俄歇电子能谱的样品表面的处理和制备
(1) 离子束溅射因样品在空气中极易吸附气体分子（包括元素O、C等），当需要分析氧、碳元素或清洁被污染的固体表面时，应先用离子束溅射样品，去除污染物。(2) 样品制备含有挥发性物质和表面污染的样品：对样品加热或用溶剂清洗。清洗溶剂：正己烷、丙酮、乙醇等。绝对禁止带有强磁性的样品进入分析室，因磁性会导致分析器头及样品架磁化。样品有磁性时，俄歇电子在磁场作用下偏离接受角，不能到达分析器，得不到AES谱。带有微弱磁性的样品：通过退磁的方法去掉微弱磁性。(3) 样品荷电问题通常情况下只能分析固体导电样品；经过特殊处理，绝缘体固体和粉末样品也可以分析。粉末样品：一种是用导电胶带直接把粉体固定在样品台上，另一种是把粉体样品压成薄片，然后再固定在样品台上导电性能不好的样品如半导体材料、绝缘体薄膜，在电子束的作用下，其表面会产生一定的负电荷积累，此即俄歇电子能谱的荷电效应。样品表面荷电相当于给表面自由的俄歇电子增加额外电场，使俄歇动能变大。荷电......阅读全文
表面污染样品的处理
对于表面有油等有机物污染的样品,在进入真空系统前,必须用油溶性溶剂,如环己烷,丙酮等清洗样品表面的油污,最后再用乙醇洗去有机溶剂。为了保证样品表面不被氧化,一般采用自然干燥。有些样品可以进行表面打磨等处理。
SEM样品表面的导电处理
扫描电镜的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等等一些现象。本文罗列了一些常见的样品表面的导电处理方法。
表面复型技术对样品要求
表面复型技术样品要求：1、复型材料本身必须是非晶态材料。2、复型材料的粒子尺寸必须很小，复型材料的粒子越小，分辨率越高。3、复型材料应具备耐电子轰击的性能，即在电子束照射下能保持稳定，不发生分解和破坏
比表面仪样品的预处理
将样品装入已称重的样品管，样品量是根据样品材料的比表面预期值是不同的，厂家推荐样品重量应使管内样品的总表面保持在20至50 m2之间。因此，预期的样品比表面越大，所需的样品量越少。对大多数催化剂，称样量应在0.20±0.02g 左右。将样品管放入加热包，用金属加热包夹固定好，然后再将样品管装到脱气站
吸附比表面分析仪的样品简介
样品数量：同时进行2个样品分析和2-6个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命 样品处理:样品处理的全过程通过软件来自动控制,包括温度、时间及真空泵启停,并且具备处理开始时间的
表面张力仪被测样品时间变化
表面张力仪故障排除方法 *、表面张力仪取值偏低： 铂金板、铂金环没有清洗干净（zui有可能）； 归零没有完全完成； 玻璃器皿未冲冼干净，例如含有上次测试残留物质； 手上油污沾染了被测样品； 被测液体本身为活性剂或混合物，它的特性本来就是随时间变化而变化。故而应
微生物样品的取样方法表面取样
通过惰性载体可以将表面样品上的微生物转移到合适的培养基中进行微生物的检验，这种惰性载体既不能引起微生物死亡，也不应使其增殖。这样的载体包括清水、拭子、胶带等。取样后，要使微生物长期保存在载体上，既不死亡又不增殖十分困难，所以应尽早的将微生物转接到适当的培养基中。转移前耽误的时间越长，品质评价的可
AFM中样品表面性质对测量的影响
如何利用contact模式afm测量因为stm的基本原理是通过测量探针与样品表面的隧道电流大小来探测表面形貌,而afm...(3)非接触模式(non-contactmode)。在非接触模式中,针尖在样品表面上方振动,
测定样品的状态，表面张力仪校验标准
表面张力仪可测量一系列的材料性质，表界面张力和接触角可以为气液固三相间的相互作用提供非常有价值的信息。而这一相互作用在如下研究中起到重要作用：润湿性、吸附性、配方科学、表面活性剂研发、粘附性。 表面张力仪应用实例： 表面张力仪可以为液体或固体表面的控制、发展或者改性提供有效的信息，这
XPS表征的是样品的表面还是体相？
XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。样品的探测深度（d）由电子的逃逸深度（λ, 受X射线波长和样品状态等因素影响）决定，通常，取样深度d = 3λ。对于金属而言λ为0.5-3 nm;无机非金属材料为2-4 nm;
如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”？
扫描电子显微镜(SEM)是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号，对样品进行分析研究。 扫描电镜在表征样品时，受诸多参数的影响，不同类型样品应选用合适的参数，才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下，电子束
扫描电镜分析样品表面的深度是多少
扫描电镜是利用聚焦电子束进行微区样品表面形貌和成分分析，电子从发射源（灯丝）经光路系统最终到达样品表面，电子束直径可到 10 nm 以下，场发射电镜的聚集电子束直径会更小。聚焦电子束到达样品表面会激发出多种物理信号，包括二次电子（SE），背散射电子（BSE），俄歇电子（AE）、特征 X 射线（X-r
表面张力仪灵活应用适用各种复杂样品
表面张力仪，操作简单，牢固耐用，应用灵活。适用于各种复杂样品。测试结果能够直接传输到计算机和打印机中。表面张力仪带有照明功能的样品室内膛容积相当大，它特有的防护门能够达到大程度的开启，保证样品测试及样品更换简单易行。软件系统通过内部微处理器控制仪器操作。测量数据显示在键盘的液晶屏上，通过打印机直接
关于采用磁性探针对样品表面扫描检测的介绍
(MFM)采用磁性探针对样品表面扫描检测，检测时，对样品表面的每一行都进行两次扫描：第一次扫描采用轻敲模式，得到样品在这一行的高低起伏并记录下来；然后采用抬起模式，让磁性探针抬起一定的高度(通常为10～200nm)，并按样品表面起伏轨迹进行第二次扫描，由于探针被抬起且按样品表面起伏轨迹扫描，故第
SFTC1－表面张力仪样品台控制
（1）升降范围：0—50mm（2）升降精度： 重复精度：0.5μm（3）升降速度控制： 可调速度，测试过程变速控制（4）控制方式：通过USB口软件自动控制，提升兼容性（5）特制无噪音精密丝杠，升降稳定控制精度高3、温度读取（3）温度读取精度 0.01℃（4）温度读取方式 软件自动读取,独立显示。（二
俄歇电子能谱仪对挥发性样品和表面污染样品的处理
1、挥发性样品的处理 对于含有挥发性物质的样品,在样品进入真空系统前必须清除挥发性物质。一般可以对样品进行加热或用溶剂清洗。对含有油性物质的样品,一般依次用正己烷、丙酮和乙醇超声清洗,然后红外烘干,才可以进入真空系统。 2、表面污染样品的处理 对于表面有油等有机物污染的样品,在进入真空系统
样品台不水平或样品表面不水平影响到接触角测量的哪...
样品台不水平或样品表面不水平影响到接触角测量的哪些方面？会影响两个方面。*、由于视角倾斜而导致的接触角值变化。通过如上的描述可以看出，这个变化值导致的接触角变化是最为明显的，偏差值可能会非常大。第二、由于左、右倾斜导致形成左、右接触角值的偏差而形成非轴对液滴。而此时采用圆、椭圆或Young-Lapl
SFTC2自动表面张力仪样品台控制
1）升降范围：0—50mm（2）升降精度： 重复精度：0.5μm（3）升降速度控制： 可调速度，测试过程变速控制（4）控制方式：通过USB口软件自动控制，提升兼容性（5）特制无噪音精密丝杠，升降稳定控制精度高3、温度读取（3）温度读取精度 0.01℃（4）温度读取方式 软件自动读取,独立显示。
俄歇电子能谱的样品表面的处理和制备
(1) 离子束溅射因样品在空气中极易吸附气体分子（包括元素O、C等），当需要分析氧、碳元素或清洁被污染的固体表面时，应先用离子束溅射样品，去除污染物。(2) 样品制备含有挥发性物质和表面污染的样品：对样品加热或用溶剂清洗。清洗溶剂：正己烷、丙酮、乙醇等。绝对禁止带有强磁性的样品进入分析室，因磁性会导
透析去除蛋白样品中的表面活性剂
在蛋白质生物化学中，表面活性剂广泛用于样品溶解，如膜蛋白或包括脂质在内的杂质。此外，在蛋白组学样品制备中，表面活性剂也变得越来越重要。但不管怎样，下游分析会由于表面活性剂的存在而被干扰。质谱、层析分离以及光谱读数可能分别会由于信号抑制、复合物形成以及较高的空白值而被妨碍。 因此，要么选择可与所用分析
SPEES针尖参数对样品表面电子出射影响的模拟研究
报道了对扫描探针电子能谱仪(SPEES)中俄歇电子出射的理论模拟研究。通过对俄歇电子在针尖电场作用下运动轨迹的模拟以及综合考虑从针尖场发射电子到俄歇电子出射全过程中各种因素的影响,系统研究了针尖形状、针尖偏压和针尖-样品距离对俄歇电子出射效率的影响,以及出射俄歇电子束流密度在针尖电场区边缘处的分布。
扫描电子显微镜样品的处理及表面形貌
对待扫描样品进行什么处理？ 对样品表面进行导电处理，常用导电处理法包括：真空镀膜法和离子溅射镀膜法。本次采用离子溅射镀膜法。即在低真空状态下，在阴极与阳极两个电极之间加上几百至上千伏的直流电压时，电极之间会产生辉光放电。在放电的过程中，气体分子被电离成带正电的阳离子和带负电的电子，并在电场的作用下
用于扫描电镜－观察的样品表面为什么要进行镀金
不是所有样品都需要镀金的，如果你的样品导电性较好就不必要。镀金是为了将扫面电镜探针上聚集的电子导走，过多的电子聚集在探针处容易造成电镜的图像不清晰，影响测试的效果。
嫦娥五号月球土壤样品表面微结构研究取得新进展
数十亿年来，月球上的土壤受到微陨石轰击、太阳风、宇宙射线中的带电粒子辐射等太阳风化的作用，其表面微结构和化学组分与地球土壤有较大区别。我国嫦娥五号采集的月壤样品属于最年轻的玄武岩，且取样点的纬度最高，为探究月壤在太空风化作用下的物质和结构演化提供了新机会。 近日，中国科学院物理研究所科研团队，
嫦娥五号月球土壤样品表面微结构研究取得新进展
数十亿年来，月球上的土壤受到微陨石轰击、太阳风、宇宙射线中的带电粒子辐射等太阳风化的作用，其表面微结构和化学组分与地球土壤有较大区别。我国嫦娥五号采集的月壤样品属于最年轻的玄武岩，且取样点的纬度最高，为探究月壤在太空风化作用下的物质和结构演化提供了新机会。 近日，中国科学院物理研究所科研团队，
原子力显微镜扫描样品表面形貌,通过什么方式驱动探针
原子力显微镜：是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表
原子力显微镜的针尖对薄膜样品表面是否有损伤
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显
如何理解表面张力仪的样品台升降系统的指标？
样品台的升降系统的主要指标包括升降范围或称为行程范围以及精度。行程范围与精度通常是一个反相关函数。行程越大，螺距越大，控制精度也越差。而在表面张力仪的应用于，位移的精度的重要性优于行程范围。具体来说，在表面张力仪中，0.1um精度的系统优于1um的精度的升降系统。而100mm行程范围的1um精度的系
用于扫描电镜观察的样品表面为什么要进行镀金处理
不是所有样品都需要镀金的，如果你的样品导电性较好就不必要。镀金是为了将扫面电镜探针上聚集的电子导走，过多的电子聚集在探针处容易造成电镜的图像不清晰，影响测试的效果。
CNAS比表面积测试样品值大概在哪个范围
CNAS比表面积测试样品值大概在限度浓度范围。比表面积测试方法主要分连续流动法（即动态法）和静态容量法。动态法将待测粉体样品装在U型的样品管内，使含有一定比例吸附质的混合气体流过样品，根据吸附前后气体浓度变化来确定被测样品对吸附质分子（N2）的吸附量；静态法根据确定吸附量方法的不同分为重量法和容量法