X射线光谱仪的定量分析的注意事项
1、在定性、定量分析时，尽量选用不重叠的谱线； 2、在用有谱线重叠的谱线做定量分析时，必须进行干涉元素的重叠校正； 3、在决定分析谱线时，用谱线的波峰图（组分定性分析），检测谱线 重叠的影响很重要，必须要进行操作。......阅读全文
x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（最低合理可行）原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。 尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通
X射线荧光光谱仪原理分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
X射线荧光光谱仪制样要求
X射线荧光光谱仪制样要求： 样品的尺寸(直径x高)50x 40mm，重量400g。 1、定量分析 定量分析是对样品中元素进行准确定量测定。定量分析需要一组标准样品做参考。常规定量分析一般需要5个以上的标准样品才能建立较可靠的工作曲线。 常规X射线荧光光谱定量分析对标准样品的基本要求：
什么是X射线荧光光谱仪
Ｘ射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为０．００１－５０ｎｍ的电磁辐射。对分析化学家来说，感兴趣的波段是０．０１－２４ｎｍ，０．０１ｎｍ左右是超铀元素的Ｋ系谱线，２４ｎｍ则是轻元素Ｌｉ的Ｋ系谱线。１９２３年赫维西（Ｈｅｖｅｓｙ，Ｇ．Ｖｏｎ）提
X射线荧光光谱仪工作原理
2.1 X射线荧光的物理原理 X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
x荧光光谱仪发出的x射线对人体有危害吗
x射线荧光分析仪目前主要有两种,一种是能量色散型,一种是波长色散型。第一:能量色散型的x射线有低功率x射线管或者放射源产生,现在一般不会有什么问题的,特别是x光管产生x射线的,不会有问题,但是用放射源的要注意防护第二:波长色散x荧光光谱仪,特别是现在几千瓦的仪器,在安装、维修中要注意点,平时使用中不
X射线荧光光谱仪高压发生器及X射线光管本身的故障分析
高压发生器和X射线光管是仪器内最贵重的部件，一般不会出问题。检查高压发生器，可将高压发生器打开，根据电路图，检查各个开关是否在正常位置，看一下保险丝有没有熔断，再进一步的检查最好由专业维修工程师来做。X射线光管是个封闭的部件，一旦损坏，只能更换，不能修理。检查X射线光管，可检查X射线光管与高压电
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线能谱定量分析初探可伐合金的EDX分析
可伐合金是能与玻璃、金属匹配封接的合金材料,在电池行业中用作封接材料。其化学组成对确保电池封接件的质量是至关重要的。我们用化学组成与待测试样相近的标准样。按下式求出待测试样中的Mn、Co、Ni的含量。C_i/C_j=I_i/I_j C_j=[I_i/I_j]·C_i式中 C_i—试样中欲测元素的含量
X射线能谱定量分析中超常误差产生原因的研究
Ｘ射线能谱定量分析的精度问题一直困扰着能谱生产厂家和使用单位．在某些情况下，用无标样法所测值的误差远大于１０％，即存在着所谓的超常误差．因而不少分析人员对其定量分析结果持怀疑态度，认为Ｘ射线能谱只适合做定性和半定量分析．本文将对超常误差的产生原因作一...
X射线荧光光谱分析仪的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi 式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试
簿膜X射线能谱定量分析准确度的探讨
本文通过在EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜无标样成份分析实验,检验了EDAX9100能谱仪的分析准确度。在本试验所用的样品范围内,其准确度为:近邻元素同一X光线系分析相对误差为5～10％,非近邻元素不同线系分析相时误差较大,可达20～50％。试验证明在分析元素的质量吸收系数之差Δμ
X射线荧光光谱仪X射线防护系统出现故障可以怎么样解决
X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品，可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分
X射线荧光光谱仪X射线发生器高压开不起故障剖析
故障分析：这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，个别发生在开机时，偶然也发生在仪器运行中。 故障的发生起因能够从以下三个方面去剖析：1、X射线防护体系;2、内部水轮回冷却系统;3、高压产生器及X射线光管。 1、1X射线防护系统 为了避免X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才干启动。
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述波长色散X射线荧光光谱仪，采用了新技术设计的固态发生器、新技术设计的高电流低温X射线光管、当前电子技术新设计的电路板、新开发的高强度晶体等，使X射线荧光光谱仪对元素的分析产生了突破，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、操作简便性、可靠性、分析速度、功能完备的分析软件等
X射线荧光光谱仪的吸收与激发效应
对一给定元素的某一吸收限的短波侧，质量衰减系数pm迅速地随着波长λ的增加而变大，根据式μm=Kλm及勒鲁的研究结果，对于若干主要谱系，在0.18-10A的波段，λ的幂值m变化在2.1~2.8之间。因此越是接近吸收限短波侧的谱线，所受的吸收或衰减就越大。而且，对一谱系，由于km随的变化是连续的，故
X射线荧光光谱仪检测矿石的介绍
矿石检测是选矿企业选矿和生产的利器，没有快速准确的数据支持，难以达到高效的生产。随着科学技术的进步，现代分析仪器功能十分强大，在效率、环保、职业健康方面优势巨大，因此用途也相当广泛，已逐步取代传统化学分析。X-射线荧光光谱仪(XRF)就是其中的一种定量分析仪器。
X射线荧光光谱仪的构造和测试步骤
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。 X射线荧光光谱仪的构
X射线荧光光谱仪样品室的故障分析
光谱室和样品室的真空抽不到规定值，样品室最常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈，样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转，仪器几年运行下来，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。
x射线荧光光谱仪的主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品
分析多道x射线荧光光谱仪的产品优点
多道x射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型(WD)和能量色散型(ED)。波长色散型是由色散元件将不同能量的特征X射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到相应的位置上来探测某一能量的射线。而能量色散型，去掉了色散系统，是由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线的。波长色散型能量分辨本领高，而
偏振X射线荧光光谱仪的贵金属分析
近期全新推出SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器，采用高分辨、高计数检测器技术，缩短了样品的测量间隔，仪器软件直观、简捷，测试流程轻松流畅，大大减少了宕机时间。 贵金属分析 SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器作为新仪器的推出，为测试中心、纯度标识和分析实验室，以及珠宝制造
X射线荧光光谱仪的原理和应用介绍
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是
波长色散X射线荧光光谱仪的样品要求
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)，从而进行物质成分分析的仪器。 X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。 特点及应用： 波长色散X射线荧光光谱仪优点多，不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上
X射线荧光光谱仪更智能的未来前景
X射线荧光光谱仪对很多实验操作人来说并不陌生知道它有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）；以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散以能量特征为原理的称为能量色散型1、是一种快速的、非破坏式的物质测量方法；2、是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X
怎样检查X射线荧光光谱仪的防护系统？
1、顶盖的位置是否正常。X射线分析仪是一个封闭系统，顶盖是外层的射线防护装置，如果顶盖扣合不是完全紧密，仪器就有射线泄漏的可能。因此顶盖上都有限位开关，限位开关信号不到位或是限位开关故障都会引起高压开不起来。 2、X射线的警示标志是否正常。国家有标准规定须安装黄色信号灯并与相应的开关联动，因此
x射线荧光光谱仪的主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品
x射线荧光光谱仪的主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品
偏振X射线荧光光谱仪的应用和分析
它分析专业、检出下限低，灵敏度高、稳定性好，还能应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。 SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射线荧光光谱仪应用广泛，应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例，