XRF元素测量的基本参数法介绍
X射线管出射谱（或测量得到）； X射线光与物质相互作用，即产生元素荧光射线的过程； 采用迭代求解算法对探测器采集谱和计算谱拟合计算，得到元素含量； 基本参数法是对X射线的产生入射、X射线与物质相互作用、探测器的采集谱，根据已经掌握的数据库和物理理论进行计算，将计算谱与实测谱进行对比，通过迭代过程不断逼近真实含量。以迭代的收敛的结果，作为定量结果。因此基本参数法大大降低了对标准样品的依赖，目标是对X射线荧光光谱进行无标定量分析。 显然，基本参数法充分计算了基体吸收效应、元素间吸收-增强效应等，解决了XRF仪器对大量标准物质的依赖，拓宽了适应性，提升了XRF元素定量精度。基本参数法发展到现阶段，其计算精度与其软件能力和完整性等相关。......阅读全文
XRF分析铜合金主元素含量的方法技术研究
铜及其合金具有优良的导电、导热、耐腐蚀等性能,铜合金中各元素含量不同直接影响铜合金的金属性能。因此对铜合金的化学成分快速、准确的分析对铜合金的生产贸易及加工等都极为重要。采用X射线荧光分析方法分析铜合金具有分析速度快、检测范围广、可现场原位无损分析等优点。本文以黄铜、青铜和白铜为重点采用X射线管激发
XRF元素定量分析要解决的问题有哪些？
1) 不同的元素激发和探测效率不同，有的元素很容易激发和检测，有的元素很难激发和检测，那么强度和含量的关系大不相同。 2) X射线荧光光谱分析中一个重要的难点是解决元素之间的吸收增强效应的问题。 最简单的方法当然是采用标准样品，通过检测标准样品的荧光强度，在荧光强度和含量之间通过最优化算法（
旋光法测量的仪器的介绍
测定旋光的仪器称为旋光计，它由单色光源、偏光镜、测量管、分析镜和检测装置所组成。由光源发出的单色光经过偏光镜（常用尼科尔棱镜）产生面偏振光，然后通过测量管，照到分析镜上。分析镜为另一偏光镜，可在轴心方向转动。当测量管内不含样品时，通过分析镜的光强度由偏光镜与分析镜偏振面的交角而定。交角为零度时则
原子荧光法可以用于测量哪些金属元素
现在市面上的大部分原子荧光光度计都属于氢化法原子荧光光度计，也就是通过被测样品与还原剂发生氢化反应从而得到被测元素的氢化物气体，进而得到被测元素的基态原子。因为可以和还原剂反应发生氢化反应的元素有些，所以大部分氢化法原子荧光光度计可检测砷、碲、铋、铅、硒、锑、锡、锌、锗、镉、汞十一种元素。而现在新一
影像测量仪可以测量到的几何元素
影像测量仪作为光学测量设备一种高精密检测仪器,是不是只能测量一些基本的长宽高一类似的基本几何元素呢?那么如果真的是这样的情况,试想,我们的光学仪器的使用范围势必会大幅度减少.而事实上,影像测量仪的几何测量要素从原始的长宽高慢慢改进具备测量多种几何要素功能.有的还附带有其它仪器的功能呢?例如对工件表面
运用EDXRF进行大气颗粒物元素分析
空气污染是全世界工业、政府和人口持续关注的问题。特别是暴露在空气中有害健康的重金属如铅、砷或镐，这些重金属被吸入颗粒物中通过空气传播被吸入肺部和身体这也是人们关注的焦点。 本文介绍采用SPECTRO ED-XRF技术对大气颗粒物中有害元素的分析应用。 SPECTRO XEPOS ED-XRF
牛津仪器新款XRF光谱仪－满足各种元素分析要求
牛津仪器推出了新款手持式 X 射线荧光光谱仪 可满足各种苛刻的元素分析要求 牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式 X 射线荧光光谱仪 (XRF) — X-MET5000，该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。牛津仪器的手持式 X 射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000 是其第四代产品。
天瑞仪器合金分析、重金属检测技术交流会召开
天瑞仪器参展第十四届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞仪器在北京展览馆2号会议室举办了合金分析、重金属检测技术交流会。来自科研院所、高等院校的30余名专家学者参加了本次交流会，共同探讨XRF仪器新技术，及其在合金行
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
示波器比较测量法的相关介绍
比较测量法就是用一已知的标准电压波形与被测电压波形进行比较求得被测电压值。 将被测电压Vx输入示波器的Y轴通道，调节Y轴灵敏度选择开关“V/div”及其微调旋钮，使荧光屏显示出便于测量的高度Hx并做好记录，且“V/div”开关及微调旋钮位置保持不变。去掉被测电压，把一个已知的可调标准电压Vs输
简介示波器的比较测量法介绍
比较测量法就是用一已知的标准电压波形与被测电压波形进行比较求得被测电压值。 将被测电压Vx输入示波器的Y轴通道，调节Y轴灵敏度选择开关“V/div”及其微调旋钮，使荧光屏显示出便于测量的高度Hx并做好记录，且“V/div”开关及微调旋钮位置保持不变。去掉被测电压，把一个已知的可调标准电压Vs输
关于电阻测量法的基本介绍
利用仪表测量控制电路上某点或某个元器件的通、断情况，来确定电气故障断的方法，主要利用万用表的电阻档对控制电路的好坏进行判断，可分为电阻分阶测量法和电阻分段测量法。 一、电阻测量法的分阶测量法 电阻分阶测量法就是将万用表的一支表笔固定接触在控制电路的一端（一般为0号线端），另一支表笔逐阶测量其
这个技术用X射线分析元素，又有什么优缺点？
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器
X射线荧光光谱仪在ROHS检测中的优劣势
许多ROHS仪器用户大概都不太清楚这款仪器是基于怎样的应用原理来完成作业的，这就是今天我们要在这里为大家介绍的XRF-X射线荧光光谱仪的优缺点。X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。 X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二
单波长XRF在锂电池负极材料元素分析的应用
一、 应用概述 锂电池负极材料中的杂质元素直接影响电池的充放电性能，石墨是主流的锂电池负极材料。随着锂离子电池对性能的要求提升，对于负极材料中杂质元素的限值越来越低，常规使用ICP-OES分析负极材料中杂质元素，样品处理复杂和费时费力，滞后于生产质量控制要求，且无法分析痕量的Si、P、S、Cl
材料成分分析利器XRF－UniQuant－独特的无标样分析技术
XRF（X射线荧光光谱仪）已在各类材料分析中广泛应用，然而，在实际样品分析中，标样的制备是决定分析结果准确程度的重要因素。赛默飞世尔科技的UniQuant无标样技术则可以在不需要标样的情况下进行任何尺寸、形状和状态样品的快速定性、定量、非破坏性的元素分析。2011年4月28
激光光谱元素分析系统碳氮磷元素的测量
氮元素是自然界最丰富的元素之一，主要参与生物圈的氮循环。但是这一元素进入植物体后会在植物体内转化成为各种含氮的有机物。氮元素可以说是有机物的代表。随着科技的发展和人们的日益增长的物质需求，人类对氮元素的循环影响也越来越明显。随着以氮元素为主的化肥的使用，对农作物也有较大的作用，人们还需要更全面的了解
XRF的能量相关信息介绍
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为: E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。 因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外
XRF镀层测厚仪的组成介绍
XRF光谱仪的主要部件组成为X射线管、光圈、探测器、对焦系统、相机以及样品台。如上图所示。X射线管是仪器的一部分，产生照射样品的X射线。光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决光斑尺寸，正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。探测器与相关电子设备一并处理从样品中激发出的
XRF镀层测厚仪的相关介绍
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样
选择XRF技术的优势介绍
相比其他分析技术，XRF具有许多优势。 其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性技术，仅需制备少量样品甚至完全不需要制备样品，因此，其相比其他技术成本较低。 这也就是为什么全球这么多人选择使用XRF技术进行日常的材料分析工作。
关于XRF仪器的特点介绍
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
XRF分析技术的相关介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF镀层测厚仪的技术介绍
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。最大范围约为50μm左右。如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变
关于XRF的发展历程介绍
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
关于锂电池的基本参数介绍
标称电压：3.7V 工作电压：2.4~4.2V 标称容量：1250mAh标准放电持续电流：0.2C 最大放电持续电流：0.5C 工作温度：充电：0~45℃ 放电：-20~60℃ 产品尺寸：MAX 9.5*35*52mm 成品内阻：≤150mΩ 引线型号：国标线UL1007/24#
关于平行光管的基本参数介绍
1、平行光管—成像位置（Focus position）：无穷远（Infinity position） 2、平行光管—靶面尺寸（Chart size）：127.2mm(W)x95.4mm(H) 3、平行光管—窗口尺寸（Luminance face size）：112mm(W)x 84mm(H)
教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语
X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，其波长很短约介于0.001~2
液闪测量方式介绍－非匀相测量法
非匀相测量法是指样品以乳状液、悬浮颗粒存在于闪烁液中或吸附于固体支持物上的测量方式。2.1乳状测量法:乳状测量法主要针对匀相测量水溶性样品中存在的问题而提出的(容纳样品少,效率低等问题)。最常用的是某些聚乙氧基非离子表面活性剂tritonx,100及其类似物,其理化特性是常温下无色无味的粘稠液,苯环