二次离子质谱仪的质谱原理
Secondary-ion-mass spectroscope (SIMS)是一种基于质谱的表面分析技术,二次离子质谱原理是基于一次离子与样品表面互相作用现象(基本原理如图1所示)。带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面,在轰击的区域引发一系列物理及化学过程,包括一次离子散射及表面原子、原子团、正负离子的溅射和表面化学反应等,产生二次离子,这些带电粒子经过质量分析分析后得到关于样品表面信息的质谱,简称二次离子质谱。 通过质谱图可以用来获取样品表面的分子、元素及同位素的信息,可以探测化学元素或化合物在样品表面和内部的分布,也可以用于生物组织和细胞表面或内部化学成分的成像分析,配合样品表面扫描和剥离(溅射剥离速度可以达到10微米/小时),还可以得到样品表层或内部化学成分的三维图像。二次离子质谱具有很高的灵敏度,可达到ppm甚至ppb的量级,还可以进行微区成分成像和深度剖面分析。......阅读全文
TOFSIMS(飞行时间二次离子质谱仪)的工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击,一次离子可能受到样品表面的背散射(概率很小),也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度,在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子,这些原子中有一部分向表面运动,并把能量传递给表面离子使之发射,这种过程成为粒子
飞行时间二次离子质谱(TOFSIMS)研究
一、二次离子峰位归属煤及烃源岩中的有机组分的二次离子谱非常复杂,再加上目前对SIMS裂分机理掌握不够,因此,对煤及源岩有机质的SIMS谱图解释存在很多问题。目前对TOF-SIMS常见碎片离子峰认识程度综合于表7-7。本节研究重点是根据对现有峰位的认识,建立与13CNMR,Mirco-FT·IR可以类
3D成像二次离子质谱技术的相关介绍
质谱成像技术能将基质辅助激光解吸电离质谱的离子扫描与图像重建技术结合,直接分析生物组织切片,产生任意质荷比(m/z)化合物的二维或三维分布图。其中三维成像图是由获得的质谱数据,通过质谱数据分析处理软件自动标峰,并生成该切片的全部峰值列表文件,然后成像软件读取峰值列表文件,给出每个质荷比在全部质谱
二次离子谱仪的简介
中文名称二次离子谱仪英文名称secondary ion spectrometer定 义适用于元素的表面分布、深度分布的微区分析的能谱仪。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)
质谱仪质谱透镜系统的清洗
质谱透镜系统的清洗清洗质谱传输透镜首先需要将质谱仪彻底关机,整个过程需要穿戴干净的无粉手套,按照仪器的操作规程小心地将质谱透镜取出,用蘸润甲醇(色谱纯)的无尘纸轻轻将透镜擦拭,注意同时需要对透镜孔的内部进行清洗。与清洗ESI离子源类似,将透镜置于干净的烧杯中,根据透镜的污染情况选用相应的溶剂超声清洗
二次离子质谱仪对分析物的要求
在二次离子的常规检测中,可以用于分析的样品可以固体,也可以是粉末、纤维、块状、片状、甚至液体(微流控装置)。如果从导电性考虑,这些样品可以是导电性好的材料,也可以是绝缘体或者半导体。从化学组成上来分,可以是有机样品,如高分子材料、生物分子,也可以是无机样品,如钢铁、玻璃、矿石等。
简述二次离子质谱仪的应用领域
当前二次离子质谱领域发展迅速,在半导体制造中元素掺杂,薄膜的组分测量和其他无机材料,宇宙中同位素比例,地球中微量元素等领域具有非常重要应用。 通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段,尤其是对于分析不同薄层中的材料,以及相邻两层之间材料的相互影响 分析亚微米尺度下的特征
关于二次离子质谱仪操作模式的介绍
SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”(D-SIMS)"和“静态二次离子质谱“(S-SIMS)两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别,但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下,一次离子束流被控制在1013离子/cm2,常用飞行时间
质谱干扰离子
质谱仪种类很多,不同类型的质谱仪主要差别在于离子源。离子源的不同决定了对被测样品的不同要求,同时,所得信息也不同。质谱仪的分辨率同样十分重要,高分辨质谱仪可给出化合物的组成式,对于未知物定性至关重要。因此,在进行质谱分析前,要根据样品状况和分析要求选择合适的质谱仪。 目前,有机质谱仪主要有两大
质谱干扰离子
质谱仪种类很多,不同类型的质谱仪主要差别在于离子源。离子源的不同决定了对被测样品的不同要求,同时,所得信息也不同。质谱仪的分辨率同样十分重要,高分辨质谱仪可给出化合物的组成式,对于未知物定性至关重要。因此,在进行质谱分析前,要根据样品状况和分析要求选择合适的质谱仪。 目前,
质谱仪有机质谱仪的质谱透镜系统的清洗
质谱透镜系统的清洗清洗质谱传输透镜首先需要将质谱仪彻底关机,整个过程需要穿戴干净的无粉手套,按照仪器的操作规程小心地将质谱透镜取出,用蘸润甲醇(色谱纯)的无尘纸轻轻将透镜擦拭,注意同时需要对透镜孔的内部进行清洗。与清洗ESI离子源类似,将透镜置于干净的烧杯中,根据透镜的污染情况选用相应的溶剂超声清洗
质谱仪离子分子反应质谱仪技术原理
技术原理 离子分子反应质谱仪采用软电离方法,利用带有不连续能级的带电离子与样品气体分子发生离子分子反应,带正电荷的原子离子与包含待测分子的中性气流中的分子发生低能量碰撞,碰撞所产生的分子离子后续通过四极质量过滤器进行分离,通常的质量范围为7至519amu。 在电离过程中,为了能够使样品气体分
聚焦二次离子质谱技术的发展,港科大首发《Nature-Reviews》
5月9日,应《自然综述》系列期刊《Nature Reviews Methods Primers(自然综述-方法导论)》邀请,香港科技大学(广州)材料表征与制备中央实验室主任翁禄涛教授与二次离子质谱领域的多个国家的知名学者共同撰写了题为“Secondary ion mass spectrometr
第六届中国二次离子质谱会
会议时间:2016 年10 月 8-11 日 会议地点:大连,中国科学院大连化学物理研究所 第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所(地址详见附件1)举行。会议将为我国二次离子质谱 界的学术研讨、技术交流
质谱图的质谱中主要离子峰
从有机化合物的质谱图中可以看到许多离子峰,这些峰的m/z和相对强度取决于分子结构,并与仪器类型,实验条件有关。质谱中主要的离子峰有分子离子峰、碎片离子峰、同位素离子峰、重排离子峰及亚稳离子峰等。正是这些离子峰给出了丰富的质谱信息,为质谱分析法提供依据。分子受电子束轰击后失去一个电子而生成的离子M+称
气体分析质谱质谱原理
质谱仪配备QuaderaTM 分析软件, 操作简单, 功能强大, 有128 个检测通道,可生成用户特殊应用软件界面. 在参数设置, 多种实测方式, 谱库, 数据统计, 谱图放大, 光标, 输入输出模块等性能的支持下, 可以更方便地进行定性定量分析以及在线离线分析. Omnistar/
质谱原理
在过去15年,液相色谱串联质谱仪(LC-MS/MS)已作为常规检测技术广泛应用于许多临床检验室。在小分子量化合物的检测方面,LC-MS/MS比常规的免疫分析法或高效液相法(HPLC)更具有特异性,比气相色谱法(GC-MS)更高效。LC-MS/MS作为一种高效高质的分析技术,广泛应用于临床检测,包括治
金属基质增强飞行时间二次离子质谱用于单细胞脂质分析
1引 言 单个细胞在结构、组成及代谢等方面存在差异,这种差异带来的影响在组织、器官等的功能上均有所体现。针对多个细胞的常规分析方法测得的结果通常无法保留这些个体差异信息,难以准确评估及预测细胞的生理学行为,因此,单细胞分析引起越来越多的关注[1]。单细胞分析的一个重要内容是单细胞脂质分析。脂
质谱计/质谱仪的分类详细介绍
质谱仪又称质谱计,分离和检测不同同位素的仪器。质谱仪以离子源、质量分析器和离子检测器为核心。质谱仪能用高能电子流等轰击样品分子,使该分子失去电子变为带正电荷的分子离子和碎片离子。根据带电粒子在电磁场中能够偏转的原理,按物质原子、分子或分子碎片的质量差异进行分离和检测物质组成的一类仪器。质谱仪按应用范
质谱仪质谱真空检漏、调谐的维护
质谱仪的调谐是为了得到好的质谱数据,在进行样品测试前要进行质谱真空检漏、调谐。在开关机、换灯丝之后要做调谐,如仪器一直处于开机状态,1-2周要做一次调谐。调谐完之后要重新做标准曲线。 检查水峰、氮峰,如果氮气m/z 28的峰高是水m/z 18峰高两倍以上,就有可能漏气。
离子迁移谱和质谱的区别
离子迁移谱和质谱有相同之处,也有不同之处。都要先对目标物离子化,所以都有离子源;最终经过分离、检测的都是离子,检测器基本也一样;都是既可以检测正离子也可以检测负离子(+/-模式)。不同的是离子分离的原理:离子迁移利用离子的淌度不同分离离子,在离子迁移管中完成,离子的淌度与离子的电荷数、离子的体积大小
离子色谱质谱联用技术独特的原理和优势
超强离子分离,更多色谱信息——基于离子交换的分离原理离子色谱主要使用离子交换的分离原理,和常规液相色谱主要基于疏水吸附的反相分离原理形成互补,可以很好分离常规液相色谱难以分离的强极性可电离物质。即使是基于亲水相互作用的HILIC色谱,可以分离强极性物质,但也难以分离强电离物质。不同技术对复杂代谢物组
离子阱质谱的功能
离子阱分析器它是由环行电极和上、下两个端盖电极构成的三维四极场。原理:将离子储存在阱里,然后改变电场按不同质荷比将离子推出阱外进行检测。 功能强大 离子阱有全扫描和选择离子扫描功能,同时具有离子储存技术,可以选择任一质量离子进行碰撞解离,实现二级或多级MSn分析功能。但离子阱的全扫描和选择离
离子阱质谱的应用
利用离子阱作为分析器的质谱仪称为离子阱质谱仪。使用最多的是由高频率电场进行离子封闭的保罗阱。由一个双曲面截面的环形电极和上下一对端电极构成。封闭在真空池内的离子,通过高频电压扫描,将离子按m/z从池中引出进行检测。 离子阱质谱仪是一种低分辨时间可以进行msn的测定。而且价格比其它类型的串联质谱
离子阱质谱的优势
离子阱强大的定性能力,在现场分析中仍待进一步挖掘。由于离子阱质谱具备储存离子的能力,故其可以将目标离子存储,碰撞,并再次检测,这就使得了单一的离子阱具有等同于三重四级杆的定性能力。由于目前还没有便携式的三重四级杆气质联用仪,故离子阱在定性方面的优势可谓是一枝独秀。如果能将离子阱质谱的这一优势充分
质谱中的各种离子
1). 分子离子(molecular ion)分子被电子束轰击失去一个电子形成的离子称为分子离子。分子离子用M+•表示。分子离子是一个游离基离子。在质谱图上,分子离子对应的峰为分子离子峰。分子离子峰的应用:分子离子峰的质荷比就是化合物的相对分子质量,所以,用质谱法可测分子量。2). 同位素离子(is
离子阱质谱简介
离子阱质谱(ITMS)是利用高电场使质谱进样端的毛细管柱流出的液滴带电,在氮气气流的作用下,液滴溶剂蒸发,表面积缩小,表面电荷密度不断增加,直至产生的库仑力与液滴表面张力达到雷利极限,液滴爆裂为带电的子液滴,这一过程不断重复使最终的液滴非常细小呈喷雾状,这时液滴表面的电场非常强大,使分析物离子化
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别离子阱 ion trap轨道阱 obitrap离子阱是利用射频电场实现对离子的束缚和弹出从而实现分离,电场是变化的.轨道阱是利用静电场实现离子分离,电场不变.
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别
离子阱 ion trap轨道阱 obitrap离子阱是利用射频电场实现对离子的束缚和弹出从而实现分离,电场是变化的.轨道阱是利用静电场实现离子分离,电场不变.