X荧光光度计（XRF）的主要特点
主要特点：（1）快速，测试一个样品只需2min-3min；（2）无损，测试过程中无需损坏样品，直接测试；（3）含量范围广；......阅读全文
荧光光谱仪分类
按荧光原理可分：原子荧光光谱仪、分子荧光光谱仪和X射线荧光光谱仪等。 原子荧光光谱仪是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下所产生的荧光发射强度,来测定待测元素含量的仪器。原子荧光激发光源一般为高强度空心阴极灯或无极放电灯一般原子荧光光度计用来对各类样品中痕量的铅、汞、砷、锗、锡、硒、碲、铋
X荧光分析仪的光源是“荧光”吗？
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。
韩国_XRF2000L_荧光金属镀层测厚仪
产品介绍 XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪产品描述： 应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。 行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。 特色 : 非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 可测量高达六层的
触摸屏X荧光测硫仪和按键X荧光定硫仪
触摸屏X荧光测硫仪RC-9000XS型X荧光测硫仪：优点：仪器改进后外形美观大方，nei部结构紧凑。RC-9000XS型X荧光测硫仪可以当老款5台使用。RC-9000XS型X荧光测硫仪从低含量到高含量wu需选择曲线，放样60秒出结果，适用多油种，存储空间大。做样一条曲线。可存储19条曲线按键X荧光测
金属元素分析方法
金属元素分析是指对金属元素的含量、组成、成分及其它性质进行测定的方法。主要包括对金属中金属元素的总量，包括铜、铝、铅、锌、镉等的测定，对金属元素含量及其成分的分析。金属元素分析主要是用来分析金属中所含的各种元素。常用的方法有：原子吸收光谱法；原子荧光光谱法；电感耦合等离子体发射光谱法；质谱法；X
原子荧光光度计的荧光类型
a）共振荧光----原子吸收的逆过程， 吸收的能量和释放的能量相等。E=hv=hc/λ b）非共振荧光----能量不相等，非共振荧光线 荧光猝灭，使用氩气做载气和屏蔽气，氩气作用： a）载气（内气：包括产生的氢化物蒸汽、氢气） b）屏蔽气（防止氢化物被氧化、抑制荧光猝灭、稳定原子化环境）
荧光定硫仪仪器主要特点
TS-3000型紫外荧光测硫仪采用紫外荧光法测定总硫含量，提高了抗杂质干扰的能力，避免了电量法对滴定池的繁锁操作和因此带来的不稳定因素，使得仪器的灵敏度大为提高。系统关键部件采用进口器件，使得整机性能有了可靠的保证。2、仪器执行标准为： SH/T 0689－2000 轻质烃及发动机燃料和其
德谱仪器有没有做ROHS仪器!
深圳德谱仪器有限公司总部位于风景秀丽的深圳市大前海金融中心区的高新奇战略新兴产业区及生产基地设立于上海，在沈阳、成都、武汉、杭州、厦门、昆明、广州、东莞等城市设有分支机构；是一家以光谱（XRF）、色谱、质谱产品为核心的研发、生产和销售的高科技企业；旗下拥有深圳市盛旺达仪器设备有限公司和深圳市德泽威检
XRF之X射线金属成分无损快速分析仪
自然界中大约有70多种金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等。而合金是指两种或两种以上的金属或金属与非金属结合而成，具有金属特性的材料。 常见的合金如铁和碳所组成的钢合金；铁、铬、镍组成的不锈钢；铜和锌所形成的黄铜等。 金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属
奥林巴斯收购XRF制造商InnovX－Systems公司
奥林巴斯2010年7月1日通过其美国子公司奥林巴斯NDT，获得美国Innov-X Systems公司的全部已发行股票，使该公司成为其合并结算子公司。美国Innov-X Systems公司是便携式X射线荧光分析仪器（XRF）的领先制造商。奥林巴斯意通过此次收购强化自己在全球的分析业务。
XRF之X射线金属成分无损快速分析仪
自然界中大约有70多种金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等。而合金是指两种或两种以上的金属或金属与非金属结合而成，具有金属特性的材料。 常见的合金如铁和碳所组成的钢合金;铁、铬、镍组成的不锈钢；铜和锌所形成的黄铜等。 金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属材料。
XRF之X射线金属成分无损快速分析仪
自然界中大约有70多种金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等。而合金是指两种或两种以上的金属或金属与非金属结合而成，具有金属特性的材料。 常见的合金如铁和碳所组成的钢合金；铁、铬、镍组成的不锈钢；铜和锌所形成的黄铜等。 金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属
简述荧光X射线测厚仪的功能
1、样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 2、计算机系统配置IBM计算机：1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
简述产生x射线荧光的原理
处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。当紫外光或波长较短的可见光照射到某些物质时，这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光，而当光源停止照射时，这种光线随之消失。这种在激发光诱导
荧光X射线测厚仪的主要规格
1、X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸 2、滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备
X荧光分析仪的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色
简述X射线荧光分析的应用
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X射线荧光仪器的基本介绍
X射线荧光仪器（X Ray Fluorescence，XRF）又称为X射线荧光光谱法，是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它是指根据原子在原级X射线或粒子的激发下发射出的次级的特征X射线（X射线荧光）的波长和长度，对元素进行定性和定量的分析方法。
X荧光镀层测厚仪的工作原理
一、X荧光镀层测厚仪的工作原理 若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。 下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
X射线荧光仪器的分类介绍
X射线荧光仪器根据能量分辨的原理不同，可分为波长色散型、能量色散X射线型和非色散型。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管作为激发源，产生入射X射线（一次X射线）用于激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线。由于不同的元素所放射出的二次
X射线荧光分析方法的简介
X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时，除发生散射现象和吸收现象外，还能产生次级X射线，即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此，根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分；再根据该荧光X射线的强度，还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展，6
电子激发X荧光分析的介绍
电子激发X荧光分析的轫致辐射本底比PIXE高二个量级以上，因此分析灵敏度低得多。但是，用聚焦的电子束激发样品表面1微米的区域,使产生元素的特征X 射线，可以观察样品表面组成的局部变化。用这种方法能测定合金、矿物、陶瓷等样品中的夹杂物和析出物，决定合金元素的局部富集区等。
X射线荧光仪器的历史介绍
X射线荧光仪器是指波长为0.01~10nm的电磁波，1895年伦琴（W. C. Roentgen）在使用放电管工作时发现了X射线，因为这一个重大发现，伦琴于1901年获得了诺贝尔奖。1913年莫斯莱（H. G. Moseley）建立了X射线波长与原子序数的关系，奠定了X射线荧光光谱分析的基础，第
X射线荧光光谱的概念
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X射线荧光的物理原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
X射线荧光分析的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光分析的基本介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir