X射线荧光光谱仪检测矿石的介绍
矿石检测是选矿企业选矿和生产的利器，没有快速准确的数据支持，难以达到高效的生产。随着科学技术的进步，现代分析仪器功能十分强大，在效率、环保、职业健康方面优势巨大，因此用途也相当广泛，已逐步取代传统化学分析。X-射线荧光光谱仪(XRF)就是其中的一种定量分析仪器。......阅读全文
X射线荧光光谱仪检测矿石的介绍
矿石检测是选矿企业选矿和生产的利器，没有快速准确的数据支持，难以达到高效的生产。随着科学技术的进步，现代分析仪器功能十分强大，在效率、环保、职业健康方面优势巨大，因此用途也相当广泛，已逐步取代传统化学分析。X-射线荧光光谱仪(XRF)就是其中的一种定量分析仪器。
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
X射线荧光光谱仪－检测标准
JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定周期为1年。
X射线荧光光谱仪检测金属元素的介绍
当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。 实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素？微源实
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
X射线荧光光谱仪检测分析原理
X射线荧光光谱分析仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。 X射线荧光光谱分析仪物理原理 当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生
X射线荧光光谱仪的优点介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象，适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 X射线荧光光谱仪的优点： 1) 分析速度快。测定用时与测
X射线荧光光谱仪的详细介绍
X射线荧光光谱(XRF)是一种应用十分广泛的元素分析方法,利用X射线荧光光谱仪可以直接分析固体、粉末和液体样品,具有制样简单、测试效率高、可以进行非破坏性分析等特点。秒中对样品进行快速合金分析，秒即可进行实验室精度的测量。具有合金分析软件，内嵌数百种常见合金号，中英文界面自由切换、操作简易，即使
X射线荧光光谱仪的优点介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象，适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 X射线荧光光谱仪的优点： 1) 分析速度快。测定用时与
X射线荧光光谱仪的分类介绍
根据X射线荧光的产生原理，一台X射线荧光光谱仪在结构上主要由激发源、色散系统、探测系统等3部分组成。按照色散方式的不同，X射线荧光光谱仪可以分为2类：波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）。下面主要介绍波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）的仪器结构
光谱仪的原理是怎样的那？
光谱仪又称光谱分析仪，应用分类繁多，我们着重介绍手持式合金分析仪，全谱火花直读光谱仪，X射线荧光光谱仪，拉曼光谱仪，激光诱导击穿光谱仪。 光谱仪原理： 1，手持式光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪原理基本一致： X-射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快
X射线荧光光谱仪荧光光谱的相关介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的 半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁
铁矿石类鉴别系统Oreids技术方案：单波长－X－射线荧光光谱仪
一、应用概述 我国80%的铁矿石需求来自进口，2020年铁矿石进口量达到创纪录的11.7亿吨。随着我国对进口“洋垃圾”的明令禁止，若在大宗进口铁矿石中掺杂废渣与尾渣等各类固体废物，对海关监管带来新的风险与挑战。 铁矿石除了品位之外，还要充分考虑其物质组成和利用价值，铁矿石类样品在物相组成
X荧光光谱仪分析原理及构造的介绍
X射线荧光（XRF）能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都不能分析，而要分析的样品必须经受在真空（4~5Pa）环境下测定，与其他分析技术相比，XRF具有分
X－射线荧光仪检测晶体的介绍
分光晶体是具有把 X 射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 晶体应该具备的条件：衍射强度大；应该适用于所测量的分析线；分辨率高；峰背比高；不产生附加发射和异常反射；热膨胀系数小、温度效应低；经受 X 射线长期照射，稳定性好；机械强度良好；容易加工等等。
X射线荧光光谱仪相关知识介绍
X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品，可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪具有灵明度强、度高、检测范围广、自动快速等特点，广泛应用于地质、冶金、有色金属加工、建材、考古等领域，在主、次量和痕量元素分析中发挥的作用日趋重要
X射线荧光光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的测量范围介绍
仪器可以定量分析周期表中90％以上的元素，从镁到更重的元素。这些可测定的元素覆盖了商用发展以及合金中使用的大部分学生文化传统元素。这种方法的x射线分析仪检查技术能力，基于学生获取材料主要成分的信息，可以获得铝合金、不锈钢、铬钼合金、多管和法兰材料，很多企业基于这些合金、青铜合金、各种社会其他一些
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的粒度效应介绍
在荧光强度的推导公式中，假设的样品都是均匀且表面光滑的。但是实际上只有液体样品或经过充分抛光的纯金属或某些合金样品才能满足这些条件。对于其他固体样品特别是粉末样品常常存在着样品不均匀及粒度效应和表面效应。 均匀样品，对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。实验表明这种样品在
X射线荧光光谱仪分类的相关介绍
按照色散方式的不同，X射线荧光光谱仪可以分为2类：波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）。 能量色散型x射线光谱仪 现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手
X射线荧光光谱仪的防护系统介绍
X射线荧光光谱仪的防护系统是为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。高压发生器的输出功率4Kw，将高压加至X射线光管后，除小部分用于产生X射线外，大部分转化为热能，由内部油循环冷却系统带走。内循环冷却系统用于光管头部分，因此要求内循环油为电导率很低的专用油。如果长期
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
X射线荧光光谱仪的全反射荧光
如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1