尺寸依赖的边界效应和非厄米趋肤效应的脆弱性及稳定性
对于一个宏观的量子系统，通常边界条件的改变对体态能谱是一种微扰效应。一般来说改变边界条件不会对体系的能谱结构和波函数产生剧烈的改变，这也是为何理想周期边界条件下得到的能谱结构通常能反映存在边界的实际晶体材料的能谱结构的原因。这样一种直观的认识对于一些非厄米系统来说并不总是成立的。一个典型的例子就是最近在一些非厄米系统中发现存在的非厄米趋肤效应（Non-Hermitian skin effect）。当系统的边界条件从周期边界改变为开边界条件时, 这类非厄米体系的能谱结构会发生剧烈变化, 同时系统的体态由布洛赫扩展态变为局域在系统某一个边界上的趋肤态。同通常的拓扑体系中出现的边缘态很不一样，非厄米体系在边界上出现的趋肤局域态数目与体系格点数是同一量级的。 非厄米系统可以用来作为开放量子系统的短时行为的有效描述, 也被广泛用于描述耗散或非互易的光学体系。近年来，非厄米系统的研究受到了极大的关注。由于没有厄米条件的限制,非厄米体系......阅读全文
尺寸依赖的边界效应和非厄米趋肤效应的脆弱性及稳定性
对于一个宏观的量子系统，通常边界条件的改变对体态能谱是一种微扰效应。一般来说改变边界条件不会对体系的能谱结构和波函数产生剧烈改变，这也是为何理想周期边界条件下得到的能谱结构通常能反映存在边界的实际晶体材料的能谱结构的原因。这样一种直观的认识对于一些非厄米系统来说并不总是成立，例如，最近在一些非厄
尺寸依赖的边界效应和非厄米趋肤效应的脆弱性及稳定性
对于一个宏观的量子系统，通常边界条件的改变对体态能谱是一种微扰效应。一般来说改变边界条件不会对体系的能谱结构和波函数产生剧烈的改变，这也是为何理想周期边界条件下得到的能谱结构通常能反映存在边界的实际晶体材料的能谱结构的原因。这样一种直观的认识对于一些非厄米系统来说并不总是成立的。一个典型的例子就
能谱仪
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
能谱仪
原理编辑各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一 [1] 特点来进行成分分析的。性能指标编辑固体角：决定了信号量的大小，该角度越大越好检出角：理论上该角度越大越好探头：新型硅漂移探测器（SDD）逐步
能谱仪结构及工作原理
能谱仪结构及工作原理能谱仪,结构,工作原理,特征X射线,X射线探测器X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法.它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用.1.特征X射线的产生特征
俄歇电子能谱的微区分析
微区分析也是俄歇电子能谱分析的一个重要功能，可以分为选点分析，线扫描分析和面扫描分析三个方面。这种功能是俄歇电子能谱在微电子器件研究中最常用的方法，也是纳米材料研究的主要手段。（1）选点分析俄歇电子能谱选点分析的空间分别率可以达到束斑面积大小。因此，利用俄歇电子能谱可以在很微小的区域内进行选点分析。
什么是能谱仪？能谱仪的原理简介
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。 原理 各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子
X 射线能谱
X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补
能谱仪用途
简单说，就是根据射线粒子的能量，来分析物质的成份、含量。如γ射线能谱仪主要根据射线的能量判定核素，并分析放射性核素含量，在环境检测、辐射防护、反应堆监控等广泛应用。
能谱仪（EDS）
能谱仪：EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是电子显微镜（扫描电镜、透射电镜）的重要附属配套仪器，结合电子显微镜，能够在1-3分钟之内对材料的微观区域的元素分布进行定性定量分析。 原理：利用不同元素的X射线光子特征能量不同进行成分分析。 EDS与WDS(Wave D