智能产品&设备的EMI辐射理论和解决思路（一）
EMC设计在电子产品与电子设备中已经成为可靠性的重要组成部分，将越来越被重视！特别对于我们的工业＆消费类产品要求满足其相应的认证和出口要求，对应的国家政策也在不断完善。同时国际贸易的深化发展，EMC技术成为电子产品与电子设备的硬性指标！EMI传导的设计理论听过我培训及讲座的朋友们对传导的问题都能进行设计优化；如果对于EMI传导还有问题的朋友们我再提供传导的逆向分析优化法提供参考；通过如下EMI传导的测试数据进行分享：产品及设备EMI各个频段对应的产品测试数据分析一：A．产品为早期的开关电源系统方案开关IC基本无频率抖动技术B．开关电源有输入EMI滤波器的设计，图示其测试频率的ΔF为其开关工作频率C．产品的EMI测试曲线准峰值有超标频段；开关电源的输入EMI滤波器的参数需要调整！我的实践与理论数据：1． F1频段越靠近150KHZ调整X电容越有效果 2． F2频段范围优化滤波器的共模电感搞定！3． F3频段范围 滤波器Y电......阅读全文
智能产品设备的EMI－辐射理论和解决思路（一）
EMC设计在电子产品与电子设备中已经成为可靠性的重要组成部分，将越来越被重视！特别对于我们的工业＆消费类产品要求满足其相应的认证和出口要求，对应的国家政策也在不断完善。同时国际贸易的深化发展，EMC技术成为电子产品与电子设备的硬性指标！EMI传导的设计理论听过我培训及讲座的朋友们对传导的问题
智能产品设备的EMI－辐射理论和解决思路（二）
我的EMI辐射的基本思路：是让辐射源不要流过这个等效的天线模型或者流过的等效的环路路径最短／等效的共模回路路径最小化！优化等效辐射阻抗Rr的电流值即减小辐射能量。系统分布参数影响的电磁场环路分析！我用下面的等效来分析：共模电流通过布局布线流经系统的信号线连接线及电缆等，其中＞30MHZ以上
电子产品及设备的EMI辐射理论和分析思路总结（一）
EMC设计在电子产品与电子设备中已经成为可靠性的重要组成部分，将越来越被重视！特别对于我们的工业＆消费类产品要求满足其相应的认证和出口要求，对应的国家政策也在不断完善。同时国际贸易的深化发展，EMC技术成为电子产品与电子设备的硬性指标！EMI传导的设计理论听过我培训及讲座的朋友们受益多多；E
电子产品及设备的EMI辐射理论和分析思路总结（二）
EMI的传递路径：感性耦合；容性耦合；传导耦合；辐射耦合！1．感性耦合路径问题注意电路中的感性元器件：电感及 变压器器件等等；2．容性耦合路径问题注意电路中任意相近的两根电流导线都会存在分布电容耦合：临近PCB走线 及 关键走线＆连接线；散热器等等；EMI辐射的分析要点（三要素）阿杜老师的实践分析及
信息类设备LVDSEMI辐射问题分析
在信息类产品的设计应用中，产品会有TFT－LCD屏；在液晶显示器中，LVDS接口电路包括两部分，即驱动板侧的LVDS输出接口电路（LVDS发送器）和液晶面板侧的LVDS输入接口电路（LVDS接收器）。LVDS发送器将驱动板主控芯片输出的17L电平并行RGB数据信号和控制信号转换成低电压串行LVDS信
EMI辐射设计扩谱时钟技术在数字设备的优势
对于数字设备，辐射发射超标是产品顺利通过电磁兼容试验的巨大挑战！传统的屏蔽和滤波措施虽然能够使产品满足电磁兼容标准的要求，但是付出的成本较高，并且在有些场合并不容易实施。扩谱时钟技术在解决这个问题方面有比较大的优势！扩谱时钟能够将时钟信号的各次谐波降低7－20dB；对数字电路EMI辐射的设计
物联产品设备电磁兼容参考设计思路（一）
2019年我在电源网的报告主题是《物联网＆智能设备：EMI的分析与设计技巧》IEC国际标准在对产品及设备进行传导和发射的测量，并对产品产生传导与辐射的值进行限制的目的是满足无线电通信要求；不能对无线电通信产生干扰。对于物联产品＆设备系统本身就存在无线电通讯（WiFi ＆ BLE）发射功率，接
电子产品及设备：EMC快速设计理论（一）
目前电子产品及设备运用开关电源系统的设计是越来越多；对于开关电源系统如何快速通过产品的认证；大多产品需要通过EMC的测试标准。在通过相应的测试标准；我们在电子产品及设备中的理论就要转换为 电路系统设计如何解决共模干扰和差模干扰的问题？电子产品及设备的CLASSA ＆B 标准要求！我们通过如下
教你利用PCB分层堆叠控制EMI辐射
解决EMI问题的办法很多，现代的EMI抑制方法包括：利用EMI抑制涂层、选用合适的EMI抑制零配件和EMI仿真设计等。本文从最基本的PCB布板出发，讨论PCB分层堆叠在控制EMI辐射中的作用和设计技巧。电源汇流排在IC的电源引脚附近合理地安置适当容量的电容，可使IC输出电压的跳变来得更快。然
设备EMI问题的传递路径分析与案例（一）
我们在谈到电子产品＆设备的EMC问题的时候，EMC的三要素已经成为了我们的行动大纲；EMC三要素：干扰源－耦合路径－敏感设备；从理论上三要素如果解决处理好任意一个因素就构不成干扰或骚扰的问题；EMC＝EMI＋EMS；对于EMS的三要素：干扰源（比如外部施加EFT，ESD，SURGE）通过传递路径（耦
关于DC/DC电源和EMI的讨论（一）
1）DCDC噪声源特性 DCDC的噪声的影响三个参数主要为 占空比Duty：占空比上升导致噪声幅度上升 开关频率Fs：是的噪声衰减变在频谱上延伸了，开关频率一般我们可以分为几个大类 20～100Khz：电感较大引起的成本、尺寸基本让低频设计慢慢不是一种选择。 100～550
物联产品设备电磁兼容参考设计思路（四）
6．提高物联产品＆智能设备的EMC性能在带有处理器的物联产品＆智能设备时，提高抗干扰能力和电磁兼容性很关键：以下的系统要特别注意抗电磁干扰：（1）微控制器时钟频率特别高，总线周期特别快的系统。（2）系统含有大功率，大电流驱动电路，如产生火花的继电器，大电流开关等。（3）含微弱模拟信号电路以及高精度A
物联产品设备电磁兼容参考设计思路（二）
4．原理图方面设计在确定产品＆设备需要满足的电磁兼容项目及试验等级后，在原理图设计时就有必要对相关试验项目进行设计，最大程度降低电磁兼容风险和节省项目开发时间。A．端口设计产品＆设备的端口包括电源端口及信号端口，在EMC测试项目中针对端口的试验包括浪涌SURGE，静电ESD，电快速脉冲群EFT／B，
物联产品设备电磁兼容参考设计思路（三）
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物联产品设备电磁兼容参考设计思路（五）
D．用对 去耦电容好的高频去耦电容可以去除高到1GHZ的高频成分。陶瓷片电容或多层陶瓷电容的高频特性较好。设计印刷线路板时，每个集成电路的电源，地之间都要加一个去耦电容。去耦电容有两个作用：一方面是本集成电路的蓄能电容，提供和吸收该集成电路开门关门瞬间的充放电能；另一方面旁路掉该器件的高频噪声。数字
新能源技术的EMI分析设计（三）
电压突变＆电流突变的两种噪声模式在开关过程中都会引起EMI的问题！SiC 其高的du／dt 更明显！SiC－MOS特性：A．快的开关速度B．低的开关损耗C．高的du／dtSiC－MOS在汽车电子的优势：A．功率损耗降低；效率高，提高电池续航能力；B．高温高压高频；更小体积SiC－MOS在汽车
色谱理论(基本概念和理论)（一）
一、基本概念和术语1．色谱图和峰参数Ø色谱图(chromatogram)——样品流经色谱柱和检测器，所得到的信号-时间曲线，又称色谱流出曲线(elution profile)。Ø基线(base line)——经流动相冲洗，柱与流动相达到平衡后，检测器测出一段时间的流出曲线。一般应平行于时间轴。Ø噪音
信息类设备交流输入无接地系统接地EMI传导问题策略
在一些产品的设计应用中，我们会碰到系统接地后EMI传导测试数据变差的情况；这时要注意产品的结构和我们测试实验场地的接地情况！但对于有些信息类设备测试标准：CISPR 22／85（ITE）－Class B 有要求系统的输出端通过连接线接地进行测试；同时要求系统的传统能通过相应的测试标准
大型医疗产品辐射发射测试方法（一）
辐射发射（RE） 测试主要是测量受试设备对环境的电磁骚扰能量。由于现在的电子设备日益发展，周围的电子设备越来越多，电磁环境也越来越拥挤。RE测试的目的就是为了控制受试设备的电磁辐射，使其不对周围的电子设备造成干扰。 医疗设备按照使用环境可以分为A类和B类设备：Ａ类设备是指非家用设备或
相控阵解决异型件的思路
相控阵检测技术是近些年比较火的一项超声波检测新技术，其原理同普通手超，是基于脉冲发射法的超声检测技术。 根据多年现场使用，个人认为优势如下（非书本中条款）： 1、检测结果客观，相控阵检测结果可记录并形成相控阵图谱，数据显示为多种视图方式，包含A、B、C、S扫描等，较常规超声更容易让用
相控阵解决异型件的思路
一、概述 相控阵检测技术是近些年比较火的一项超声波检测新技术，其原理同普通手超，是基于脉冲发射法的超声检测技术。 根据多年现场使用，个人认为优势如下（非书本中条款）： 1、检测结果客观，相控阵检测结果可记录并形成相控阵图谱，数据显示为多种视图方式，包含A、B、C、S扫描等，
通过辐射发射测试：如何避免采用复杂的EMI抑制技术...1
通过辐射发射测试：如何避免采用复杂的EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比的隔离设计James Scanlon ADI公司出于各种原因，电子系统需要实施隔离。它的作用是保护人员和设备不受高电压的影响，或者仅仅是消除PCB上不需要的接地回路。在各种各样的应用中，包括工厂和工业自动化、医疗设备、通信和消费
通过辐射发射测试：如何避免采用复杂的EMI抑制技术...2
EMI抑制技术：亟需更好的方法与使用分立式变压器的传统方法相比，将变压器和电路集成到芯片级封装中可减少组件数量，进而大大节省PCB空间，但可能会引入更高的辐射发射。辐射发射抑制技术会使PCB的设计更加复杂，或需要额外组件，因此可能会抵消集成变压器所节省的成本和空间。例如，在PCB级别抑制辐射发射的一
通过辐射发射测试：如何避免采用复杂的EMI抑制技术...3
为了减少辐射发射，ADuM5020／ADuM5028具有出色的线圈对称性和线圈驱动电路，有助于将通过隔离栅的CM电流传输最小化。扩频技术也被用来降低某一特定频率的噪声浓度，并将辐射发射能量扩散到更广泛的频段。在次级端使用低价的铁氧体磁珠会进一步减少辐射发射。在RE合规测试期间，这些技术可以改善峰值和
连接线电缆的EMI问题（易忽视）（二）
4．通过上面的基础理论，进行屏蔽线地线优化，顺利通过EMI测试并且有较大的裕量设计；参考如下：5．再来分析一TV产品HDMI接口连接线的EMI测试案例；产品测试的EMI辐射数据如下：进行辐射骚扰测试时；该TV的HDMI接口与DVD，游戏设备等相连并进行数据通讯；如图中测试数据在辐射接收天线水平极化的
开关电源系统LLC应用的测试分析技巧（一）
EMC在电子产品／设备已经成为可靠性的重要组成部分；将越来越被重视！特别对于我们的工业＆消费类产品要求满足其相应的认证和出口要求，对应的国家政策也在不断完善；同时国际贸易的深化发展；EMC技术成为电子产品／设备必过的硬性指标！随着电子产品／设备的供电系统都开始大量运用高频开关电源并且也越来越高端化；
PCB板设计中接口连接线的EMC问题分析与设计
PCB 板的接口连接线及电缆的电磁兼容性问题；分别来看EMI 和 EMS 这两个方面；EMI－辐射发射的问题：在下示意图中与电路板相连的电缆也是产生辐射问题的原因之一， 因为高速信号电流在电缆中流动由于环路和阻抗不匹配等原因；很易对外产生共模或差模的电磁辐射。EMS－对于抗干扰问题：（EFT的设计问
色谱理论需要解决的问题
色谱理论需要解决的问题 ： 色谱分离过程的热力学和动力学问题。影响分离及柱效的因素与提高柱效的途径，柱效与分离度的评价指标及其关系。
电子产品及设备：EMC快速设计理论（三）
共模干扰产生的原因很多，主要原因有以下几点。1．电网串入共模干扰电压（外界的干扰源）。2．辐射干扰（如雷击＆静电，设备电弧，附近无线电设备，大功率辐射源）感应出共模干扰。（机理是：交变的磁场产生交变的电流，由于地线，零线回路面积与地线；火线回路面积不相同，两个回路阻抗不通等原因造成电流大小不同）3．
电子产品及设备：EMC快速设计理论（二）
差模干扰产生的机理差模干扰中的干扰是信号（源）在同一电源线路之中。如同一线路中工作的电机驱动，开关电源系统，控制信号等，他们在电源线上所产生的干扰我们称之为差模干扰；可以是外部来源；如果是内部的信号（源）我们专业名词定义为骚扰源！差模干扰如何影响设备！差模干扰直接作用在产品设备两端，直接影响设备工作