扫描电子显微镜X射线能谱仪送检样品要求
送检样品必须为干燥固体，块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状均可。 应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形； 无磁性、放射性和腐蚀性。 对含水份较多的生物软组织样品，要求用户预先进行临界点干燥前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理。 最后再由本室进行临界点干燥处理。图像观察样品应预先镀金膜，成份分析样品必需镀碳膜。一般情况下，样品体积不宜太大（≤5x5x2mm较适合）。......阅读全文
扫描电子显微镜X－射线能谱仪送检样品要求
送检样品必须为干燥固体，块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状均可。 应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形； 无磁性、放射性和腐蚀性。 对含水份较多的生物软组织样品，要求用户预先进行临界点干燥前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理。 最后再由本室进行临界点
X射线粉末衍射仪送检样品的要求
送检样品可为粉末状、块状、薄膜及其它形状。 粉末样品需要量约为0.2g(视其密度和衍射能力而定)； 块状样品要求具有一个面积小于45px×45px的近似平面； 薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于45px×45px；其它样品可咨询实验室。
场发射扫描电子显微镜送检样品的要求
送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。 应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形； 无磁性、放射性和腐蚀性。 含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理，最后进行临界点干燥处理。
扫描电子显微镜及X射线能谱仪的原理与维护
扫描电子显微镜结合X射线能谱仪在化学、物理、材料学、生物、医学等领域的应用中,具有非常重要的地位。本文主要介绍了扫描电子显微镜及X射线能谱仪的工作原理、结构特点,并对仪器的维护与使用方面进行了一定的介绍,与广大同行进行探讨。
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
X－射线能谱
X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补
扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合检测射击残留物
在司法物证检验中,通常采用扫描电镜/X射线能谱仪自动检测枪击案件中的射击残留物。但在检出的可疑颗粒物中,经常遇到硫(S)、锑(Sb)元素含量偏低的情况,用X射线能谱仪很难认定该颗粒物就是射击残留物。本文采用了扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合方法,能检测出射击残留物中的S和Sb元素,弥补了X射
用于电子显微镜中的X射线能谱仪
本文扼要介绍了目前国内外用于电子显微镜中的X射线能谱仪的发展概况、应用情况以及达到的测量水平,并分别叙述了硬件和软件两方面现状、水平及近期改进的展望。 CAJ下载PDF下
应用扫描电镜和X射线能谱仪研究钛酸钡
该文使用发射扫描电子显微镜和X射线能谱仪对钛酸钡进行表征。针对钛酸钡的材料特性和工作目标,采用了多种测试工作条件,通过其结果对比,找到了对钛酸钡进行形貌观察的最佳条件,并分析了其成分。
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
扫描电子显微镜及X射线能谱仪在物证鉴定中的应用
在司法物证鉴定中对金属分离物的同一性认定或金属分离物成分特殊的 ,可用 X射线能谱仪快速判定 ;对金属分离物成分无特征的 ,可根据其金相组织来判定。
用x射线能谱仪测量样品成份的新方法
本文提出了x射线能谱测试中的一个新参数η_A~B,其物理意义是单个电子激发元素A与B的特征x射线强度之比。在此基础上,提出了一种新的测试方法。实验证明,新方法既具有全标样法的精度又具有无标样法简便迅速的优点。
X射线能谱仪的原理介绍
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法
X射线光电子能谱仪和样品制备
XPS仪由X射线激发源、样品台、电子能量分析器、检测器系统、超高真空系统等部分组成。X射线源：在目前的商品仪器中，一般采用Al/Mg双阳极X射线源。常用的激发源有Mg Ka X射线，光子能量为1253.6 eV和Al Ka X射线，光子能量为1486.6 eV。电子能量分析器：电子能量分析器是XPS
扫描电子显微镜X射线能谱仪在司法鉴定中的应用研究
通过具体案例,开展了扫描电子显微镜(SEM)配合X-射线能量色散谱仪(EDS)在司法案件物证分析鉴定方面的应用研究,尤其是提出了当以纤维所含无机元素成分的定性、定量分析作为鉴定依据时所应注意的相关问题,为司法部门公正办案提供了必要的科学依据.
X射线能谱岩芯扫描分析技术的研究开发
XRF(X射线荧光光谱分析)岩芯扫描方法,是一种非破坏性的、高效的岩芯元素组成分布的XRF分析测试方法。我们研制的国内第一台XRF岩芯扫描仪将传统的点数据改为线扫描面积型数据,使数据对样品元素组成的变化趋势描述的更加准确,清晰,结合计算机数据分析,可以提供可靠的趋势数据。
微量金属物证的扫描电镜/X射线能谱检验
金属物证是常见物证,在各类案件中都可能碰到,尤以盗窃案中为最多.作案使用的工具例如改锥、钳子、钢锯、以及配制钥匙等都会在现场造成微量金属的转移.传统的检验方法是用肉眼或光学显微镜进行痕迹比对.但扫描电镜具有光学显微镜所无法相比的优势,尤其对于粗糙样品,扫描电镜的数值孔径α一般在10-2～10-3,其
X射线衍射仪（XRD）检测样品时有哪些要求？
常规测试、结晶度分析、取向度测试、晶粒尺寸分析、物相分析、小角衍射。 1、送样者在测试X射线衍射之前，请务必事先了解晶体学的基础知识和X射线衍射的基本原理。为什么要用X射线衍射仪以及测试项目（晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等）； 2、送样前，请用简单易记的英文字母（如：A,B,C…
软X射线能谱仪数据采集系统
在 线 存 储 软X射线能谱仪的结构框图见图1。不同能量的软X射线被Johann弯晶衍射分光,分光后的能量分布转化成在探测器上对应的位置分布。位置灵敏、时间分辨好的MWPC和MCP都可做为这种探测器。软X射线区适用的MWPC采用逐丝阳极读出法以允许高计数率,同时也是为了满足将可测能区延伸到更低能区时
应用X射线能谱仪检验原子印油
原子印章是一种新型的印章。原子印章携带和使用极为方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊结构,其印油的成份不同于普通的印台油及印泥。早期的原子印油多为国外进口,目前国内亦有一些厂家生产。我们应用扫描电子显微镜和 X 射线能谱仪对原子印油进行检验,获得一些有用的信息。
X射线能谱仪谱峰重叠问题的探讨
针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题,进行机理分析和归纳总结,提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带来定性分析偏差的方法.
扫描电镜结合X射线能谱仪在皮革鉴定中的应用
利用扫描电镜和X射线能谱仪对牛皮革、羊皮革、猪皮革肉面纤维束和人造革底基纤维进行了形态结构观察和元素分析。结果表明:皮革肉面纤维束与人造革底基纤维在形态结构与元素组成等方面存在着显著性差异,可以用于皮革的鉴定中。
扫描电子显微镜能谱仪
扫描电子显微镜-能谱仪是一种用于物理学、化学、生物学、冶金工程技术领域的分析仪器，于2009年8月31日启用。 技术指标 二次电子像分辨率：1.0nm(15kv)；1.4nm(1kv,减速模式)；2.0nm (1kV)普通模式；加速电压：0.5 ~ 30kV；放大倍率：×20 ~ ×800,
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
X射线衍射实验样品制备要求
1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于15X20毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。 2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合理选择相应的方向平面。 3、对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，
X射线能谱测量与模拟
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作
高能脉冲X射线能谱测量
给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3