飞行时间二次离子质谱法
飞行时间二次离子质谱法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空环境下向样品射入1次离子束，从样品的浅表层（1~3nm）释放出2次离子。将2次离子导入飞行时间（TOF型）质谱仪，就可以获得样品最表层的质谱。此时，再通过调低1次离子的照射量，检测保留了表面成分化学结构的分子离子和部分碎片离子，就可以获取最表层的元素构成和化学结构的信息。飞行时间（TOF型）质谱仪由于脉冲后1次离子的照射而产生的2次离子在一定能量下被加速，根据质量不同以不同速度（轻离子高速，重离子低速）进入质谱仪。达到检测器的时间（飞行时间）与质量有着函数关系，通过精密测定此飞行时间的分布可以获取质谱。 ......阅读全文
飞行时间二次离子质谱法
飞行时间二次离子质谱法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空环境下向样品射入1次离子束，从样品的浅表层（1~3nm）释放出2次离子。将2次离子导入飞行时间（TOF型）质谱仪，就可以获得样品最表层的质谱。此时，再通过调
飞行时间二次离子质谱共享
仪器名称：飞行时间二次离子质谱仪器编号：13027664产地：德国生产厂家：ION-TOF GmbH型号：TOF.SIMS 5出厂日期：2012.5购置日期：201312所属单位：化学系>分析中心>北京电子能谱中心放置地点：理科楼D-104固定电话：固定手机：固定email：联系人：郭冲（010-6
飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次
关于飞行时间二次离子质谱仪的介绍
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)。在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨
二次离子质谱法的简介
二次离子质谱法是指当初级离子束（Ar+，O2+，N2+, O-，F-，N -或Cs+等） 轰击固体试样表面时，它可以从表面溅射出各种类型的二次离子，利用离子在电场，磁场或自由空间中的运动规律，通过质量分析器，可以使不同质荷比的离子分开，经分别计数后可得到二次离子强度-质荷比关系曲线的分析方法。
一单位880万采购飞行时间二次离子质谱仪
某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目公开招标公告 项目概况 某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件，并于2023年10月30日13点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：OITC-G
飞行时间二次离子质谱（TOFSIMS）研究
一、二次离子峰位归属煤及烃源岩中的有机组分的二次离子谱非常复杂，再加上目前对SIMS裂分机理掌握不够，因此，对煤及源岩有机质的SIMS谱图解释存在很多问题。目前对TOF-SIMS常见碎片离子峰认识程度综合于表7-7。本节研究重点是根据对现有峰位的认识，建立与13CNMR,Mirco-FT·IR可以类
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的主要用途
1. 掺杂剂与杂质的深度剖析2. 薄膜的成份及杂质测定 （金属、电介质、锗化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、浅植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整体分析，包含B, C, O,以及N5. 工艺工具（离子植入）的高精度分析
单台近1500万－飞行时间二次离子质谱仪项目中标
一、项目编号：DLDC-2024-GKZB00014 二、项目名称：飞行时间二次离子质谱仪项目 三、中标（成交）信息 1.中标结果：序号中标金额中标供应商名称中标供应商地址1投标报价:14750000元浙江鸿煌科技有限公司浙江省杭州市西湖区翠苑新村三区11幢5单元配套用房1620室 四、
单台近千万，浙江大学采购飞行时间二次离子质谱仪
项目概况 飞行时间二次离子质谱仪等设备 招标项目的潜在投标人应在详见公告原文获取招标文件，并于2025年12月30日 14点00分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：ZUPC-GK-HW-2025035G 项目名称：飞行时间二次离子质谱仪等设备 预算金额：998.
高德英特中标860万飞行时间二次离子质谱仪采购项目！
近日，高德英特（北京）科技有限公司发布《飞行时间二次离子质谱仪采购项目中标公告》，8589000.00元中标飞行时间二次离子质谱仪。详细信息如下：一、项目编号：OITC-G230610908（招标文件编号：OITC-G230610908） 二、项目名称：某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目三、中标（
1160万！南京大学公开采购飞行时间二次离子质谱仪
公告信息采购项目名称飞行时间二次离子质谱仪品目货物/设备/仪器仪表/教学仪器采购单位南京大学行政区域南京市公告时间2023年11月06日 15:45获取招标文件时间2023年11月06日至2023年11月13日每日上午:9:00 至 11:30 下午:13:30 至 17:00（北京时间，法定节假日
质谱分析法术语二次离子质谱法
二次离子质谱法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次离子质谱仪进行质析的方法，该法依赖于所用不同二次离子质譜仪，可划分为四极杆二次离子质（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辩二次离子质谱仪（ high resolu
金属基质增强飞行时间二次离子质谱用于单细胞脂质分析
1引 言 单个细胞在结构、组成及代谢等方面存在差异，这种差异带来的影响在组织、器官等的功能上均有所体现。针对多个细胞的常规分析方法测得的结果通常无法保留这些个体差异信息，难以准确评估及预测细胞的生理学行为，因此，单细胞分析引起越来越多的关注[1]。单细胞分析的一个重要内容是单细胞脂质分析。脂
美研究人员用飞行时间二次离子质谱绘制癌症运动地图
由于肿瘤细胞利用组织环境并垄断可用资源以继续生长，因此研究人员很难识别散布在非恶性组织中的肿瘤细胞。这限制了他们对癌症细胞运动轨迹的探究。近日，华盛顿大学研究人员使用一种新技术，可生成肿瘤样本中任何特定分子的地图，进而讲述了肿瘤生长的故事。 飞行时间二次离子质谱分析 研究人员将癌症细胞利用细
离子阱飞行时间质谱工作方式
随着国内医药行业的飞速发展，以及国内外大环境的要求，质谱作为一种非常有用的检测仪器以及手段，逐渐受到国内医药企业的重视并不断普及。而其中的翘楚-高分辨质谱在药物研发方面，尤其是本人从事的药物杂质研究方面拥有着无与伦比的地位。然而，就质谱本身而言，不论是仪器维护还是应用研究，都需要有一定的理论基础
单台1200万！南京大学拟采购一套飞行时间二次离子质谱仪
南京大学2023年10至11月政府采购意向-飞行时间二次离子质谱仪，预算金额1200万元，预计采购时间为10月份。详细情况如下：飞行时间二次离子质谱仪项目所在采购意向：南京大学2023年10至11月政府采购意向采购单位：南京大学采购项目名称：飞行时间二次离子质谱仪预算金额：1200.000000
岛津－电喷雾离子阱/飞行时间串联质谱仪共享
仪器名称：电喷雾-离子阱/飞行时间串联质谱仪仪器编号：13032571产地：日本生产厂家：日本岛津公司型号：LCMS IT/TOF出厂日期：201204购置日期：201312所属单位：化学系>分析中心>高分辨有机质谱室放置地点：理科楼分析中心二层 D216固定电话：010-62797463固定手机：
离子阱飞行时间质谱Trap－TOF－的优缺点
需要仔细维护以3D离子阱作为质量选择器和反应器，结合了离子阱的多级质谱能力和飞行时间质谱的高分辨能力优点同时具有多级串级和高分辨能力，适合于未知样品的定性工作，如糖蛋白的定性缺点由于离子阱容量限制，对于混合样品的灵敏度欠佳定量能力弱
液相色谱离子阱飞行时间质谱相关简介
技术特点：岛津LCMS-IT-TOF，即液相色谱-离子阱-飞行时间质谱，通过独创一系列关键的ZL技术，将离子阱质谱的多级质谱分析和飞行时间质谱的高灵敏度、高质量准确度、高分辨率结合在一起，可以前所未有的进行多级质谱解析，每一级质谱又能达到高质量精度的强大功能。简而言之，可以实现“多级高分辨”的功
国家标准氮化镓材料中镁含量的测定二次离子质谱法
１国家标准《氮化镓材料中镁含量的测定二次离子质谱法》编制说明（预审稿）一、工作简况1.立项的目的和意义GaN材料的研究与应用是目前全球半导体研究的前沿和热点，是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料，并与SiC、金刚石等半导体材料一起，被誉为是继第一代Ge、Si半导体材料、第二代GaAs、InP
等离子质谱法是什么
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）是以等离子体为离子源的一种质谱型元素分析方法。主要用于进行多种元素的同时测定，并可与其他色谱分离技术联用，进行元素价态分析。测定时样品由载气（氩气）引入雾化系统进行雾化后，以气溶胶形式进入等离子体中心区，在高温和惰性气氛中被去溶剂化、汽化解离和电离，转化成带正电
等离子质谱法是什么
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）是以等离子体为离子源的一种质谱型元素分析方法。主要用于进行多种元素的同时测定，并可与其他色谱分离技术联用，进行元素价态分析。测定时样品由载气（氩气）引入雾化系统进行雾化后，以气溶胶形式进入等离子体中心区，在高温和惰性气氛中被去溶剂化、汽化解离和电离，转化成带正电
等离子质谱法是什么
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）是以等离子体为离子源的一种质谱型元素分析方法。主要用于进行多种元素的同时测定，并可与其他色谱分离技术联用，进行元素价态分析。测定时样品由载气（氩气）引入雾化系统进行雾化后，以气溶胶形式进入等离子体中心区，在高温和惰性气氛中被去溶剂化、汽化解离和电离，转化成带正电
一文了解质谱相对强度
国际标准分类中，质谱中相对强度涉及到分析化学。 在中国标准分类中，质谱中相对强度涉及到基础标准与通用方法、化学。 日本工业标准调查会，关于质谱中相对强度的标准 JIS K0153-2015 表面化学分析. 二次离子质谱法. 静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会，
1910万！国家地质实验测试中心冷冻聚焦氙离子束飞行时间二次离子质谱系统公开招标公告
项目概况 国家地质实验测试中心冷冻聚焦氙离子束-飞行时间二次离子质谱系统 招标项目的潜在投标人应在北京市海淀区西三环北路21号久凌大厦南楼15层获取招标文件，并于2025年06月19日 13点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：0773-2541GNJTHWGK1
飞行时间质谱技术
质谱分析本是一种物理方法，其基本原理是使试样中各组分在离子源中发生电离，生成不同荷质比的带正电荷的离子，经加速电场的作用，形成离子束，进入质量分析器。在质量分析器中，再利用电场和磁场使发生相反的速度色散，将它们分别聚焦而得到质谱图，从而确定其质量。第一台质谱仪是英国科学家阿斯顿质谱仪开始主要是作为一
飞行时间质谱－(TOF)
分析物的质荷比是根据分析物在真空飞行管中的飞行时间推算出的。飞行时间质谱的质量分析器由调制区、加速区、无场飞行空间和检测器等部分组成。样品分子电离以后，将离子加速并通过一个无场区，不同质量的离子具有不同的能量，通过无场区的飞行时间长短不同，可以依次被收集检测出来。四极杆 (Quadrupole，Q)
飞行时间质谱简介
飞行时间质谱，Time of Flight Mass Spectrometer (TOF)，是一种很常用的质谱仪。这种质谱仪的质量分析器是一个离子漂移管（ion drift tube）。由离子源产生的离子首先被收集。在收集器中所有离子速度变为0。使用一个脉冲电场加速后进入无场漂移管，并以恒定速度