稳态/瞬态荧光光谱仪(FLS920)操作说明书

一、仪器介绍1.FLS920稳态/瞬态荧光光谱仪具有两种功能稳态测量:激发光谱(荧/磷光强度~激发波长)、发射光谱(荧/磷光强度~发射波长)、同步扫描谱(固定波长差、固定能量差、可变角)。瞬态测量:荧光(磷光)寿命(100ps~10s)。适合各类液体和固体样品的测试。2.主要应用高分子和天然高分子自然荧光的研究溶液中大分子分子运动的研究固体高分子取向的研究高聚物光降解和光稳定的研究光敏化过程的研究3.主要性能指标光谱仪探测范围:(光电倍增管,190~870nm;Ge探测器,800~1700nm)荧光寿命测量范围:100ps~10s信噪比:6000:1(水峰 Raman)可以配用制冷系统,为样品提供变温环境液氮系统(77K~320K)使用Glan棱镜,控制激发光路、发射光路的偏振状态使用450W氙灯和纳秒、微秒脉冲闪光灯做激发光源F900系统软件:控制硬件,包括变温系统,数据采集、分析......阅读全文

荧光光谱法的应用

直接测定法应用于测定许多有机芳族化合物和生物物质具有内在的荧光性质。间接测定法用于测定本身不发荧光或者因荧光量子产率很低而无法进行直接测定的物质的荧光性质。同步荧光分析法是提高分析选择性,解决多组分荧光物质同时测定的良好手段之一[17,33]。最早发展起来的恒波长同步荧光法在一般的荧光光谱仪上均可方

什么是X射线荧光光谱

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

荧光光谱怎么确定激发波长

对不同材料来说不同,绝大多数情况下,发射波长会随着激发波长的偏移而有所偏移。 对于固态物质,主要是因为分子与其它材料形成了π建 对于量子点溶液,激发波长也会显著导致发射光谱的不同。 但是不是绝对的,比如对于Alex555分子,发射波长的便宜往往就相对较小,这是由于分子内部的能带结构所决定的。 如果是

荧光光谱能分析哪些东西

荧光是一种二次发光现象,其光谱分为原子荧光和分子荧光  原子荧光指的是原子外层电子被激发以后,回到低能级释放出的光子能量。理论上说,凡是能吸收能量的原子都能发生荧光现象。但是因为气化和激发能量的选择问题,从技术上现在比较成功的是对汞、砷、硒这三种原子的分析。而x射线原子荧光由于分光的问题则是只对钠以

原子荧光光谱的分类

原子荧光可分为 3类:即共振荧光、非共振荧光和敏化荧光,其中以共振原子荧光最强,在分析中应用最广。共振荧光是所发射的荧光和吸收的辐射波长相同。只有当基态是单一态,不存在中间能级,才能产生共振荧光。非共振荧光是激发态原子发射的荧光波长和吸收的辐射波长不相同。非共振荧光又可分为直跃线荧光、阶跃线荧光和反

荧光光谱仪及其原理

什么是XRF? 一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量

荧光光谱仪的简介

  荧光光谱仪又称荧光分光光度计,是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测,可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性,以及荧光的淬灭方面的信息。  结构  由光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成。  分类  荧光光

原子荧光光谱仪

原子荧光光度计利用惰性气体氩气作载气,将气态氢化物和过量氢气与载气混合后,导入加热的原子化装置,氢气和氩气在特制火焰装置中燃烧加热,氢化物受热以后迅速分解,被测元素离解为基态原子蒸气,其基态原子的量比单纯加热砷、锑、铋、锡、硒、碲、铅、锗等元素生成的基态原子高几个数量级。 利用原子荧光谱线的波长

荧光光谱仪器的校正

灵敏度校正  荧光光度计的灵敏度可以用被检测出的最低信号来表示,通常以硫酸奎宁的检出限或者以纯水的的拉曼峰的信噪比(S/N)表示。 荧光光度计的灵敏度与光源强度,单色器(包括透镜,反射镜)的性能,放大系统的特征,和光电倍增管的灵敏度有关; 与所选用的波长,狭缝宽度有关。 与被测空白溶剂的拉曼散射,激

分子荧光光谱实验报告

一、实验目的:    1.掌握荧光光度法的基本原理及激发光谱、发射光谱的测定方法;学会运用分子荧光光谱法对物质进行定性分析。    2.了解荧光分光光度计的构造和各组成部分的作用。    3.了解影响荧光产生的几个主要因素。二、实验内容:    测定荧光黄/水体系的激发光谱和发射光谱;    首先根

X荧光光谱仪原理

  当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程   称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层

原子荧光光谱的概念

原子荧光光谱是1964年以后发展起来的分析方法。原子荧光光谱法是以原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。但所用仪器与原子吸收光谱法相近。原子荧光光谱分析法具有很高的灵敏度,校正曲线的线性范围宽,能进行多元素同时测定。 原子荧光光谱是介于原子发射光谱和原子吸收光谱之间的光谱分析

原子荧光光谱的现状

        根据文献报道,HG-AFS主要在中药中砷、汞、硒、镉、铅、锑和锗等金属元素分析中得到了应用,但由于许多试样中金属元素含量较低,且基体较为复杂,还需要进一步提高检测方法的灵敏度和重现性;而对中药中铋、锡和碲等元素的分析尚未见报道,其应用技术还需进一步研究。         样品的污染和

荧光光谱仪的历史

  荧光光谱仪的历史   1.原理   在吸收紫外和可见电磁辐射的过程中,分子受激跃迁至激发电子态,大多数分子将通过与其它分子的碰撞以热的方式散发掉这部分能量,部分分子以光的形式放射出这部分能量,放射光的波长不同于所吸收辐射的波长。   后一种过程称作光致发光。分子发光包括荧光、磷光、化学发光

荧光光谱仪及其原理

什么是XRF?一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软

FluorCam多光谱荧光成像技术介绍

FluorCam多光谱荧光成像系统作为FluorCam叶绿素荧光成像系统的最高级型号,是目前唯一有能力实现了一台仪器上同时完成叶绿素荧光、UV-MCF多光谱荧光、NDVI归一化植被指数以及GFP、YFP、BFP、RFP、CFP、DAPI等荧光蛋白与荧光染料的成像分析功能。同时也可以加装RGB真彩成像

荧光光谱怎么确定激发波长

(1) 如果你的仪器有三维扫描功能,那就非常简单了,按照说明书要求去做就可以了。(2) 如果仪器没有上述功能,一般可将仪器的激发波长(EX)先设定为200nm,然后进行发射波长(EM)模式扫描,(EM)波长范围暂设定为 210-800nm,然后记录所有出现的峰值波长;改变激发波长(EX)后再扫描,如

x荧光光谱仪原理

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自

荧光光谱-怎么确定激发波长

(1) 如果你的仪器有三维扫描功能,那就非常简单了,按照说明书要求去做就可以了。(2) 如果仪器没有上述功能,一般可将仪器的激发波长(EX)先设定为200nm,然后进行发射波长(EM)模式扫描,(EM)波长范围暂设定为 210-800nm,然后记录所有出现的峰值波长;改变激发波长(EX)后再扫描,如

X荧光光谱仪特点

 X荧光光谱仪特点:   1、无损检测,可对电子电气设备,玩具指令中的有害物质进行定性定量分析。   2、测量时间短,客户可选择测试时间:60-300秒。   3、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计,更好地保障操作员的人身安全。流水线型外观,美观大方。   4、配备X Y轴可移动平台,方便样品点选

荧光光谱仪基本构成

荧光光谱仪由光源、单色器(滤光片或光栅)、狭缝、样品室、信号检测放大系统和信号读出、记录系统组成。光源用来激发样品,单色器用来分离出所需要的单色光,信号检测放大系统用来把荧光信号转化为电信号,联结于放大装置上的读出装置用来显示或记录荧光信号。   下面介绍现用仪器(即法国Horiba Jobin Y

原子荧光光谱法

方法提要在一定酸度下,溴酸钾与溴化钾反应生成溴,可将试样消解,使所含汞全部转化为二价无机汞,用盐酸羟胺还原过剩的氧化剂,再用氯化亚锡将二价汞还原为单质汞,用氩气作载气,将其引入原子荧光光谱仪测量荧光强度。方法最低检测质量为0.5ng。取5mL水样测定,检测下限为0.1μg/L。仪器和装置无色散原子荧

什么是原子荧光光谱

原子荧光光谱(AFS):典型原子荧光检测过程是以氢化物/冷蒸气发生方式实现样品的导入,氩氢扩散火焰原子化器实现被测元素的原子化,自由原子被空心阴极灯激发后发射的原子荧光,以无色散光路被 光 电 倍 增 管 接 收,获 得 原 子 荧 光 信 号。理 论 上,AFS兼具AES和AAS的优点,同时也克服

X射线荧光光谱的概念

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

简述低温荧光光谱法

  低温荧光光谱法(low temperature fluorescence spectrometry)是2016年全国科学技术名词审定委员会公布的化学名词。即,利用低温条件下测得的荧光光谱特性(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)建立的荧光分析法。  室温时,化合物的荧光光谱多宽频谱带状。多种荧光

原子荧光光谱的概念

原子荧光光谱(AFS):典型原子荧光检测过程是以氢化物/冷蒸气发生方式实现样品的导入,氩氢扩散火焰原子化器实现被测元素的原子化,自由原子被空心阴极灯激发后发射的原子荧光,以无色散光路被 光 电 倍 增 管 接 收,获 得 原 子 荧 光 信 号。理 论 上,AFS兼具AES和AAS的优点,同时也克服

荧光光谱基本原理

   大多数物质中的电子在室温度下处于电子基态的最低能级上,当激发光的频率与电子的特征频率相一致时,电子会对这种光子产生吸收,然后从基态能级到激发态中各个能级上。由于处在激发态的电子不稳定,大多数电子会降落到第一电子激发态的最低能级上,之后,电子再由第一电子激发态的最低能级向基态的各个能级跃迁,在这

原子荧光光谱仪

原子荧光光度计利用惰性气体氩气作载气,将气态氢化物和过量氢气与载气混合后,导入加热的原子化装置,氢气和氩气在特制火焰装置中燃烧加热,氢化物受热以后迅速分解,被测元素离解为基态原子蒸气,其基态原子的量比单纯加热砷、锑、铋、锡、硒、碲、铅、锗等元素生成的基态原子高几个数量级。

原子荧光光谱的特点

理 论 上,AFS兼具AES和AAS的优点,同时也克服了两者的不足,但是,由于AFS存在散射光干扰及荧光猝 灭 严 重 等 固 有 缺陷,使得该方法对激发光源和原子化器有较高的要求。