XPS能谱仪样品的制备和处理
XPS能谱仪对分析的样品有特殊的要求,所以待分析样品需要根据情况进行一定的预处理。由于在实验过程中样品必须通过传递杆,穿过超高真空隔离阀,送进样品分析室。因此对样品的尺寸有一定的大小规范,以利真空进样。通常固体薄膜或块状样品要求切割成面积大小为0.5cm×0.8cm大小,厚度小于4mm。为了不影响真空,要求样品要尽量干燥。另外,装样品不要使用纸袋,以免纸纤维污染样品表面。对于粉体样品,可以用胶带法制样,即用双面胶带直接把粉体固定在样品台上。这时要求粉末样品要研细。这种方法制样方便,样品用量少,预抽到高真空的时间较短,可缺点是可能会引进胶带的成分。另外一种制样方法是压片制样,即把粉体样品压成薄片,然后再固定在样品台上,有利于在真空中对样品进行处理,而且其信号强度也要比胶带法高得多,不过样品用量太大,抽到超高真空的时间太长。在普通的实验过程中,一般采用胶带法制样。考虑到对真空度影响,对于含有挥发性物质的样品(如单质S或P或有机挥发物......阅读全文
基于LabVIEW的扫描探针电子能谱仪离线数据处理系统
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)的离线数据处理系统。该系统是由国家仪器公司(National Instrument,NI)开发的图形化语言LabVIEW(Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench)来实现的,能够根据我们SP
XPS用于定性分析、定量分析
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的
X射线光电子能谱—扫描电镜联用表征技术最新进展
科学技术在不断的蓬勃发展，日新月异的创新不仅改变着我们的生活方式，也推动着样品分析表征领域前所未有的进步与探索。目前，在样品分析表征中，仍然存在着多项挑战： 对样品的全面了解通常需要使用不同的仪器进行分析 扫描电子显微镜（SEM）： 提供高空间分辨的样品表面形貌图像，利用配套的X射线能谱分
全自动电解质分析仪样品的收集和处理
1．采集样本时必须遵守基本的防范规则。所有的血液样本都有潜在的传染性，可能包含人类免疫缺陷病毒(HIV)，肝炎B病毒(HBV)或其它的可怕的病原。为减少实验室可能的危险，必须掌握正确的血液采集技术。处理血液和其它体液时戴手套是必不可少的。2．对于全血和血浆，加入推荐使用的抗凝剂-平衡肝素不会影响电解
粗纤维测定仪的样品处理和安全注意事项
样品前处理是实验的基础工作，也是决定测定结果准确率的关键因素。就拿粗纤维测定实验来说，在利用粗纤维测定仪检测前，需要做好以下样品处理工作。1.将需要测定的样品磨粉碎至40-60目，过筛，烘干至恒重。2.若样品必须在新鲜状态下测量（即在含水状态下），则必须在同样条件下测量一个不含水的干样，以确定里面的
平插式能谱仪概述
平插式能谱仪是一种用于材料科学、矿山工程技术、能源科学技术领域的分析仪器，于2018年10月17日启用。 技术指标 能量分辨率：MnKa优于127eV，主能谱仪在400,000CPS内MnKa始终优于127eV。元素分析范围: B5～Cf98。谱峰稳定性：1,000cps到100,000cp
波谱仪和能谱仪工作原理
波谱仪和能谱仪的范围基本一样，在于波谱仪的分析定量精度要高于能谱仪，可以对重叠的谱峰进行分峰处理和分析。而能谱仪以快速分析见长。但是现在波谱仪也有了进步，分析起来已经很快，对于定量要求不高的样品，十几秒就够了。
俄歇电子能谱仪简介
俄歇电子能谱仪（AugerElectronSpectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
波谱仪和能谱仪工作原理
波谱仪和能谱仪的范围基本一样，在于波谱仪的分析定量精度要高于能谱仪，可以对重叠的谱峰进行分峰处理和分析。而能谱仪以快速分析见长。但是现在波谱仪也有了进步，分析起来已经很快，对于定量要求不高的样品，十几秒就够了。根据具体问题类型，进行步骤拆解／原因原理分析／内容拓展等。具体步骤如下：／导致这种情况的原
扫描电镜与能谱仪
扫描电镜利用精细聚焦电子束照射在样品表面,该电子束可以是静止或在样品表面作光栅扫描。在这个过程中,电子束与样品相互作用产生各种信号,其中包括二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线和不同能量的光子等,这些信号来自样品中的特定区域,分别利用探测器接收,可以提供样品的各种信息,用于研究材料的微观形貌、
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
能谱仪性能指标
固体角：决定了信号量的大小，该角度越大越好检出角：理论上该角度越大越好探头：新型硅漂移探测器（SDD）逐步取代锂硅Si(Li)探测器能量分辨力：目前最高级别的能谱仪分辨力可达121eV探测元素范围：Be4～U92
能谱仪结构及工作原理
能谱仪结构及工作原理能谱仪,结构,工作原理,特征X射线,X射线探测器X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法.它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用.1.特征X射线的产生特征
元素分析和xps的原理分别是什么
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。XPS不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、化学键方面的信息。 X射线光子的能量
一文了解xps分析元素含量
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。XPS不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、化学键方面的信息。 X射线光子的能量
一文了解xps分析元素含量
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。XPS不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、化学键方面的信息。
液相色谱仪液体样品预处理技术样品预处理技术概述
色谱分析的全过程主要包括四个步骤:样品的采集、样品的制备、色谱分析及数据处理与结果的表达。样品采集包括取样点的选择和样品的收集、样品的运输和储存;样品制备包括将样品中欲测组分与样品基体和干扰组分分离、富集及转化成色谱仪器可分析的形态等操作。色谱分析样品的采集和制备是一个非常重要且复杂的过程,通常将色
色谱柱的样品制备
1、样品应当尽可能溶解在能与流动相相互溶的溶剂中。除特殊指明外，如使用强溶剂溶解样品柱子的分辨率将可能降低。 2、样品溶液在进样前应使用针头式过滤器对样品预先过滤。频繁改变流动相组成，会加速降低柱效。 3、色谱柱由高压匀浆法装填，能承受较高压力。为获得最佳分离效果，使用时请不要超过200kg
什么是样品的制备
样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置．由透射电镜的工作原理可知，供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100～200 nm为宜．此外，所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征，因此，样品制备时不可影响这些特征，如已产生影响则必须知道
什么是样品的制备
样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置．由透射电镜的工作原理可知，供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100～200 nm为宜．此外，所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征，因此，样品制备时不可影响这些特征，如已产生影响则必须知道
什么是样品的制备
样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置．由透射电镜的工作原理可知，供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100～200nm为宜．此外，所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征，因此，样品制备时不可影响这些特征，如已产生影响则必须知道影
什么是样品的制备
样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置．由透射电镜的工作原理可知，供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100～200 nm为宜．此外，所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征，因此，样品制备时不可影响这些特征，如已产生影响则必须知道
固体样品的制备（五）
硫酸和双氧水混合物的湿式消解方法： 准备至少2g均匀同质的样品备于分析。将样品剪小成小片，每一片不大于0.1g。称取大约0.5g测试样品，精确度为mg，放入消解设备中，执行重复两份的分析。将烧杯防于加热平板，加入10mL硫酸，加热到一个较高的温度来消解和炭化有机物质。当产生白色烟雾的时候，再持续
样品的采取及制备
首先明确的是食品分析的一般程序为：样品的采集、制备和保存，样品的预处理、成分分析、分析数据处理及分析报告的撰写。 那么什么是样品的采集呢？所谓采样就是从整批产品中抽取一定量具有代表性样品的过程。一． 采样的目的意义 首先正确采样，必须遵守两个原则：第一，采集的样品要均匀，有代表性，能
固体样品的制备（四）
工业硅中的成分测定 称取0.5000g的样品，置于250m聚四氟乙烯烧杯中，用少量纯水润湿，加入10ml氢氟酸，缓慢滴加硝酸(1+1)至试样基本溶解，置于电热板上加热15分钟后取下，加入5毫升高氯酸，继续加热至冒高氯酸白烟取下，用水冲洗杯壁，再加热蒸发至近干，取下。加入5毫升(1+1)硝酸，用少
固体样品的制备（二）
水泥样品处理 方法一：准确称量0.1克样品到125毫升三角瓶烧杯中，加适量的亚沸水再加10毫升盐酸(1+1)溶解，低温加热待样品完全溶解后微沸5分钟，冷却转移到100毫升容量瓶，水稀释定容。 方法二：准确称量0.1克样品到50毫升塑料王(PTFE烧杯)中，加入10毫升氢氟酸，1毫升高氯酸分解
固体样品的制备（一）
分析样品的采集、制备(分粹、缩分)是分析工作的第道工序，也是往往容易忽视而重要的一道工序。如果出现差错，则整个随后的分析工作是毫无意义了。不同类型的样品都有不同相应的样品加工规范。总而言之应该考虑到： 1、采样的代表性 2、样品加工 对原始样品进行粉粹，过滤，浓缩和混匀，防止过程中污染。
固体样品的制备（三）
硅铁中杂质分析测定: 称取0.5000g的样品，置于120ml铂金皿中，加入15毫升硝酸,摇匀,小心滴加氢氟酸至样品溶解清亮，用水冲洗皿壁,加入5毫升高氯酸，继续加热至冒高氯酸白烟取下，冷却,用水冲洗杯壁，然后继续加热蒸发至近干，取下冷却。加入15毫升(1+1)盐酸，用少量水冲洗四壁，加热溶解盐
TEM粉末样品的制备
粉末样品的制备1．选择高质量的微栅网（直径3mm），这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步；（注：高质量的微栅网目前本实验室还不能制备，是外购的，价格20元/只；普通碳膜铜网免费提供使用。）2．用镊子小心取出微栅网，将膜面朝上（在灯光下观察显示有光泽的面，即膜面），轻轻平放在白色滤纸上；3