多晶衍射法的衍射仪法简介
X射线衍射仪以 布拉格实验装置为原型，融合了机械与电子技术等多方面的成果。衍射仪由X 射线发生器、 X射线测角仪、 辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成，是以特征X射线照射多晶体样品，并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。现代X 射线衍射仪还配有控制操作和运行 软件的计算机系统。X 射线衍射仪的成像原理与聚集法相同，但记录方式及相应获得的衍射花样不同。衍射仪采用具有一定发散度的入射线，也用“同一圆周上的同弧 圆周角相等”的原理聚焦，不同的是其聚焦圆半径随 2θ的变化而变化。衍射仪法以其方便、快捷、准确和可以自动进行数据处理等特点在许多领域中取代了照相法，现在已成为晶体结构分析等工作的主要方法。......阅读全文
多晶衍射法的衍射仪法简介
X射线衍射仪以 布拉格实验装置为原型，融合了机械与电子技术等多方面的成果。衍射仪由X 射线发生器、 X射线测角仪、 辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成，是以特征X射线照射多晶体样品，并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。现代X 射线衍射仪还配有控制操作和运行 软件的计算机系统。X 射线
粒度仪激光衍射散射法简介
颗粒是在一定尺寸范围内具有特定形状的几何体。颗粒不仅指固体颗粒，还有雾滴、油珠等液体颗粒。颗粒的概念似乎很简单，但由于各种颗粒的形状复杂，使得粒度分布的测试工作比想象的要复杂得多。因此要真正了解各种粒度测试技术所得出的测试结果，明确颗粒的定义是很重要的。 激光粒度仪是根据光的散射现象测量颗粒大
多晶衍射法的照相法相关内容
照相法以光源发出的特征X 射线照射 多晶样品，并用底片记录衍射花样。根据 样品与底片的相对位置，照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法，其中德拜法应用最为普遍。 德拜法以一束准直的特征X 射线照射到小块粉末样品上，用卷成圆柱状并与样品同轴安装的窄条底片记录衍射信息，获得的衍射花样是一些衍射弧。此
电子衍射法的简介
中文名称电子衍射法英文名称electron diffraction method定 义通过记录和分析入射电子束与试样物质发生相干弹性散射而形成的电子衍射图像。测定试样晶体结构的电子能谱法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
多晶x射线衍射的简介
用 X射线衍射法研究多晶样品的成分和结构的一种实验方法，也称粉末法。多晶是指由无数微细晶粒组成的细粉状样品或块状样品。
多晶X射线衍射仪
多晶X射线衍射仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2008年7月1日启用。 技术指标 ● X射线高压发生器：最大功率：3kW，最大电压：60kV，最大电流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大电压：60kV，最大电流：55mA ● q/q 扫描模式，扫描范围：0.
多晶x射线衍射仪
主要应用于样品的物像定性或定量分析、晶体结构分析、材料的织构分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等等，因此，在材料科学、物理学、化学、化工、冶金、矿物、药物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑侦、商检等众多学科和行业中都有广泛的应用，是理工科院校和材料研究、
多晶粉末X射线衍射仪
多晶粉末X射线衍射仪是一种用于核科学技术领域的分析仪器，于2015年12月10日启用。 技术指标 1．工作温度：15-25 °C 2．工作湿度：40-80 % 3．UPS电源：30 kVA（220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz） 4．最大输出功率：2.2 kW （铜靶）
x射线单晶衍射仪和多晶衍射仪的区别
衍射仪的进展主要在三个方面:1、X射线发生器，2、探测器，3、衍射几何与光路。折叠x射线发生器X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。折叠探测器探测器是用来记录衍射谱的，因而是多晶体衍射设备中不可或缺的重要部件之一。早先被广泛使用的是照相底
单晶衍射法的概述
单晶X 射线衍射分析的基本方法为劳埃法与周转晶体法。 劳埃法 劳埃法以光源发出连续X 射线照射置于 样品台上静止的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同，劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制，是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组
多晶X射线衍射仪的基本构造
多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)
多晶体衍射
1916年，美籍荷兰物理学家、化学家德拜（Peter Joseph Wilhelm Debye，1884-1966）和瑞士物理学家谢乐（Paul Scherrer，1890-1969）发展了用X射线研究晶体结构的方法，采用粉末状的晶体代替较难制备的大块晶体。粉末状晶体样品经X射线照射后在照相底片上可
粒度仪激光衍射散射法的性能特点
性能特点： (1)测量动态范围宽，适用性广。现在先进的激光粒度仪的动态范围可达1：1 000(动态范围是指仪器同时能测量的最小颗粒与最大颗粒之比)。 (2)测量速度快。测量一个样品一般只需1．一2 min。 (3)测量精度高，重现性好。 (4)操作方便，不受环境温度的影响。 (5)不破
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的？花样 有何特征？各有何应用多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环.多晶取向完全混乱,可看作是一个单晶体围绕一点在三维空间内旋转,故其倒易点是以倒易原点为圆心,（hkl）晶面间距的倒数为半径的倒易球,与反射球相截为一个圆.所有能产生衍射的半点都扩展
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的
电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件（布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等）和系统消光规律.但电子波是物质波,按入射电子能量的大小,电子衍射可分为高能电子衍射、低能电子衍射和反射式高能电子衍射,而x射线衍射是x射线照射样品.
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的？花样 有何特征？各有何应用多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环.多晶取向完全混乱,可看作是一个单晶体围绕一点在三维空间内旋转,故其倒易点是以倒易原点为圆心,（hkl）晶面间距的倒数为半径的倒易球,与反射球相截为一个圆.所有能产生衍射的半点都扩展
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的
电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件（布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等）和系统消光规律.但电子波是物质波,按入射电子能量的大小,电子衍射可分为高能电子衍射、低能电子衍射和反射式高能电子衍射,而x射线衍射是x射线照射样品.
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的
多晶x射线衍射和多晶电子衍射花样是如何形成的？花样 有何特征？各有何应用多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环.多晶取向完全混乱,可看作是一个单晶体围绕一点在三维空间内旋转,故其倒易点是以倒易原点为圆心,（hkl）晶面间距的倒数为半径的倒易球,与反射球相截为一个圆.所有能产生衍射的半点都扩展
双晶衍射法的相关介绍
双晶衍射仪用一束X 射线（通常用Ka1作为射线源）照射一个参考晶体的表面，使符合 布拉格条件的某一 波长的X 射线在很小角度范围内被反射，这样便得到接近单色并受到偏振化的窄 反射线，再用适当的光阑作为限制，就得到近乎准值的X射线束。把此X 射线作为第二晶体的入射线，第二晶体和 计数管在衍射位置附
中子衍射法的应用介绍
中子衍射主要应用于：1、晶体单色器从反应堆引出的热中子是连续谱。如果再引出孔道外面安置一单晶片，中子束以掠射角射向单晶片。根据布喇格条件在与入射方向成角的方向上可接受到波长为的单能中子，是反射晶面的间距。改变不同的，就可以得到不同波长的单能中子。2、极化中子中子束选取适当的铁磁晶体，通过相干衍射可以
x射线衍射法的原理
原理：将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已
x射线衍射法的原理
原理：将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已
x射线衍射法的原理
原理：将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已
x射线衍射法的原理
原理：将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已
多晶X射线衍射仪（XRD）的基本构造
多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)
多晶x射线衍射的原理
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
多晶X射线衍射的原理
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
多晶x射线衍射的分类
多晶衍射有照相法和衍射仪法两类。常用的粉末照相法为德拜-谢乐法（图 1）。相机为一金属圆筒，内径通常为57.3毫米或114.6毫米,样品装在圆筒的中心轴线上，通过马达带动使它不停地转动；紧贴内壁放置长条形X光底片；入射的单波长X射线经准直管作用在样品上，穿透样品后的 X射线进入射线收集器而被吸收
多晶X射线衍射的原理
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
X射线衍射法的原理及方法
X射线衍射法是一种晶体结构的分析方法，而不是直接研究试样内含有元素的种类及含量的方法。当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射。晶体衍射X射线的方向，与构