TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子溅射。在一次离子束轰击样品时，还有可能发生另外一些物理和化学过程：一次离子进入晶格，引起晶格畸变；在具有吸附层覆盖的表面上引起化学反应等。溅射粒子大部分为中性原子和分子，小部分为带正、负电荷的原子、分子和分子碎片；2. 电离的二次粒子（溅射的原子、分子和原子团等）按质荷比实现质谱分离；3. 收集经过质谱分离的二次离子，可以得知样品表面和本体的元素组成和分布。在分析过程中，质量分析器不但可以提供对于每一时刻的新鲜表面的多元素分析数据。而且还可以提供表面某一元素分布的二次离子图像。4. TOF（Time of Flight）的独特之处在于......阅读全文
飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次
ToFSIMS助力研究人员解开“塔利怪物”之谜
分析测试百科网讯 莱斯特大学的研究团队最近解开了一块3亿年前的化石“塔利怪物”之谜，利用独有的眼部表征技术，确定古老的“塔利怪物”为古代脊椎动物。 被俗称为“塔里怪物”的古老生物化石，是在北美洲的伊利诺伊州煤炭采石场被发现的， “塔利怪物”化石具有一个条纹状的身体，一条长长的尾巴，在其头部还具
飞行时间二次离子质谱（TOFSIMS）研究
一、二次离子峰位归属煤及烃源岩中的有机组分的二次离子谱非常复杂，再加上目前对SIMS裂分机理掌握不够，因此，对煤及源岩有机质的SIMS谱图解释存在很多问题。目前对TOF-SIMS常见碎片离子峰认识程度综合于表7-7。本节研究重点是根据对现有峰位的认识，建立与13CNMR,Mirco-FT·IR可以类
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的主要用途
1. 掺杂剂与杂质的深度剖析2. 薄膜的成份及杂质测定 （金属、电介质、锗化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、浅植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整体分析，包含B, C, O,以及N5. 工艺工具（离子植入）的高精度分析
“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”项目启动会召开
3月22日，科技部国家重大科学仪器设备开发专项“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”项目启动会在北京召开。该项目由中国地质科学院地质研究所牵头，中科院大连化学物理研究所、吉林大学、中国地质科学院矿产资源研究所参与。大连化物所李海洋研究员和王利研究员分别承担了“精度及高分辨飞行
“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”开发专项获新进展
2015年1月27日，国土资源部科技与国际合作司组织有关专家在北京对中国地调局地科院地质所牵头，中国科学院大连化学物理研究所、吉林大学和中国地调局地科院资源所所等单位参加的“国家重大科学仪器设备开发专项”项目《同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器》（编号：2011YQ050069）
二次离子质谱仪的发展历史
自从Dunnoyer 第一次发现离子在真空中沿直线运动已经有100年的历史，自此以后，分子束的应用在二十世纪持续到二十一世纪，它为重大技术进步和基础研究奠定了基础，分子束用于溅射源是其中应用之一。 尽管在是十九世纪中叶溅射的现象已经观察到，直到十九世纪四十年代，随着真空技术的进步，Herzog
7400万－刘敦一团队入选重大科学仪器设备项目
由中国地质科学院地质所北京离子探针中心牵头(刘敦一研究员担任项目负责人)，联合中国科学院大连化学物理研究所、吉林大学和中国地质科学院矿产资源研究所共同申请的国家重大科学仪器设备开发专项项目“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”于近日通过科技部组织的专家评审并正式启动，获得7400万元的专项
面向动态表界面分析的原位液相二次离子质谱新技术研究获进展
表界面化学是能源、环境和生命等前沿科学领域的核心。在分子水平上表征表界面化学，对阐明上述领域关键科学问题的化学本质具有重要意义。然而，表界面层极薄、其物种复杂性及高度动态性，对化学测量学提出了挑战。飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是迅速发展的先进表界面分析技术。而作为基于高真空环境的分析技术
单细胞质谱分析的现状与发展
2015年10月17日，第二届全国质谱分析学术报告会在浙江大学紫荆港校区体育馆盛大开幕，在5位院士的精彩报告后，多位学者做了高水平的大会报告。 清华大学张新荣教授：单细胞质谱分析的现状与发展 清华大学张新荣教授做题为《单细胞质谱分析的现状与发展》的报告。细胞是生命活动的基本单元，在单细胞
二次离子质谱技术的分析和应用
二次离子质谱是一种具有超高分辨率和灵敏度的固体表面分析技术。它可以分析氢元素到铀元素在内的所有元素和同位素，还可以得到固体表面官能团和分子结构等信息。SIMS可以分为静态SIMS（SSIMS）和动态SIMS（DSIMS）两种类型，通过不同扫描类型，得到二次离子质谱图、化学成像、动态深度剖析曲线等
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。中文名 二次离子
清华大学仪器共享平台泰斯肯－高分辨高灵敏度表面分析系统
仪器名称：高分辨高灵敏度表面分析系统仪器编号：22000545产地：捷克生产厂家：泰斯肯型号：S9000X出厂日期：购置日期：2021-12-30所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>高分辨高灵敏度表面分析分室放置地点：逸夫技术科学楼A136固定电话：62797277固定手机：固定email：
清华大学仪器共享平台泰思肯－高分辨高灵敏度表面分析系统
仪器名称：高分辨高灵敏度表面分析系统仪器编号：22000545产地：捷克生产厂家：泰斯肯型号：S9000X出厂日期：购置日期：2021-12-30所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>高分辨高灵敏度表面分析分室放置地点：逸夫技术科学楼A136固定电话：62797277固定手机：固定email：
飞行时间二次离子质谱共享
仪器名称：飞行时间二次离子质谱仪器编号：13027664产地：德国生产厂家：ION-TOF GmbH型号：TOF.SIMS 5出厂日期：2012.5购置日期：201312所属单位：化学系>分析中心>北京电子能谱中心放置地点：理科楼D-104固定电话：固定手机：固定email：联系人：郭冲（010-6
质谱应用沙龙：探索质谱极限助力生命健康研究
分析测试百科网讯 2018年3月30日，2018年度北京质谱年会在北京蟹岛会议中心召开。30日下午，举办了分会场学术沙龙，分别是：食品与环境，医药与生命科学，无机质谱技术及应用（ICP-MS沙龙暨第十七期原子光谱沙龙），质谱新技术/新方法。学术应用及产业界的专家都分享了各领域的新技术及新应用，与
关于飞行时间二次离子质谱仪的介绍
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)。在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨
两台“特殊”质谱仪落户核工业北京地质研究院
核工业北京地质研究院分析测试研究中心是以核能材料、放射性标准物质的制备、地质矿产和环境分析测试技术研究与服务为主的综合性检测实验室技术机构，也是核工业地质行业的仲裁分析测试实验室，是地质行业同位素分析、微束分析等领域的权威机构。 核工业北京地质研究院分析测试研究中心采购了两台特殊的质谱仪，今年
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
直播预告|3位专家分享二次离子质谱技术前沿研究
直播时间：2024年6月24日（周一）18:00——20:00直播平台：科学网APPhttps://weibo.com/l/wblive/p/show/1022:2321325046574324515136（科学网微博直播间链接）科学网微博科学网视频号【直播简介】2024 年 06 月 24 日，F
化学所在铂类抗癌化合物分子作用机制研究方面取得进展
金属抗肿瘤药物损伤DNA会导致一系列细胞应激反应，其中最直接的就是多种核蛋白对DNA损伤的识别和结合，因此探索DNA结合蛋白对药物抗癌活性的调控作用具有重要意义。中国科学院化学研究所研究员汪福意团队利用功能化纳米金作为亲合富集工具，应用基于质谱的蛋白质组学研究方法，从肿瘤细胞裂解液中富集、捕获和定性
飞行时间二次离子质谱法
飞行时间二次离子质谱法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空环境下向样品射入1次离子束，从样品的浅表层（1~3nm）释放出2次离子。将2次离子导入飞行时间（TOF型）质谱仪，就可以获得样品最表层的质谱。此时，再通过调
材料质谱分析
主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS（1） 电感耦合等离子体质谱(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法；该离子源
质谱分析
主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS（1） 电感耦合等离子体质谱(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法；该离子源产生的样
专家学者齐聚南京－共话质谱分析新方法
分析测试百科网讯 2016年12月18日，2016年全国生命分析化学学术大会质谱分析新方法分会在南京国际展览中心召开。分会邀请了清华大学张新荣、南师师范大学陈大勇、浙江大学潘远江、香港浸会大学蔡宗苇等10余位质谱方面的专家学者作精彩报告。 质谱分析新方法分会现场 清华大学 张新荣 清华大学
七大材料结构分析方法七——探针和扫描显微分析
所谓探针，就是探测固体表面信息的针。探针射向或接近固体表面某微区，所激发的某些物理信号携带该微区的结构信息。 常用仪器：电子探针X射线显微分析仪（EPA），俄歇电子能谱（AES），X射线光电子能谱仪（XPS），扫描隧道显微镜，原子力显微镜，飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）等 应用实例
美研究人员用飞行时间二次离子质谱绘制癌症运动地图
由于肿瘤细胞利用组织环境并垄断可用资源以继续生长，因此研究人员很难识别散布在非恶性组织中的肿瘤细胞。这限制了他们对癌症细胞运动轨迹的探究。近日，华盛顿大学研究人员使用一种新技术，可生成肿瘤样本中任何特定分子的地图，进而讲述了肿瘤生长的故事。 飞行时间二次离子质谱分析 研究人员将癌症细胞利用细
武汉大学预算1000万采购质谱仪
近日，湖北省武汉大学发布一条采购计划，于2020年9月政府采购聚焦离子束-电子束双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统项目所在采购意向：武汉大学2020年9月政府采购意向采购单位：武汉大学采购项目名称：聚焦离子束-电子束双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统预算金额：1000.000000万
刘敦一：仪器应用全球共享－中国的仪器研发要从高端入手
造自己的仪器从高端入手、紧跟应用需求 地质学研究需要高精尖的仪器，刘敦一教授领导的团队不只是在使用最先进的仪器，同时也在研发我国自己的仪器，自主研发了二次离子质谱和串联飞行时间质谱的关键部件和关键技术、新产品、新装置和计算机软件等19项，申报了18项ZL，已获2项国内发明ZL和1项国外发明