X荧光分析仪谱仪测量技术的进展介绍
1、数据处理系统智能化 1)软件智能化：窗式软件的使用，将仪器的工作状态实时地显示得一清二楚。在显示器上可直接显示 X 射线管管流和管压、现用晶体名称和何种准直器、样品分析室的压力和真空度等测量条件和参数。 2)汇编分析程序智能化：现代的分析软件包能自动进行汇编分析程序，操作者只要从仪器显示的元素周期中输入所要分析的元素，分析程序就会自动设定分析元素所需的最佳的测量条件和参数(如 X 射线管管流和管压、使用晶体和准直器等)。当然，操作者认为有必要，也可修改汇编参数。 3)基体效应校正的智能化：基体效应又叫吸收一增强效应，它一直是 X 射线荧光分析工作者一个非常头痛的问题。现代智能化的分析软件包已包括了多种数学校正模式，可进行多种情况的基体效应校正，应用这些数学校正模式，可获得准确的分析结果。 4)无标定量分析：无标定量分析即半定量分析。近年来，随着计算机技术的广泛应用和 X射线荧光分析技术的不断完善，以及对样品形状、......阅读全文
X荧光分析仪的结构简介
1、多功能置样装置 A．样品种类：固体﹑液体﹑粉末﹑镀层。 B．样品托盘：可自动旋转的测量装置。 C．样品室的环境：可选择空气﹑真空﹑氦气。由软件自动控制，无需人工操作。 2、激发系统 激发系统采用独特的倒置直角光学结构设计。以50KV的低功率X射线发生器作为激发源，从X射线管产生的初
选购X射线荧光分析仪的重硬件轻软件和技术的介绍
重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器，一定是建立在分析技术研究基础之上的，否则
X荧光硫钙铁分析仪主要技术指标
X荧光硫钙铁分析仪主要技术指标：1. 分析范围：SO3、CaO、Fe2O3：0.01%~100% ;2. 分析宽度：SO3（CaO、 Fe2O3）%max~SO3(CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%，CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
便携式X荧光能谱仪的技术参数和特点
技术参数 激发源：微型X射线管最大40kV/50μA 输入电源：AC 85/265V，一次充电使用时间6小时 测量时间：
X射线晶体谱仪研发获进展
近期，中国科学院近代物理研究所原子物理中心科研人员自主研发了用于内壳多空穴离子X射线精细结构测量的宽带高分辨晶体谱仪，相关成果于4月3日发表在光谱学期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析内壳多空穴离子的X射线精细结构不仅是研究量子电
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线荧光分析仪的基本原理介绍
X射线荧光分析仪基本原理： 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，
X荧光钙铁分析仪概述
X荧光钙铁分析仪是一种微机化的新型台式分析仪器，主要用于水泥生料，煤矸石，砖坯料中CaO、 Fe2O3百分含量的快速（30秒）定量分析。它根据元素特征射线的X荧光能量色散原理，采用低能小功率X光管激发（不用放射源）、正比计数管探测、核电子学及微机等组成，采用先进的物理测量方法，符合节能、环保、安
X射线荧光分析仪的主要分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波
X荧光硫分析仪的工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这
X荧光多元素分析仪的优点
（1）无放射源，属于环保部门豁免管理范围。 （2）大液晶屏显示，中文菜单，操作简便。预热速度快，开机时间短。（我公司产品从开机到测试仅需30分钟，而市场上同类产品需2小时）。 （3）声光自动报警，键盘打印机置于面板，人机对话方式操作。 （4）采用物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无
X射线荧光分析仪的发展历程
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
选择X射线荧光分析仪的误区
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
选购X射线荧光分析仪的误区
听别人多，看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察，一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况，作一些相互比较；另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如:以全厂质量控制为主要目的，样品种类多，需要做全分析，准确度要
能量色散X荧光能谱仪
能量色散X-荧光能谱仪是一种用于化学、材料科学领域的分析仪器，于2011年11月10日启用。 技术指标 检测项目：适用于金属、化工、石油、土壤、矿石元素分析，满足固体、液体、粉末、 水质及油类等形态样品中的多种无机元素的定性、半定量和定量分析。满足镀层和薄膜厚度的测定。用于科研制标工作。 检
便携式X荧光能谱仪简介
便携式X荧光能谱仪是专业的指令筛选仪器。该仪器提供一种快速、可靠、无损样品的筛检手段，对于塑料外壳、印刷电路板、电缆、含镀层的紧固件等都可以用这一件轻便设备进行多元素无损检测。轻扣扳机，对样品中的镉、铅、汞、铬总量、溴总量及其它构成元素进行定量分析，快速判定检测结果。使您在更短的时间内处理更多的
软X射线能谱定量测量技术研究
采用每毫米 10 0 0线的自支撑透射光栅配上背照射软X射线CCD(charge coupleddevice)组成了透射光栅谱仪 ,利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1B光束线软X射线实验站上X射线源分别对透射光栅的衍射效率和软X射线CCD的响应灵敏度进行了准确的实验标定 ,获得了 15 0e
X荧光仪的技术指标
分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30µm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同
X射线荧光分析技术相关介绍
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X射线荧光分析技术的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光分析技术的应用介绍
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
软X射线能谱仪与透射光栅谱仪测量结果的对比
对软 X射线谱仪和透射光栅谱仪的测量结果进行了对比。它们的回推谱形大致符合 ,只是透射光栅谱仪的复原谱的 N带相对于 O带太小。其原因可能是 X射线 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,对 N带吸收较多。经过对透射光栅谱进行吸收补偿后 ,两种谱仪的复原谱基本一致。
X射线荧光光谱分析仪的优点介绍
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在
单波长X荧光硫含量分析仪的应用介绍
在石油加工过程中，各种含硫化合物受高温影响均能分解产生H2S，H2S与水共存时，对金属设备造成严重腐蚀，如常减压装置中，高温重油部位的腐蚀主要集中在常压塔底。如果石油中既含硫又含盐，则对金属设备的腐蚀就更为严重。 石油产品中的硫化物，在使用及储存过程中同样会腐蚀金属；同时含硫燃料燃烧产生的二氧化硫
关于X射线荧光分析仪的基本原理介绍
X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪和能量（energy）色散X射线荧光光谱仪； 波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关(related)电子与控制部件，相对简单。 X射线荧光分析仪基本原理
X射线荧光光谱分析仪的缺点介绍
a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。