关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。......阅读全文
XRFX射线荧光光谱仪的优点介绍
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。 探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种
XRF光谱仪的主要技术要点
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
关于手持式光谱仪的原理介绍
手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦
关于光谱仪的原理
光谱仪又称分光仪，广泛为认知的为直读光谱仪。 以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。 它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。 以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域； 并在选定的
关于光谱仪的原理
光谱仪又称分光仪，广泛为认知的为直读光谱仪。 以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。 它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。 以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域； 并在选定的波长上(或扫描某一波
详细解析X荧光光谱仪的物理原理
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画
X射线荧光光谱仪的物理原理简述
X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属
浅谈X射线荧光光谱仪的物理原理
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
XRF原理的金属成分分析仪的介绍
金属成分分析仪是采用XRF（荧光光谱分析）原理，对金属材料成分进行快速检测的仪器。由于X射线波长很短，因此是不可见的。但它照射到某些化合物如磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等时，由于电离或激发使原子处于激发状态，原子回到基态过程中，由于价电子的能级跃迁而辐射出可见光或紫外线，这就是荧光。X射线使物
X射线荧光的物理原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
关于XRF的仪器分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式
XRF能量色散光谱仪水泥样品制备方法介绍
一、样品（简称标样）的配制X射线荧光分析与化学分析不同，荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量一定数量已知结果的标准样品，建立相应的正确的数学模型后，才能得到准确的测量。也就是说：要达到好的测量效果，一组好标样与一台好仪器同样重要。好仪器由我公司提供，好标样得由用户化验室提供。好标样的标准是：有
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求； 4.对样品测试要
XRF光谱仪分析中的不确定度
在这里，数据处理过程是指从测量的谱线强度计算样品中元素浓度的过程，包括根据标准样品建立校正曲线和根据校正曲线计算未知样的浓度。在采用多重线性回归方法确定校正曲线的过程中，校正模型的选用、基体校正方法、谱线重叠的校正方法、标准数据的准确性至分析浓度的范围等都对分析结果的准确度产生影响。要对这些因素
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求；
光纤光谱仪的原理介绍
光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。由于光纤的方便性，用户可以非常灵活的搭建光谱采集系统。光纤光谱仪的优势在于测量系统的模块化和灵活性，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器，被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、医药卫生、LED
光纤光谱仪的原理介绍
光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。由于光纤的方便性，用户可以非常灵活的搭建光谱采集系统。光纤光谱仪的优势在于测量系统的模块化和灵活性，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器，被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、医药卫生、LED
光纤光谱仪的原理介绍
光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。由于光纤的方便性，用户可以非常灵活的搭建光谱采集系统。光纤光谱仪的优势在于测量系统的模块化和灵活性，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器，被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、医药卫生、LED检测
直读光谱仪的原理介绍
直读光谱仪的原理介绍 直读光谱仪，英文名为OES（Optical Emission Spectrometer），即原子发射光谱仪,由于市场对钢铁检测有大的需求，也促进了相关检测仪器的发展。 直读光谱仪广泛应用于铸造，钢铁，金属回收和冶炼以及军工、航天航空、电力、化工、高等院校和商检，
关于物理致癌的分析介绍
物理致癌因素包括灼热、机械性刺激、创伤、紫外线、放射线等。值得高度重视的是，受辐射危害可以来自环境污染，也可以来自医源性。比如多次反复接受X射线照射检查或放射性核素检查可使受检人群患肿瘤机率增加，若用放射疗法治疗某些疾病，也可诱发某些肿瘤。有资料报告，在用放射性核素磷治疗红细胞增多症后，相当数量
简述XRF的基本原理
X射线光管发射的原级X射线射入至样品，激发样品中各元素的特征谱线； 探测器记录特征波长的X射线光子N； 根据特定波长X射线光子N的强度，计算出该波长对应的元素浓度。