X射线粉末衍射仪送检样品的要求
送检样品可为粉末状、块状、薄膜及其它形状。 粉末样品需要量约为0.2g(视其密度和衍射能力而定)； 块状样品要求具有一个面积小于45px×45px的近似平面； 薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于45px×45px；其它样品可咨询实验室。......阅读全文
X射线粉末衍射仪送检样品的要求
送检样品可为粉末状、块状、薄膜及其它形状。 粉末样品需要量约为0.2g(视其密度和衍射能力而定)； 块状样品要求具有一个面积小于45px×45px的近似平面； 薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于45px×45px；其它样品可咨询实验室。
X射线粉末衍射仪对样品的要求
送检样品可为粉末状、块状、薄膜及其它形状。粉末样品需要量约为0.2g(视其密度和衍射能力而定)；块状样品要求具有一个面积小于45px x45px的近似平面;薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于45px x 45px；其它样品可咨询实验室。
X射单晶末衍射仪对检测样品的要求
送检样品必须为单晶，选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致。 不附着小晶体，没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷。 晶体长、宽、高的尺寸均为0.1~0.4mm ，即晶体对角线长度不超过0.5mm(大晶体可用切割方法取样，小晶体则要考虑其衍射能力)。
X射线衍射仪中粉末样品为什么要转动
为了能增大衍射强度，衍射仪法中采用的是平板式样品，以便使试样被X射线照射的面积较大。这里的关键：一方面试样要满足布拉格方程的反射条件。*另一方面还要满足衍射线的聚焦条件，使整个试样上产生的x衍射线均能被计数器所接收。在理想的情况下，x射线源、计数器和试样在一个聚焦圆上。对于粉末多晶体试样，在任何方位
多晶粉末X射线衍射仪
多晶粉末X射线衍射仪是一种用于核科学技术领域的分析仪器，于2015年12月10日启用。 技术指标 1．工作温度：15-25 °C 2．工作湿度：40-80 % 3．UPS电源：30 kVA（220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz） 4．最大输出功率：2.2 kW （铜靶）
X射线粉末衍射仪
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍
X射线粉末衍射仪简介
CXRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称
原位X射线粉末衍射仪
主要指标:功率50KV*40mA最小步长 0.0001测量角度范围1-120仪器角度分辨率+/-0.0001功能及应用范围:X射线衍射仪可对样品进行结构参数分析，如物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数测定，晶粒尺寸及点阵畸变测定，粉末衍射图谱拟合修正晶体结，结构分析，结晶度测定，此外还可进行
X射线粉末衍射仪用途
1，判断物质是否为晶体。 2，判断是何种晶体物质。 3，判断物质的晶型。 4，计算物质结构的应力。 5，定量计算混合物质的比例。 6，计算物质晶体结构数据。 7，和其他专业相结合会有更广泛的用途。 比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
X射线粉末衍射仪用途
1，判断物质是否为晶体。2，判断是何种晶体物质。3，判断物质的晶型。4，计算物质结构的应力。5，定量计算混合物质的比例。6，计算物质晶体结构数据。7，和其他专业相结合会有更广泛的用途。比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
X射线粉末衍射仪用途
1，判断物质是否为晶体。2，判断是何种晶体物质。3，判断物质的晶型。4，计算物质结构的应力。5，定量计算混合物质的比例。6，计算物质晶体结构数据。7，和其他专业相结合会有更广泛的用途。比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
X射线粉末衍射仪概述
X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。 X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。 “X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶
X射线粉末衍射仪的介绍
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍
X射线衍射仪（XRD）检测样品时有哪些要求？
常规测试、结晶度分析、取向度测试、晶粒尺寸分析、物相分析、小角衍射。 1、送样者在测试X射线衍射之前，请务必事先了解晶体学的基础知识和X射线衍射的基本原理。为什么要用X射线衍射仪以及测试项目（晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等）； 2、送样前，请用简单易记的英文字母（如：A,B,C…
X射线衍射实验样品制备要求
1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于15X20毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。 2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合理选择相应的方向平面。 3、对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，
简述X射线粉末衍射仪用途
1、判断物质是否为晶体。 2、判断是何种晶体物质。 3、判断物质的晶型。 4、计算物质结构的应力。 5、定量计算混合物质的比例。 6、计算物质晶体结构数据。 7、和其他专业相结合会有更广泛的用途。 比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
关于X射线衍射分析的样品要求介绍
1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。 2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合 理选择响应的方向平面。 3、对于测量金属样品的微观 应力（ 晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单
关于X射线粉末衍射仪的简介
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之
X射线粉末衍射仪和X射线衍射仪又什么区别
“X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶衍射仪器".由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难.所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术.单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构.粉末衍射也可以分析出空间结构.但是大分子（比如蛋白质等）等复杂的很难分析.X射线粉末衍射可以
X射线粉末衍射法
一、基本原理：当一束单色X射线投射到晶体上，晶格中原子散射的电磁波互相干涉和相互叠加，在某一方向得到加强或抵消的现象，称为衍射。相应的方向称为衍射方向。晶体衍射X射线的方向与构成晶体的晶胞大小、形状及入射的X射线波长有关。 衍射光的强度与晶体内原子的类型和晶胞内原子的位置有关，所以，从衍射光束
X射线粉末衍射仪的概念和作用
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍
气质联用仪对固体送检样品的要求
1、有机小分子 若分析固体样品中的易挥发组分，可直接送样；若分析固体样品中的有机组分，则一般需用合适的有机溶剂将其中的有机组分提取出来，如果体系较复杂，还需进一步净化，最后为提高检测灵敏度，一般需要浓缩。 2、高分子聚合物 进行该类样品分析，需要用到裂解附件。裂解温度是200-750度。若
扫描电子显微镜X－射线能谱仪送检样品要求
送检样品必须为干燥固体，块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状均可。 应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形； 无磁性、放射性和腐蚀性。 对含水份较多的生物软组织样品，要求用户预先进行临界点干燥前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理。 最后再由本室进行临界点
X射线粉末衍射结构精修
X射线衍射 X射线衍射是一种利用X射线在晶体中的衍射现象来研究物质的物相和晶体结构的方法。X射线衍射的基本原理是根据布拉格方程，当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊
晶体结构鉴定手段或方法
X射线衍射分析、红外光谱分析X-射线粉末衍射法是利用单色X-射线照射到粉末晶体或多晶样品上，所得的衍射图称为粉末图。用粉末图谱解决有关晶体结构等问题的方法称为X-射线粉末衍射法;通常用Debye-Scherrer照相法。其优点是所需样品少，甚至0.1mg也可以测定，收集的衍生数据完全，仪器设备和试验
实验室光学仪器X射线衍射仪的XRD制样样品要求
X射线衍射实验的准确性和实验得到的信息质量好与坏与样品的制备有很大关系,因此在做XRD衍射实验时应合理处理样品和制备样品。Xrd可以测量块状和粉末状的样品,对于不同的样品尺寸和样品性质有不同的要求。制备时应考虑晶粒大小、试样的大小及厚度、择优取向、加工应变和表面平整度。1)块状样品的要求及制备a.对
粉末x射线衍射仪的基本原理和主要结构
粉末x射线衍射仪的基本原理X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。X射线的波长较短,大约在10-8～10-10cm之间。粉末x射线衍射仪上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管,在管子两极间加上高电压,阴极就会发射出高速电
原子荧光光谱仪对送检样品的要求
(1) 、样品分析一般要求： 原子荧光光谱仪分析的对象是以离子态存在的砷(As)、硒(Se)、锗(Ge)、碲(Te)等及汞(Hg)原子，样品必须是水溶液或能溶于酸。 (2) 、固体样品： ① 无机固体样品：样品经简单溶解后保持适当酸度。 检测砷（As）、硒（Se）、碲（Te）、汞（Hg）
做一次粉末衍射(XRD)需要多少样品
差不多吧，如果要压片的话，要研细一点。如果不需要压片，水平放置就能测定，0.1g也可以。
实验室分析仪器对送检样品的要求知多少？（二）
11. 离子色谱仪： 送检样品可以溶于水，或稀酸、稀碱，所用的酸碱不能含有待测离子。对于样品中含有待测元素，但在水、酸、碱溶液中以非离子状态存在的化合物，需要进行相应的样品前处理。 12. 等离子体原子发射光谱仪： (1)对送检样品(检测条件)的要求： ①请告知样