是什么让青岛大学教授怼上Science？
对许多学者、特别是中国学者而言，发一篇Science论文，意味着学术地位和影响的极大提升，是梦寐以求的目标。虽然Science论文很多时候引领着相关研究领域的深度和前沿，但偶尔也会有一两篇论文，让人觉得有些费解。而一些非常认真的学者，则会对其不依不饶，抓住问题，讨论评论。 上周，青岛大学物理学院卢朝靖教授，就将今年早先一篇Science论文，怼上Science，如上图所示。被评论的Science论文，题为Spin coating epitaxial films, 发表在今年4月。其核心点，是通过旋涂法制备了一系列单晶外延薄膜，薄膜取向由衬底决定。其主要证据是XRD。不过从文中图四给出的薄膜和衬底XRD极图，却可以看到一些奇怪的地方。单晶衬底（图中第二行）的极图非常干净，几乎没有背景噪音，与薄膜极图（图中第一行）显著不同，大家可以自己比较： 一般人看了这组数据，脑袋里打一个问号，也就过去了。卢朝靖老师因为一直做铁电薄膜织构......阅读全文
薄膜测量
薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi
薄膜测厚仪
薄膜测厚仪 型号：CHY-CA CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。 ◆ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持用户的各种非标定制 ◆
薄膜测量
薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi
薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪
薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪拉伸、撕裂、剥离等力学性能，当使用反向器时，可进行材料的压缩试验。 本机是一种新型经济性电子拉力试验机，配备力传感器,在试验过程中，微机不断采集力传感器的信号，并根据试验要求，进行格式化数据处理，其特点是使用简单，性能稳定，技术先进，自动化水平高，测试精度高。 2 主要技术
xrd薄膜法能够测定薄膜什么性质
不知道你所说的薄膜法指什么.一般对于薄膜材料,XRD能够做:掠入射(GIXRD): 分析晶态薄膜物相,残余应力反射率测量(XRR): 对膜质量要求较高,晶态非晶皆可.一般分析纳米级别薄膜的厚度,深入一点可通过拟合的方法来分析密度,表面界面的粗糙度掠入射小角散射(GISAXS): 分
高精薄膜厚度测厚仪薄膜企业必备仪器
薄膜测厚仪中的高精薄膜厚度测厚仪的适用范围很广，可以测量的塑料、金属、涂层材料等多种材料的厚度，是我们设计制作物品的测量工具，帮助我们判断物体的质量是否合格，而且还能帮助我们节约物体设计制作成本，可以说购买了高精度薄膜厚度测厚仪就是提高了物体设计制作的质量。 高精薄膜厚度测厚仪 济南辰驰
其他薄膜沉积设备的薄膜沉积技术分类
薄膜沉积技术可以分为化学气相沉积（CVD）和物理气相沉积（PVD）。对于CVD工艺，这包括原子层沉积（ALD）和等离子体增强化学气相沉积（PECVD）。PVD沉积技术包括溅射，电子束和热蒸发。CVD工艺包括使用等离子体将源材料与一种或多种挥发性前驱物混合以化学相互作用并使源材料分解。该工艺使用较
薄膜测量配置
薄膜测量常用配置 光谱仪 AvaSpec-2048光谱仪，UA光栅（200-1100 nm），DUV镀膜，DCL-UV/VIS灵敏度增强透镜， 100 µm狭缝，OSC-UA消二阶衍射效应镀膜 测量膜厚范围 10 nm - 50 µm，1 nm分辨率
薄膜参考板
薄膜参考板当我们测量很薄的硅晶圆或光学板层时可以使用我们的硅-二氧化硅参考晶圆。硅-二氧化硅阶梯形晶圆的表面直径是100mm，有5种不同厚度的校正镀层分布在上面从0-500nm，用于测量膜厚和不同基底的透射层是理想的参比标准。步进板由很薄的二氧化硅片镀在硅片上所构成。校正数据—硅板经过椭
薄膜拉伸强度
单位截面薄膜在拉伸断裂时的拉力，简单的说就是按照规定形状取样后，薄膜在拉力机上被拉断时所收到的力，一般分为纵向与横向。拉伸强度的大小直观上可以用手进行测试，拉伸强度大的薄膜不容易被拉伸变形