AFM表征是什么意思有哪些优点
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中 最传统的AFM表征的就是被测样品的表bai面形du貌（表面的高低起伏）。 优点： 原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比较，原子力显微镜的优点是在大气条件下，以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对表面光洁度有一定要求），而不......阅读全文
小角xrd表征什么，大角xrd又表征什么
小角XRD应该是指小角X射线散射吧（SAXS）一般的2θ
颗粒表征小贴士
人们可以制造各种颗粒，自然界存在更多种类的粒子。而我们需要量子力学或更复杂的理论去解释那些基本的粒子，如中子，电磁学和经典的机械物理学通常足以解释大于1nm的粒子的基本行为。但这并不意味着我们可以轻而易举的预判诸如此类的粒子的行为，科学家几乎每天都能碰到让人眼花缭乱难以捉摸的粒子行为，在这一
AFM力检测部分
仪器结构： 在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。力检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的
AFM反馈系统
反馈系统在原子力显微镜（AFM）的系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持一定的作用力。
AFM位置检测部分
位置检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂cantilever摆动，所以当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供SPM控制器作信
AFM驱动控制方式
驱动控制方式XY轴扫描运动：需要四通道分别对四个区域进行双极性驱动。Z轴扫描运动：需要对外部四个区域加载正电压，内部接地或者内部加负电压（内壁不可以加正电压）。我们推荐采用我公司模块化E01系列双极性压电控制器产品，具有模块化组合，多通道输出，分辨率高、纹波小等优点，可以满足AFM原子力显微镜对压电
形象比喻AFM原理
测试这个级别的材料平整度，就会用到原子力显微镜，它的原理也很简单：就像咱们划船路过一遍暗礁，通常船手不会直接跳下去看看再量一量再拍个照，而是会用竹竿戳一戳，竹竿的长度是一定的，知道漏出水面的长度，也就知道水底暗礁的高度了。
AFM反馈系统
反馈系统在原子力显微镜/AFM的系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持一定的作用力。AFM系统使用压电陶瓷管制作的扫描器精确控制微小的扫描移动。压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当
AFM分子间作用
分子间力 将很高的空间分辨率与敏感且准确的力学感应性相结合，是AFM的一个极为显著的特点。通过将探针连接在弹性系数很小的悬臂上，AFM对力的测量敏感性可达到pn水平。到目前为止，AFM已经广泛地运用于测量溶液中生物分子间相互作用如与生物反应有关的水合力的研究。利用这些研究结果还有助于对生物分子结构
AFM工艺是什么
AFM工艺 由美国与萨诸塞州Dynetics公司开发的Dynaflow磨料流加工工艺(AFM)是一种强迫含磨料的介质在工件表面或孔中往复运动的金属精加工工艺, 它具有广泛的应用前景。 年前, AFM当最先出现时, 它主要用于清除金属件中难于到达的内通道及相交部位的毛刺。它特别适用于加工难加工合金
AFM测半导体
半导体加工通常需要测量高纵横比结构,像沟槽和孔洞,确定刻蚀深度。然而如此信息用SEM 技术是无法直接得到的,除非将样品沿截面切开。AFM 技术则恰恰弥补了SEM 的这一不足,它只扫描试样的表面即可得到高度信息,且测量是无损的,半导体材料在测量后即可返回到生产线。AFM 不仅可以直观地看到光栅的形貌,
AFM解决的问题
尖和物体表面之间的作用力是十分微弱的，我们该如何有效测量它的大小呢？这个时候前面提到的悬臂就派上用场了。由于针尖和悬臂是连在一起的，针尖受到的力会导致悬臂发生弯曲，受力越大，悬臂弯曲的越厉害。这样，通过测量悬臂弯曲的程度，我们就可以知道针尖与物体表面之间的作用力的大小。但是悬臂由于受力而发生的弯曲依
AFM的接触模式
接触模式 在接触模式中，针尖始终与样品保持轻微接触，以恒高或恒力的模式进行扫描。扫描过程中，针尖在样品表面滑动。通常情况下，接触模式都可以产生稳定的、高分辨率的图像。 在接触模式中，如果扫描软样品的时候，样品表面由于和针尖直接接触，有可能造成样品的损伤。如果为了保护样品，在扫描过程中将样品和
多频AFM－技术
多频AFM 技术多频AFM(multifrequency AFM，MF-AFM)技术，简单来说就是微悬臂在多个频率下振动，并用来探测样品性质的一大类AFM技术，包括频带激励(band excitation)、双频追踪(dual resonance frequency tracking，DRFT)、边
SEM－和AFM对比
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而A
AFM基本组成
AFM基本组成原子力显微镜是一种扫描探针显微镜，它是IBM公司Gerd Binning和斯坦福大学的Quate在1986年研发的，主要通过小探针与表面之间相互作用力的大小来获得表面信息。在一般的AFM系统中，主要由三部分组成：力传感部分、位置检测部分、反馈系统，其中力传感部分是AFM的核心部分，目前
AFM的Tapping－模式
Tapping 模式a）点击实验方案选择图标，打开界面；b）选择实验具体模式，Tapping Modee；c）选择实验环境Air进入实验界面；d）根据上面提到的步骤，调整激光，并将Head靠近样品表面以看清样品；e）点击 “Check Parameters” 图标；f） 设定以下扫描参数：Scan
AFM的工作原理
AFM的工作原理 AFM的基本原理与STM类似，在AFM中，使用对微弱力非常敏感的弹性悬臂上的针尖对样品表面作光栅式扫描。当针尖和样品表面的距离非常接近时，针尖尖端的原子与样品表面的原子之间存在极微弱的作用力（10-12~10-6N），此时，微悬臂就会发生微小的弹性形变。针尖与样品之间的力F与微悬
qPlus－型AFM－技术
qPlus 型AFM 技术qPlus 型AFM技术是使用石英音叉型力传感器代替传统的硅悬臂传感器，其中石英音叉的一个臂固定在基座上，而另一个自由悬臂和固定在其顶端的探针在压电陶瓷激励下以设定的恒定振幅振动，通过压电效应检测悬臂振动信号，具有恒频率偏移和恒针尖高度两种扫描成像模式。qPlus 型AF
AFM的Contact－模式
Contact 模式a）点击实验方案选择图标 ，打开实验方案选择；b）选择实验具体模式，Contact Mode；c）选择实验环境，Air；d）进入实验界面；e）根据上面提到的步骤，调整激光，并将Head靠近样品表面以看清样品；f）点击“Check Parameters”图标，进入实验参数设置；g）
AFM力曲线测试
力曲线测试 AFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力，揭示定域的化学和机械性质，像粘附力和弹力，甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰，利用
用什么方法可以表征氧化石墨烯被还原
当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘、盐类和石墨烯分子。 当然光学显微镜、扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看
原子力显微镜表征石墨烯的什么性质
原子力显微镜表征石墨烯的什么性质当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘、盐类和石墨烯分子。当然光学显微镜、扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图
当心－AFM－针尖污染你的样品
AFM 的针尖必须是化学惰性的，通常由包裹有金刚石或贵金属的硅制成，也可以完全由金属制成。针尖在表征样品成像的同时应该不破坏或改变样品。然而，情况并非总是如此。由美国橡树岭国家实验室的 Olga Ovchinnikova 和 Anton Ievlev 领导的一个研究小组发现，刚从包装盒中取出的针尖是