XRF能量色散光谱仪水泥样品制备方法介绍
一、样品（简称标样）的配制X射线荧光分析与化学分析不同，荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量一定数量已知结果的标准样品，建立相应的正确的数学模型后，才能得到准确的测量。也就是说：要达到好的测量效果，一组好标样与一台好仪器同样重要。好仪器由我公司提供，好标样得由用户化验室提供。好标样的标准是：有代表性，有一定的跨度范围，有准确的化学分析结果。具体要求如下：l 数量：标准样品10-15个，每个标样50-100g。l 代表性：能代表本厂实际生产的样品，是从实际生产线中留取的瞬时样品。尽量减少人为配制标样，因为人为配制标样的同时会带进人为的因素。不要用国家标样，因为各个厂家原材料不同，配方不同，会得出不同的数学模型。l 化学成份的跨度范围：系列标样中各主要成份应覆盖正常情况下实际生产中各主要成份的变化范围，各主要成份的含量应拉开一定的距离且分布应均匀。以水泥厂生料样品为例：正常生产中，生料（白生料）中......阅读全文
XRF能量色散光谱仪水泥样品制备方法介绍
一、样品（简称标样）的配制X射线荧光分析与化学分析不同，荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量一定数量已知结果的标准样品，建立相应的正确的数学模型后，才能得到准确的测量。也就是说：要达到好的测量效果，一组好标样与一台好仪器同样重要。好仪器由我公司提供，好标样得由用户化验室提供。好标样的标准是：有
XRF能量色散光谱仪生物样品制备方法
气灰尘污染的低要求是要有一个干净的工作区域来处理样品。这可以通过层流清洁空气工作台或至少通过清洁手套箱来提供。 层流净化台永远都不能关闭）。应使用非金属工具和实验室用具材料。试剂从容器壁浸出的元素可能是另一种来源中给出了一些示例。应采取特殊预防措施避免由于水分流失而导致平均样本组成发生变化。这经常是
XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐
XRF分析有哪些样品制备方法
a车削、切割、磨铣和抛光金属试样及分布均匀的合金样品等，可用一般的机加工方法制成一定直径的金属圆片样品。如车床车制、飞轮切割等。如表面比较粗糙，通常再进行研磨抛光。但必须指出，抛光条纹会引起所谓的“屏蔽效应”，尤其对长波辐射线与磨痕垂直时，强度降低严重。为此，测量时应采取试样自转方式，消除试样取向影
波长色散X射线荧光光谱仪相关介绍
X射线荧光光谱仪根据分光方式不同，可分为波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪两大类；根据激发方式又可细分为偏振光、同位素源、同步辐射和粒子激发X射线荧光光谱仪；根据X射线的出射、入角还可有全反射、掠出入射X射线荧光光谱仪等。波长色散XRF光谱仪利用分光晶体的衍射来分离样品中的多色辐射，能量色散光谱仪则
样品制备影响XRF定量精度的介绍
XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。
X射线荧光分析的原理及应用
X射线荧光分析(XRF)——是对任何种类的样品进行元素分析的好分析技术，无论必需分析的样品是液体、固体还是粉末。XRF可以将高的准确度和精密度与简单和快速的样品准备结合，对铍 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析，浓度范围从 100 % 到低至亚 ppm 级。 作为一种确定各种材料化学组成的
水泥取样器样品制备
1、样品缩分 样品缩分可采用二分器，一次或多次将样品缩分到标准要求的规定量。2、试验样及封存样 将每一编号所取水泥混合样通过0.9mm方孔筛，均分为试验样和封存样。3、分割样 每一编号所取10个分割样应分别通过0.9mm方孔筛并按附录A进行试验，不得混杂。注：样品不得混入杂物及结块。
x射线荧光光谱仪 SPECTRO XEPOS的广泛应用
斯派克XEPOS能量色散x射线荧光光谱仪(ED-XRF)重新定义ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光谱仪代表了能量色散x射线荧光技术的飞跃。它提供突破性的进步multi-elemental分析专业,小,微量元素浓度。新发展激励和检测提供出色的灵敏度和检测限制收益显著的精密度和准确
水泥手动取样器样品制备
样品制备：▲样品缩分 样品缩分可采用二分器，一次或多次将样品缩分到标准要求的规定量。▲试验样及封存样 将每一编号所取水泥混合样通过0.9mm方孔筛，均分为试验样和封存样。▲分割样 每一编号所取10个分割样应分别通过0.9mm方孔筛并按附录A进行试验，不得混杂。注：样品不得混入杂物及结块。
水泥手动取样器样品制备
水泥手动取样器样品制备：▲分割样 每一编号所取10个分割样应分别通过0.9mm方孔筛并按附录A进行试验，不得混杂。注：样品不得混入杂物及结块。▲样品缩分 样品缩分可采用二分器，一次或多次将样品缩分到标准要求的规定量。▲试验样及封存样 将每一编号所取水泥混合样通过0.9mm方孔筛，均分为试验样和封存样
ICP光谱仪的样品制备方法
样品制备 样品所采用的试剂一般为纯度不低于优级纯的酸类，如硝酸、盐酸、高氯酸、过氧化氢、氢氟酸、硫酸、王水等。一般首选酸为硝酸，因为硝酸引起的干扰最小。试剂用水为去离子水（电导率＜0.056μS/cm）。 固体样品需要采用合适的方法进行消解。常用的消解方法有湿法消解、干法消解、微波消解等。 液
波长色散X射线荧光光谱仪的新进展
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型
XRF分析仪样品制备化学富集法的介绍
1）沉淀法 螯合物沉淀法（DDTC法）是使溶液中的各金属阳离子与螯合物试剂反应后沉淀过滤，鳌合物沉淀剂常用的有DDTC（铜试剂）、PAN（1-（2-吡啶偶氮）-2-萘酚），8-羟基喹啉，其特点是均可与近20种元素产生螯合物沉淀。 沉淀法是加入适合于溶液中各元素的沉淀剂和共沉淀剂使之反应，然
江苏天瑞在CISILE 2011上推出新型SUPE XRF 2400
2011年4月25日，第九届中国国际科学仪器及实验室装备展览会(CISILE 2011)在北京展览馆隆重召开。天瑞仪器在展会期间举办了“SUPE XRF 2400新品发布会”。发布会现场气氛热烈，展台前吸引了众多观众驻足观看，业界多家媒体应邀参加了此次发布会。 天
帕纳科PITTCON2015新品发布：Zetium多功能X射线荧光光谱
Zetium XRF 在日前召开的Pittcon 2015上，帕纳科发布一款突破性新产品 -Zetium 多功能X射线荧光光谱仪（XRF）。该仪器将三个附加技术结合于一体，形成一个多功能的光谱平台，有望为科学家在XRF分析技术领域提供一些新思路和想法。 Zetium测量平台通过SumXcore
X射线荧光光谱分析技术发展研讨会在京举行
分析测试百科网讯 2016年4月12日，PANalytical Day 2016 X射线荧光光谱分析技术发展研讨会在北京举行。本次会议由北京市理化分析测试中心、北京理化分析测试技术学会以及荷兰帕纳科公司联合主办，会议吸引了100余业内专家、学者以
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
能量色散 X 射线荧光 (ED XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
WD-XRF（波谱）与ED-XRF(能谱)有哪些区别之处
X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。X射线荧光分析仪分为波长色散型（WD-XRF）与能量色散型（ED-XRF）两种。两者虽然同属于X射线荧光分析仪，产生信号的方法相同，后得到的波谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，两者在原理和仪器结构上有
原子吸收光谱仪的样品制备方法
一、制样要求 样品制备总的原则： A.尽可能多地使待测组分不受损失，也不能带进待测组分进入； B.尽可能多地排除干扰； C.尽可能得到浓度，调整称样量和溶液体积，这都直接关系到被测元素的浓度； D.尽可能多地保证费用省，根据实际情况，在结果精密度、测试方法、时耗、物
X荧光光谱仪分类及比较
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
两种类别的X 射线荧光光谱的区别在哪
X 射线荧光 (XRF) 光谱测定是一种无损式分析技术，可用于获取不同类型材料的元素信息。 它已在许多行业和应用领域中得到广泛运用，包括：水泥生产、玻璃生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、石油和石化、聚合物及相关行业、制药、保健产品和环保。 光谱仪系统通常分为两大类：波长色散式系统 (WDXRF) 和
安科慧生：做受人尊重的科学仪器
近日，清华大学分析中心室邢志研究员、北矿检测技术有限公司研发部主任冯先进与分析测试百科网总经理卞利萍来到北京安科慧生科技有限公司（以下简称：安科慧生），受到安科慧生总经理滕飞亲切接待。 总经理滕飞带领一行人参观了安科慧生X射线荧光光谱仪(XRF)实验室，并介绍、讲解了安科慧生独创的水泥元素分析
帕纳科任命Scott Gilroy为澳洲新任总经理
分析测试百科网讯 2015年12月28日，帕纳科宣布Scott Gilroy将成为澳洲新任总经理，截至2015年12月18日。 Scott 将接替Tony Larkin成为管理者，事实上，Scott作为XRF产品经理和市场区域经理在当地市场被人熟知。自2004加入公司以来，他一直活跃于销售、
波长色散型和能量色散型XRF的相关介绍
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型: 波长色
X-射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
XRF分析仪样品制备中蒸发和冷冻干燥技术介绍
生物组织试样常用的干燥方法是冷冻干燥法，让生物样品在冷冻状态下用真空泵将水抽干。其优点是样品在处理过程中不会被污染，待测元素不因挥发而损失，但设备昂贵、费时。也可以采用放在氧等离子体低温干燥箱中灰化，低温等离子是气体在低压于高频电场的作用下产生的，在这种情况下，由于分子或原子间的间距大，加大了电