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科研人员利用次级束装置研究电子俘获致核激发现象

基于兰州重离子加速器装置(HIRFL)的放射性束流线RIBLL1,中国科学院近代物理研究所与合作者创造性地利用同核异能态束流探究了电子俘获致同核异能态激发现象。该实验工作大幅提升了测量精度和可靠性,首次提供了与理论预期相符的测量结果。6月17日,相关研究成果发表在《物理评论快报》上。 长寿命的同核异能态普遍存在。一般情况下,同核异能态具有MeV量级的激发能,是潜在的理想储能材料。如果能够人工大量生产并控制其退激发释放能量,同核异能态可被用于新一代高能量密度核电池等产品的研发。理论预言,同核异能态有可能被电子俘获高效激发,并在后续退激过程中释放全部能量。 2018年,美国科学家报道了首例电子俘获致同核异能态激发的现象,而实验测量的激发几率远超理论预期,引起了学界的关注和讨论。2021年,近代物理所在《自然》Matters Arising栏目上发表评论文章提出,该工作是在复杂和极强γ本底条件下开展的,且其本底处理较为理想化,......阅读全文

科研人员利用次级束装置研究电子俘获致核激发现象

  基于兰州重离子加速器装置(HIRFL)的放射性束流线RIBLL1,中国科学院近代物理研究所与合作者创造性地利用同核异能态束流探究了电子俘获致同核异能态激发现象。该实验工作大幅提升了测量精度和可靠性,首次提供了与理论预期相符的测量结果。6月17日,相关研究成果发表在《物理评论快报》上。  长寿命的

什么叫电子俘获检测器

电子捕获检测器(ECD)是灵敏度最高的气相色谱检测器,同时又是最早出现的选择性检测器。它仅对那些能俘获电子的化合物,如卤代烃、含N、O和S等杂原子的化合物有响应。由于它灵敏度高、选择性好,多年来已广泛用于环境样品中痕量农药、多氯联苯等的分析。

电子束光刻投影电子束扫描系统

  扫描式电子束曝光系统可以得到极高的分辨率,但其生产率较低,不能满足大规模生产的需要。成形束系统生产率固然有所提高,但其分辨率一般在0.2μm左右,难以制作纳米级图形。近年来研发的投影电子束来曝光系统,既能使曝光分辨率达到纳米量级,又能大大提高生产率,且不需要邻近效应校正。在研制中的投影式电子束曝

电子束加热

电子束加热是相变处理时,电子束使金属材料表面很快上升到奥氏体相变退度(低于熔化温度),持续一段时间后电子束停止轰击.热t很快向冷的荃体金属扩散,使加热表面自行淬火,其组织转变为马氏体,表面硬度显著提离。电子束加热(electron beam furnace)或译电子束炉或简称EB炉(EB furna

研究揭示星体环境下的电子俘获速率

  近日,来自中国科学院近代物理研究所、美国密歇根州立大学等机构的科学家们利用电荷交换反应,研究了丰中子核素附近的原子核93Nb的电子俘获速率并取得进展。  一些大质量恒星演化到最后阶段时,会通过超新星爆发的方式结束自己的生命。超新星爆发是宇宙中最高能、最为神秘的天体活动之一。在对超新星爆发的模拟过

HIRFL-RIBLL1首次提供低能7Be次级束流

  近日,中国科学院近代物理研究所与中国原子能科学研究院、北京航空航天大学、北京大学、中山大学等RIBLL合作组成员单位在兰州重离子加速器国家实验室(HIRFL)的放射性束流线(RIBLL1)终端合作开展了7Be+209Bi核反应机制实验研究。HIRFL-RIBLL1首次为实验提供了高品质的低能7B

电子束光刻成型电子束扫描系统

  成形电子束曝光系统按束斑性质可分成固定和可变成形束系统。固定成形束系统在曝光时束斑形状和尺寸始终不变;可变成形束系统在曝光时束斑形状和尺寸可不断变化。按扫描方式,成形电子束曝光系统又可分为矢量扫描型和光栅扫描型。一种尺寸可变的矩形束斑的形成原理是电子束经上方光阑后形成一束方形电子束,再照射到下方

电子束加热历史

电子束熔炼电子束熔炼的概念是M.V.皮拉尼(M.VonPirani)于1905年提出的,但直到50年代中期美国成功地开发电子束熔炼炉后才在熔炼难熔金属钨、钼、钽等的冶金领域获得工业应用。1959年民主德国LEW公司开发了功率为45kw的电子束熔炼炉,60年代又先后研制出200kw和1200kw的电

电子束ct的简介

  电子束CT亦称超快速CT。它是利用电子束穿透人体及快速的床面移动来完成扫描的。其最快扫描速度为50ms/层。从总体上评价,它优于螺旋CT扫描 。主要是单位时间内扫描范围比螺旋CT大,移动产生的伪影比螺旋扫描少。

气相色谱仪之电子俘获检测器简介

电子俘获检测器(electron capture detector,ECD)是应用广泛的一种具有选择性、高灵敏度的浓度型检测器。它的选择性是指它只对具有电负性的物质(如含有卤素、硫、磷、氮、氧的物质)有响应,电负性愈强,灵敏度愈高。高灵敏度表现在能测出10-14g·mL-1的电负性物质。   在检测