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多晶衍射法的衍射仪法简介

X射线衍射仪以 布拉格实验装置为原型,融合了机械与电子技术等多方面的成果。衍射仪由X 射线发生器、 X射线测角仪、 辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成,是以特征X射线照射多晶体样品,并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。现代X 射线衍射仪还配有控制操作和运行 软件的计算机系统。X 射线衍射仪的成像原理与聚集法相同,但记录方式及相应获得的衍射花样不同。衍射仪采用具有一定发散度的入射线,也用“同一圆周上的同弧 圆周角相等”的原理聚焦,不同的是其聚焦圆半径随 2θ的变化而变化。衍射仪法以其方便、快捷、准确和可以自动进行数据处理等特点在许多领域中取代了照相法,现在已成为晶体结构分析等工作的主要方法。......阅读全文

多晶衍射法的衍射仪法简介

  X射线衍射仪以 布拉格实验装置为原型,融合了机械与电子技术等多方面的成果。衍射仪由X 射线发生器、 X射线测角仪、 辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成,是以特征X射线照射多晶体样品,并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。现代X 射线衍射仪还配有控制操作和运行 软件的计算机系统。X 射线

粒度仪-激光衍射散射法简介

  颗粒是在一定尺寸范围内具有特定形状的几何体。颗粒不仅指固体颗粒,还有雾滴、油珠等液体颗粒。颗粒的概念似乎很简单,但由于各种颗粒的形状复杂,使得粒度分布的测试工作比想象的要复杂得多。因此要真正了解各种粒度测试技术所得出的测试结果,明确颗粒的定义是很重要的。  激光粒度仪是根据光的散射现象测量颗粒大

多晶衍射法的照相法相关内容

  照相法以光源发出的特征X 射线照射 多晶样品,并用底片记录衍射花样。根据 样品与底片的相对位置,照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法,其中德拜法应用最为普遍。  德拜法以一束准直的特征X 射线照射到小块粉末样品上,用卷成圆柱状并与样品同轴安装的窄条底片记录衍射信息,获得的衍射花样是一些衍射弧。此

多晶x射线衍射仪

主要应用于样品的物像定性或定量分析、晶体结构分析、材料的织构分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等等,因此,在材料科学、物理学、化学、化工、冶金、矿物、药物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑侦、商检等众多学科和行业中都有广泛的应用,是理工科院校和材料研究、

多晶X射线衍射仪

  多晶X射线衍射仪是一种用于材料科学领域的分析仪器,于2008年7月1日启用。  技术指标  ● X射线高压发生器:最大功率:3kW,最大电压:60kV,最大电流:60mA ● 陶瓷X光管:Cu靶,最大功率:2.2kW, 最大电压:60kV,最大电流:55mA ● q/q 扫描模式,扫描范围:0.

单晶衍射法的概述

  单晶X 射线衍射分析的基本方法为劳埃法与周转晶体法。  劳埃法  劳埃法以光源发出连续X 射线照射置于 样品台上静止的单晶体样品,用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同,劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制,是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组

多晶粉末X射线衍射仪

  多晶粉末X射线衍射仪是一种用于核科学技术领域的分析仪器,于2015年12月10日启用。  技术指标  1.工作温度:15-25 °C 2.工作湿度:40-80 % 3.UPS电源:30 kVA(220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz) 4.最大输出功率:2.2 kW (铜靶)

多晶X射线衍射仪的基本构造

多晶X射线衍射仪,也称粉末衍射仪,通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成:1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等

多晶体衍射

1916年,美籍荷兰物理学家、化学家德拜(Peter Joseph Wilhelm Debye,1884-1966)和瑞士物理学家谢乐(Paul Scherrer,1890-1969)发展了用X射线研究晶体结构的方法,采用粉末状的晶体代替较难制备的大块晶体。粉末状晶体样品经X射线照射后在照相底片上

x射线衍射法的原理

原理:将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定,进而求得面间隔,即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已