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XPS 谱图中有哪些重要的谱线结构?具体是什么?XPS 谱图一般包括光电子谱线,卫星峰(伴峰),俄歇电子谱线,自旋- 轨道分裂(SOS)等1)光电子谱线:每一种元素都有自己特征的光电子线,它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰,称为XPS 的主谱线。实例说明一:上图中,对于In 元素而言,In 3d 强度最大、峰宽最小,对称性最好,是In 元素的主谱线。而除了主谱线In 3d 之外,其实还有In 4d,In 3p 等其它谱线,这是因为In 元素有多种内层电子, 因而可以产生多种In XPS 信号。2)卫星峰(伴峰):常规X射线源(Al/Mg Kα1,2)并非是单色的,而是还存在一些能量略高的小伴线(Kα3,4,5和Kβ等),所以导致XPS 中,除Kα1,2 所......阅读全文
XPS 谱图中有哪些重要的谱线结构?具体是什么?XPS 谱图一般包括光电子谱线,卫星峰(伴峰),俄歇电子谱线,自旋- 轨道分裂(SOS)等1)光电子谱线:每一种元素都有自己特征的光电子线,它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰,称为XPS 的主谱线。实例说明一:上图中
XPS谱图一般包括光电子谱线，卫星峰（伴峰），俄歇电子谱线，自旋-轨道分裂(SOS)等
在XPS谱图中,包含极其丰富的信息,从中可以得到样品的化学组成,元素的化学状态及其各元素的相对含量。XPS谱图分为两类,一类是宽谱(wide)。当用AlKα或MgKα辐照时,结合能的扫描范围常在0-1200eV或 0-1000eV。在宽谱中,几乎包括了除氢和氦元素以外的所有元素的主要特征能量的光电子
XPS的定性分析和价态分析都是基于光电子谱图中峰位置的能量值。为确保分析的准确性，XPS仪应定期（每工作几个月或半年）进行能量校准。能量校准方法：在实际的工作中，一般选用碳氢化合物(CH2)n中的污染峰C1s峰作参考进行调节，(CH2)n一般来自样品的制备处理及机械泵油的污染。也有人将金镀到样品表面
电子电离后，芯能级出现空位，弛豫过程中若使另一电子激发成为自由电子，该电子即为俄歇电子。俄歇电子谱线总是伴随着XPS，但具有比XPS更宽更复杂的结构，多以谱线群的方式出现。特征：其动能与入射光ｈν无关。
每一种元素都有自己特征的光电子线，它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰，称为XPS的主谱线。
XPS是大家期盼已久的内容，我们希望尽量能够让大家满意。首先给大家分享下我们的更新计划：今天是第一期，主要解决的是XPS的一些最基本的原理以及常规知识；从下一期开始我们主要采用实例的方法进行分享，介绍XPS具体怎么用，如何分峰拟合，XPS还包括哪些高级检测手段等等。XPS看似简单，其实包含的内容
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面