扫描探针显微镜在橡胶内部结构研究中的应用
在橡胶中加入一些纳米填充剂可起到补强、增容和增加其它一些特殊功能的作用，如加碳黑纳米颗粒可起到提高橡胶的定伸应力和拉伸强度等力学性能[5]。 炭黑对橡胶的补强作用是由炭黑特有的基本性质决定的，炭黑粒子越细，在橡胶本体中的分布越均匀，补强性越好。实验证明，炭黑比表面积大于50 m2·g - 1时才能有较好的补强性，即炭黑粒径小于50 nm时，聚集体进入硫化胶的交联网络之间，橡胶分子才能充分吸附在炭黑粒子表面，并牢固地结合在一起[6]。利用扫描探针显微镜扫描橡胶断面可以观察到纳米粒子在橡胶本体中的分布镶锲状况。图10是加入填充剂的橡胶的AFM图，图中可以清晰地看到大量纳米颗粒分散在大的橡胶颗粒周边。而图11则是未加纳米填充剂的橡胶截面的对比图，看不到镶锲的纳米粒子。原子力显微镜的样品基本不需预处理，不必象扫描电子显微镜(scanning electron microscope , SEM)那样先镀一层......阅读全文
扫描探针显微镜在橡胶内部结构研究中的应用
在橡胶中加入一些纳米填充剂可起到补强、增容和增加其它一些特殊功能的作用，如加碳黑纳米颗粒可起到提高橡胶的定伸应力和拉伸强度等力学性能[5]。 炭黑对橡胶的补强作用是由炭黑特有的基本性质决定的，炭黑粒子越细，在橡胶本体中的分布越均匀，补强性越好。实验证明，炭黑比表面积大于50 m2·g - 1时才能有
扫描探针显微镜（SPM）结构
1、探针：STM金属探针，AFM微悬臂、光电二极臂2、机械控制系统：压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统3、电子学控制系统：电子学线路、接口，控制软件
扫描探针显微镜（SPM）结构及特点
扫描探针显微镜（SPM）结构1、探针：STM金属探针，AFM微悬臂、光电二极臂。2、机械控制系统：压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统。3、电子学控制系统：电子学线路、接口，控制软件。扫描探针显微镜（SPM）特点1、局域探针：探测样品的局域特性、表面形貌、电子结构、电场、磁场等其他局域特性、2、高
扫描探针显微镜的原理、结构、特点
扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等)的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。扫描探针显微镜原理及结构 扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原
扫描探针显微镜对几种纳米材料的结构表征研究
1982年，Gerd Binning及其合作者在IBM公司苏黎世实验室共同研制成功了第一台扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope，STM)，其发明人Binning 因此获得1986 年的诺贝尔物理奖。扫描隧道显微镜的工作原理是：当探针与样品表面间距小到纳
扫描探针显微镜扫描器运动误差的研究
对由压电陶瓷的压电误差造成的扫描探针显微镜扫描器的运动误差进行了较详细的实验研究和理论分析,分析了各项误差的产生原因及其实验现象,据此可对误差进行判断和修正。 1 概述 扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,简称SPM)是指包括扫描隧道显微镜[1](Scanning
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法。提供能够使用配置于扫描探针显微镜的物镜来自动地进行光杠杆的光轴调整的扫描探针显微镜和其光轴调整方法。是一种扫描探针显微镜（100），所述扫描探针显微镜（100）具备：悬臂支承部（11），以规定的安装角（θ）安装悬臂（4）；移动机构（21），对悬臂的位置进
扫描探针显微镜及扫描方法
扫描探针显微镜和扫描方法，其能减小或避免因探针尖与样品碰撞而造成的损害，缩短测量时间，提高生产力和测量精确度，不受粘附水层的影响收集样品表面的观测数据，如形貌数据。显微镜具有振动探针尖的振动单元、探针尖与样品表面接近或接触时收集观测数据的观测单元、探针尖与样品表面接近或接触时检测探针尖振动状态变化的
关于扫描探针显微镜的原理研究分析
任何事物都不是十全十美的一样，扫描探针显微镜也有令人遗憾的地方。由于其工作原理是控制具有一定质量的探针进行扫描成像，因此扫描速度受到限制， 测效率较其他显微技术低；由于压电效应在保证定位精度前提下运动范围很小（难以突破100μm量级），而机械调节精度又无法与之衔接，故不能做到象电子显微镜的大范围
扫描探针显微镜简介
扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM，磁力显微镜MFM等等）的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检
扫描探针显微镜概述
扫描探针显微镜以其分辨率极高（原子级分辨率）、实时、实空间、原位成像，对样品无特殊要求（不受其导电性、干燥度、形状、硬度、纯度等限制）、可在大气、常温环境甚至是溶液中成像、同时具备纳米操纵及加工功能、系统及配套相对简单、廉价等优点，广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域，并取得
扫描探针显微镜共享
仪器名称：扫描探针显微镜仪器编号：04001035产地：美国生产厂家：美国维易科精密公司型号：DI-3100出厂日期：200307购置日期：200402所属单位：航院>强度与振动中心>电镜室放置地点：103-105固定电话：固定手机：固定email：联系人：华心（010-62772379,13701
扫描探针显微镜共享
仪器名称：扫描探针显微镜仪器编号：05017496产地：日本生产厂家：日本精工公司型号：SPI4000/SPA300HV出厂日期：200410购置日期：200512所属单位：材料学院>新型陶瓷国家重点实验室>王晓慧实验室放置地点：逸夫楼2202固定电话：固定手机：固定email：联系人：张辉（010
扫描探针显微镜的先进控制技术研究
随着科学技术的发展,科学家和工程师们对扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的性能也提出越来越高的要求。扫描探针显微镜具有高精度成像、纳米操纵等功能,它已经广泛物理、化学、生物、医学等基础学科,以及材料、微电子等应用学科。如今SPM的工作速度已经成为S
扫描探针显微镜的性能及应用研究
扫描探针显微镜是一种强有力的表面分析仪器,它主要包括扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM).敲击模式的AFM更是被广泛地用来研究各种材料的表面及微观结构.但是由于敲击模式工作原理的复杂性,为了得到真实的样品结构,就必须选择合适的扫描参数.该文用敲击模式AFM研究了不同材料的微观结构,研究了
扫描探针显微镜的原理
扫描电子显微镜的原理是由最上边电子枪发射出百来的电子束，经栅极聚焦后，在加速电压作用下，经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈，在它的作用下使电子束度在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用，结果产生了各种信息：二次电
扫描探针显微镜的特点
扫描探针显微镜具有极高的分辨率；得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像；使用环境宽松等特点。选择好的扫描探针显微镜推荐Park NX-Hivac。Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比，高真空测量
扫描探针显微镜的特点
扫描探针显微镜具有极高的分辨率；得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像；使用环境宽松等特点。选择好的扫描探针显微镜推荐Park NX-Hivac。Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比，高真空测量
扫描探针显微镜的应用
目前扫描探针显微镜中最为广泛使用管状压电扫描器的垂直方向伸缩范围比平面扫描范围一般要小一个数量级，扫描时扫描器随样品表面起伏而伸缩，如果被测样品表面的起伏超出了扫描器的伸缩范围，则会导致系统无法正常甚至损坏探针。因此，扫描探针显微镜对样品表面的粗糙度有较高的要求； 由于系统是通过检测探针对样品
扫描探针显微镜（SPM）针尖
1、STM针尖：W丝、Pt-Ir丝。超高真空一般用W丝，通过电化学腐蚀、高温退火或原位处理以去除氧化层。大气中一般用Pt-Ir丝，直接剪切制成。2、AFM针尖：Si、SiN4材料，通过微加工光刻的方法制备。
什么是扫描探针显微镜？
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发
石英音叉扫描探针显微镜
石英音叉是一种谐振频率稳定、品质因数高的时基器件,其音叉臂的谐振参数(谐振振幅和谐振频率)对微力极其敏感。利用石英音叉对外力的敏感性,与钨探针结合,构成一种新型的表面形貌扫描测头。该测头与xyz压电工作台结合,利用测头音叉臂谐振频率对扫描微力的敏感性,研制基于相位反馈控制的扫描探针显微镜。
扫描探针显微镜的应用
SPM的应用领域是宽广的。无论是物理、化学、生物、医学等基础学科，还是材料、微电子等应用学科都有它的用武之地。SPM的价格相对于电子显微镜等大型仪器来讲是较低的。同其它表面分析技术相比，SPM 有着诸多优势，不仅可以得到高分辨率的表面成像，与其他类型的显微镜相比（光学显微镜，电子显微镜）相比，SPM
扫描探针显微镜的原理
扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用，即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场，通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜丰要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。而原子力显微镜是一种扫描探针显微镜的一支，更具
扫描探针显微镜（SPM）特点
1.扫描隧道显徽镜（STM）和原子力显微镜同其他显微镜相比具有分辨率高、工作环境要求低、待测样品要求低、不需要重金属投影等优点，所以它们观察到的图像更能直接反映样品的原有特点。 2.借助于快速的计算机图像采集系统时，STM和AFM还可以用来观察细胞，亚细胞水平甚至是分子水平上的快速动态变化过程
扫描探针显微镜的优势
SPM作为新型的显微工具与以往的各种显微镜和分析仪器相比有着其明显的优势： 首先，SPM具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子，这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。 其次，SPM得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像。而不同于某些分析仪器是通过间接的或计算的方法来推算样品的表
超高真空扫描探针显微镜
超高真空扫描探针显微镜是一种用于材料科学、物理学领域的分析仪器，于2011年12月15日启用。 1、技术指标 工作温度为室温，样品粗定位范围>6 mm×6 mm，单管扫描范围>6 μm×6 μm×2 μm。STM模式下可实现Si（1 1 1）和Au（1 1 1）表面的原子分辨；AFM接触模式
扫描探针显微镜的原理
扫描电子显微镜的原理是由最上边电子枪发射出来的电子束，经栅极聚焦后，在加速电压作用下，经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈，在它的作用下使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用，结果产生了各种信息：二次电子、
扫描探针显微镜发展历史
1981年，Bining，Rohrer在IBM苏黎世实验室发明了扫描隧道显微镜(STM)并为此获得1986年诺贝尔物理奖。STM的出现使人类能够对原子级结构和活动过程进行观察。由于STM需要被测样本必须为导体或半导体，其应用受到一定的局限。 1985年，原子力显微镜(AFM)的发明则将观察对象由导
扫描探针显微镜研究聚合物表面电特性
研究聚合物电介质在亚微米尺度微区结构中的表面电学特性,具有极其重要的理论价值及潜在的应用价值。近年来,采取可靠的实验手段在显微结构下有效地表征这些性能已成为聚合物纳米复合电介质材料研究领域的焦点问题。研究电介质材料微区结构中的表面电学特性,对于改进与提高聚合物电介质材料的性能和应用水平具有