道脉冲幅度分析操作,并最终绘制出X射线能谱图。本系统具有
腔靶软X射线能谱结构的实验研究
叙述了利用双狭缝透射光栅谱仪,在高功率激光物理联合实验室神光装置上,对腔靶不同位置的能谱进行诊断,给出了腔靶源区能谱的空间分布和爆区的能谱结构,为腔靶辐射场的研究提供了重要信息。
X射线光电子能谱法的简介
中文名称X射线光电子能谱法英文名称X-ray photoelectron spectroscopy，XPS定 义以单色X射线为光源，测量并研究光电离过程发射出的光电子能量及相关特征的方法。能够给出原子内壳层及价带中各占据轨道电子结合能和电离能的精确数值。应用学科材料科学技术（一级学科），材料科学技
关于x射线光电子能谱的简介
以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。 处于原子内壳层的电子结合能较高，要把它打出来需要能量较高的光子，以镁或铝作为阳极材料的X射线源得到的光子能量分别为1253.6ev和1486.6ev，此范围内的光子能量足以把不太重的原子的1s电子打出来。周期表上第二周期中原子的1s电子的
用X射线能谱研究金基六元合金
利用Ｘ射线能谱（ＥＤＳ）和透射电子显微术（ＴＥＭ）等手段研究了Ａｕ－Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｒ－Ｉｎ－Ｚｒ合金的显微组织。研究结果表明，合金主要由Ａｕ基固溶体和Ｎｉ基固溶体组成。此外还有两种第二相粒子，一种粒子（命名为η相）含Ｃｒ量为９０ａｔ％，属简单正交结构，ａ＝０．４４８ｎｍ，ｂ＝１．４０ｎｍ，ｃ＝１．２
X射线光电子能谱学
X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用于测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
高能X射线能谱测量中衰减材料特性影响
基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量,采用蒙特卡罗成像模拟的方法研究衰减材料选择对能谱准确稳定重建的影响。设计多孔准直模型模拟X射线穿过不同衰减材料的透射过程,并在单次成像中获得完整的衰减透射率曲线。由衰减透射率求解能谱是一种病态条件问题,采用改进的迭代扰动法进行解谱,计算时考虑透射率计算值与真实值
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
X射线光电子能谱仪和样品制备
XPS仪由X射线激发源、样品台、电子能量分析器、检测器系统、超高真空系统等部分组成。X射线源：在目前的商品仪器中，一般采用Al/Mg双阳极X射线源。常用的激发源有Mg Ka X射线，光子能量为1253.6 eV和Al Ka X射线，光子能量为1486.6 eV。电子能量分析器：电子能量分析器是XPS
X射线光电子能谱仪的发现
1895年11月8日晚，德国维尔茨堡大学校长兼物理研究所所长伦琴在实验室研究阴极射线。 为了防止外界光线对放电管的影响，也为了不使管内可见光漏出管外，他把房间全部弄黑，创造伸手不见五指的环境，他还用黑色硬纸给放电管做了个封套。为了检查封套是否漏光，他给放电管接上电源，发现没有漏光。但他切断电源
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
多功能X射线光电子能谱仪
多功能X射线光电子能谱仪是一种用于物理学、生物学、基础医学、临床医学领域的分析仪器，于2018年1月22日启用。 技术指标 1. 分析室真空度：5×10-10 mbar 2. 最佳能量分辨率：0.43eV 3. 最小空间分辨率：1μm 4. Ag的3d5/2峰半峰宽为1eV时电子计数率