扩展X射线吸收精细结构的结构特点
扩展X射线吸收精细结构，英文eXtended X-ray absorption finestructure（EXAFS），其特点是：入射到样品后透射的Xα光、出射的荧光或光电子都产生扩展X射线吸收现象；扩展X射线吸收现象决定于短程有序作用，不需要长程结构，可得到吸收原子邻近配位原子的种类、距离、配位数、无序度因子；X射线吸收边具有因子特征，可以调节X射线的能量，对不同元素的原子周围环境分别进行研究；利用强X射线或荧光探测技术可以测量几个微浓度的样品；可用于测定固体、液体、气体样品，一般不需高真空，不损坏样品。采用能量色散技术，一个扩展X射线吸收谱可在几个微秒内完成，能用于跟踪物质的制备和反应过程，直接给出动力学信息。......阅读全文
X射线衍射分析有什么特点
物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，X射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关，利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开
X射线衍射分析有什么特点
物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，X射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关，利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开
X射线衍射分析有什么特点
物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，X射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关，利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开
扩展蛋白的结构
其氨基末端为约 2 2个氨基酸编码的信号肽，进入分泌途径后被剪切， 使扩张蛋白成为成熟肽 。该蛋白碳末端假定的结合 区域 ( 约10kDa ) 含有一系列保守的色氨酸残基 ( w) ， 这些色氨酸残基有一定的间隔，很像纤维酶 的纤维素结合区域。中间区域 ( 1 5 k Da ) 被认为是重要的催
X射线衍射发分析物质结构的原理
当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。布拉格方程1913年英国物理学家
X射线探测器的结构相关介绍
CT机种的X射线探测器结构如图所示。位于管套中的真空管为旋转阳极式的射线管。管内设有阳极、阴极、灯丝和转子，在真空管外部对应阳极转子处设有定子线圈。定子线圈通入电流产生旋转磁场，在铜质的转子中产生。 一个典型的探测器包括：闪烁体、光电转换阵列和电子学部分。此外还有软件、电源等附件。目CT中常用
谈谈X射线衍射仪(XRD)的结构组成
X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时，该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象，物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量
X射线荧光（XRF）仪的结构组成介绍
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器
X射线头部CT机的结构组成
1. 扫描部分：由X线管、探测器和扫描架组成； 2. 计算机系统：将扫描收集到的信息数据进行贮存运算； 3. 图像显示和存储系统：将经计算机处理、重建的图像显示在电视屏上或用多台照相机或激光照相机将图像摄下。
X射线荧光光谱仪结构
该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产
X射线粉末衍射结构精修
X射线衍射 X射线衍射是一种利用X射线在晶体中的衍射现象来研究物质的物相和晶体结构的方法。X射线衍射的基本原理是根据布拉格方程，当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
关于电子探针X射线显微分析仪的结构特点介绍
电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方
Nature：研究团队开发高分辨率X射线发光扩展成像技术
具有主动读出机制的平板X射线探测器在医疗诊断，安全检查和工业检查中已发现了关键的应用。当前涉及平板探测器的X射线成像技术难以对三维物体成像，因为在高度弯曲的表面上制造大面积，柔性，基于硅的光电探测器仍然是一个挑战。 2021年2月17日，福州大学陈秋水，杨黄浩及天津大学-新加坡国立大学福州联合
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
X射线头部CT机的图像特点
1. CT图像是由一定数目由黑到白不同灰度的像素按矩阵排列所构成。这些像素反映的是相应体素的X线吸收系数。不同CT装置所得图像的像素大小及数目不同。大小可以是1.0×1.0mm，0.5×0.5mm不等；数目可以是256×256即65536个，或512×512即262144个不等。像素越小，数目越
X射线荧光分析法的应用特点
X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达3-10～10-6克/克(g/g)，对许多元素可测到10-7～10-9g/g，用质子激发时 ，检出可达10-12g/g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线单晶衍射仪：探究物质结构的利器
X射线单晶衍射仪(X-ray single crystal diffractometer)，是一种利用Ｘ射线穿过单晶产生的衍射效应来测定晶体结构的实验方法，主要功能是测定晶体结构 、分析晶体对称性以及研究未知晶体等。其应用范围较广，单晶结构分析能够揭示化合物的结构和性能间的关系，对功能材料、有机
X射线摄影装置的性能结构及组成
产品由X射线管支撑装置，X射线管高压装置(DHF-155HIII(R))，X射线可动束光器，X射线管球装置(UH-6FC-31E，UH-6GE-31E，U-6CE-55TB，U-6AC-31TL)，摄影台YVB-30M组成。有标准型、普通型、紧凑型三种配置。性能：标称电功率40KW；UH-6FC
上海应物所等铂铈催化剂的原位XAFS研究取得进展
近日，中国科学院上海应用物理研究所上海光源材料与能源研究部研究员司锐与北京大学教授张亚文课题组、刘海超课题组合作，将催化剂“构效关系”研究与同步辐射原位X射线技术紧密结合，在一氧化碳催化氧化反应方面取得新进展，提出了对氧化铈负载的铂催化剂活性结构物种进行甄别的一种有效表征方法，相关论文已发表在《
同步辐射光源在材料研究领域的应用之快速X射线精细谱
同步辐射快速Ｘ射线吸收精细结构（QXAFS）谱学方法具有高时间分辨的特征，不仅具备XAFS在纳米结构研究中的优势，而且由于高时间分辨的特征，极大地扩展了XAFS在纳米结构研究中的应用。利用QXAFS的时间分辨特性，并结合原位检测技术，QXAFS能够应用于以下一些纳米结构研究：物理化学变化的动力学过程
X射线荧光光谱仪的吸收与激发效应
对一给定元素的某一吸收限的短波侧，质量衰减系数pm迅速地随着波长λ的增加而变大，根据式μm=Kλm及勒鲁的研究结果，对于若干主要谱系，在0.18-10A的波段，λ的幂值m变化在2.1~2.8之间。因此越是接近吸收限短波侧的谱线，所受的吸收或衰减就越大。而且，对一谱系，由于km随的变化是连续的，故
X射线能谱探头表面污染层的附加吸收校正
在无标样能谱定量分析过程中，若用来分析的元素间的谱线能量差较大，则对污染层的附加吸收校正是必需的．由于污染层的碳氢比例不确定，厚度又是个变量，因此，校正因子也是不确定的．本人认为可采用以下两种方法加以校正．
缺失定位———基因精细结构分析
实验方法原理 如果某一待测缺失突变株能和一种已知缺失突变株进行重组,表明这一待测突变的位置一定不在已知缺失区域内。如果不能重组,待测定菌株突变位置便在已知缺失范围内。菌株A、B、C的缺失区域是已知的,另外有一系列点突变菌株1、2、3和4。分别将它们两两滴加在固体培养基表面的同一位置上,根据是否出现野
缺失定位———基因精细结构分析
实验方法原理如果某一待测缺失突变株能和一种已知缺失突变株进行重组,表明这一待测突变的位置一定不在已知缺失区域内。如果不能重组,待测定菌株突变位置便在已知缺失范围内。菌株A、B、C的缺失区域是已知的,另外有一系列点突变菌株1、2、3和4。分别将它们两两滴加在固体培养基表面的同一位置上,根据是否出现野生
高频X射线机和工频X射线机的区别
高频机与工频机的不同 高频机是指高压发生器的工作频率大于20kHz的X线机，工频机是指高压发生器的工作频率小于400Hz的X线机。工频机将50Hz的工频电源升高压整流后有100Hz的正弦纹波，经滤波后仍有10％以上的纹波，高频机工作频率高，高压整流后的电压基本上是恒定的直流，纹波可小于0.1％
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。