X荧光仪的技术指标
分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30µm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 定点分析 100µm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500µm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间......阅读全文
X荧光仪的技术指标
分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30µm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用
波长色散型X荧光光谱仪的技术指标和功能
波长色散型X-荧光光谱仪是一种用于地球科学、工程与技术科学基础学科、能源科学技术领域的分析仪器，于2006年06月09日启用。 1、技术指标 RSD=0.09% 计数率按仪器技术规定的测试条件， Cu-Kα为808Kcps； P-Kα为259 Kcps； Al-Kα在PET晶体下为452 K
X荧光仪的主要功能
主要功能 分析范围： Be -U 较小的占地面积 微区分析 上照设计 30 μm超薄窗 Mapping: 元素分布 He 密封:样品室一直在真空环境中 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高
能量色散X荧光能谱仪
能量色散X-荧光能谱仪是一种用于化学、材料科学领域的分析仪器，于2011年11月10日启用。 技术指标 检测项目：适用于金属、化工、石油、土壤、矿石元素分析，满足固体、液体、粉末、 水质及油类等形态样品中的多种无机元素的定性、半定量和定量分析。满足镀层和薄膜厚度的测定。用于科研制标工作。 检
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
叶绿素荧光仪的技术指标
测量光 3个波长为650nm的LED阵列；光化光 12个波长为660nm的LED阵列，最大连续光强2000μmolm-2s-1；饱和脉冲 12个波长为660 nm的LED阵列，最大闪光强度4000μmol m-2s-1；信号检测 光电倍增管检测器（H6779-01，Hamamatsu），过载保护功能
X射线荧光光谱仪检测矿石的介绍
矿石检测是选矿企业选矿和生产的利器，没有快速准确的数据支持，难以达到高效的生产。随着科学技术的进步，现代分析仪器功能十分强大，在效率、环保、职业健康方面优势巨大，因此用途也相当广泛，已逐步取代传统化学分析。X-射线荧光光谱仪(XRF)就是其中的一种定量分析仪器。
荧光定硫仪的技术指标
荧光定硫仪的技术指标？姜堰市分析仪器厂技术人员介绍说：我厂研制生产的SY-2000S荧光定硫仪采用紫外荧光法测定原理，当样品被高温裂解氧化反应后，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫，再由载气送入膜式干燥器脱去水份后进入反应室，二氧化硫受特定波长紫外线照射后，吸收这种射线使部分电子转向高能轨道，一旦
荧光定量PCR仪的技术指标
独特设计的快速加热块可在极速运行的时候保证热均一性 TaqMan? Fast Universal PCR Master Mix和Fast SYBR? Green Master Mix可保证与标准实时PCR反应一样出色性能，并快速得到反应结果 快速光学反应板可确保在5-30?L反应体积下出色的检测
荧光硫测定仪的技术指标
荧光硫测定仪主要指标： 测量范围：0.2mg/L～10000mg/L 可测样品状态：固体、液体、气体（配相应进样器） 温度范围：室温～1150℃ 控温精度：±2℃ 重复性误差：0.2mg/L≤X
荧光激活细胞分选仪的技术指标
1、该仪器配备5激光器和19色荧光通道，激光器为 488nm，405nm，355nm，561nm，642nm 2、该仪器配备小颗粒检测组件，提高了前向散射光（FSC）对小颗粒灵敏度，可检测尺寸≥200nm的颗粒（微生物）；3、该仪器配备偏振光检测组件； 4、 细胞分选功能 （1）、可高速高纯度多孔板
简介荧光分析仪的技术指标
1多功能置样装置 X荧光分析仪的置样装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。 A．样品种类：固体﹑液体﹑粉末。 B．样品室的环境：可选择空气﹑真空。由软件自动控制，无需人工操作。 2 X射线管激发系统 系统采用50KV的低功率正高压X射线发生器作为激发源。由高电压发生器，X射线发生器及
荧光光谱仪的技术指标介绍
仪器类别： 03030429 /仪器仪表 /成份分析仪器 /X荧光谱仪 指标信息： 激发光源 Xe 450W 激发单色仪：4nm/mm,200nm～700nm 发射单色仪：双色单仪，2nm/mm,300～1000nm 光谱测量范围：240nm～850nm 灵敏度：水喇曼信噪比4000
简介X荧光分析仪的技术指标
分析范围: 0.01%～100% 分析精度：标准偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10% 样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm)； 分析宽度: CaO（SO3）: min~max≤15%,例如水泥中CaO :37%～52%，通过标定工作曲线选定。 测量时间: 60、12
荧光硫测定仪/荧光测硫仪测量原理及技术指标
TEA-600S型荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品经高温氧化反应，其中的硫化物定量地转化为SO2。样品气经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。SO2经紫外线照射，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。 产生特定波长的光谱，由光电倍增管检测接收。发射的荧光强度和原样品中硫的含量
X荧光硅铝分析仪的技术指标
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4
X荧光钙铁分析仪的技术指标
1. 分析范围： CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。 2. 分析范围宽度： CaO%max—CaO%min≤7% Fe2O3 % max—Fe2O3 % min≤5%； 例如生料：CaO：39%~46%，Fe2O3：0.01~5%。 3. 固
冷原子荧光测汞仪的技术指标
1．检测下限：≤0.01ng/ml 2．线性相关系数：r>0.999 3．相对标准偏差：
X荧光硅铝分析仪的技术指标
技术指标 1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
全自动荧光免疫分析仪技术指标
全自动荧光免疫分析仪是一种用于临床医学领域的医学科研仪器，于2019年5月17日启用 样本量：背个参数测定时样本用量为40uL，样本类型：血清或血浆；定标间隔：28天；定标浓度数量：6个定标浓度；仪器操作：全自动；进样方式：可随时放入样本检测，无需等待；待检试管位：50个；冲洗，孵育，加样要求
X荧光多元素分析仪技术指标
1. 分析范围：CaO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、SO3：0.01%~100%；2. 分析宽度：CaO≤7%、Fe2O3≤5%、SiO2≤5%、Al2O3≤7%、SO3≤5%，例如生料中CaO%：38.5%～45.5%，Fe2O3%：0.01%～5.00%，SiO2%：10.00%～15.0
冷原子荧光测汞仪技术指标
1．检测下限：≤0.01ng/ml2．线性相关系数：r>0.9993．相对标准偏差：
荧光光谱仪的分子荧光光谱关键技术指标介绍
荧光光谱仪的光谱分辨率。光谱分辨率是指把光谱特征、谱带分解成为分离成分的能力。高级的荧光光谱仪分辨率可达0.5～1nm。 荧光光谱仪的频谱范围。高级的荧光光谱仪可覆盖200nm～1500nm。 荧光光谱仪中的波长准确度和波长重复性。波长准确度，是指波长的实际测定值与理论值(真值)的差，高端仪
X荧光硫元素分析仪的主要技术指标
1.测硫范围: 7ppm～5%;2.精密度: a重复性(r):＜0.02894（X+0.1691);b再现性(R):＜0.01215（X+0.05555）; 3.样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm);4.测量时间: 30、60、90、120、150秒,任意设定;5.单样品自动测量,测量
X荧光钙铁分析仪的主要技术指标
1. 分析范围： CaO、Fe2O3：0.01%~100% ； 2. 分析宽度： CaO（Fe2O3）%max~ CaO（Fe2O3）%min≤5%，例如生料中CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线选定； 3. 分析精度：标准偏差SCaO≤0.10%、SFe2O3≤
荧光钙铁硫分析仪的主要技术指标
1. 分析范围：SO3、CaO、Fe2O3：0.01%~100% ； 2. 分析宽度：SO3（CaO、 Fe2O3）%max~SO3(CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%，CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线选定； 3. 分析精度
X荧光钙铁元素分析仪技术指标
1. 分析范围: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析宽度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通过标定工作曲线选定；3. 分析精度！标准偏差SCaO≤0.3
购买X荧光光谱仪技术指标误区
评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，度如何等。技术指标的重要性zui终还是取决于应用目的。 误区1：片面追求高指标。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元