利用纳米离子探针在陨石中寻找前太阳物质
陨石中的前太阳物质(presolar material)是在太阳系形成之前，由各种恒星演化至晚期喷出物凝聚形成微米至次微米大小的尘埃颗粒，是人类唯一能获得的其他恒星样品(又称太阳系外物质)。前太阳颗粒携带了恒星核合成的信息，是恒星核合成理论的重要实验制约。前太阳颗粒也是构成原始太阳星云的重要物质组成，并经历了太阳星云阶段以及陨石母体阶段各种变质过程的演化。 中科院地质与地球物理研究所比较行星学学科组博士研究生赵旭晁在导师林杨挺研究员指导下，与美国华盛顿大学空间科学实验室的合作者利用地质地球所 2011年新引进的纳米离子探针(Cameca NanoSIMS 50L)和Auger纳米探针，对采自南极格罗夫山的CR型碳质球粒陨石GRV021710开展了前太阳物质的系统调查和研究。 研究结果表明，GRV021710陨石是迄今为止发现的最富集前太阳颗粒的原始球粒陨石之一，含有大量的前太阳富氧颗粒(含量为236 ......阅读全文
利用纳米离子探针在陨石中寻找前太阳物质
陨石中的前太阳物质(presolar material)是在太阳系形成之前，由各种恒星演化至晚期喷出物凝聚形成微米至次微米大小的尘埃颗粒，是人类唯一能获得的其他恒星样品(又称太阳系外物质)。前太阳颗粒携带了恒星核合成的信息，是恒星核合成理论的重要实验制约。前太阳颗粒也是构成原始太阳星云的重要
离子探针原理
离子探针(IMA)的基本原理是，用高能负氧离子轰击样品表面，测定被飞溅活化出来并发生电离的原子（即离子）的同位素组成，以获得年龄。为一种得到迅猛发展的新型质谱计，它具有许多其他测年方法所没有的优点：不需要化学处理；具有高的分辨率，可同时获得几组年龄以确定被测对象同位素体系是否封闭，有无铅丢失；可对样
离子探针方法
离子探针方法是将质谱测定技术与离子发射显微镜技术相结合的现代仪器分析方法。能提供一般质谱分析所不能提供的试样微区质谱。由于它能对固体物质作微区、微量及深度成分分析，在某些条件下检测灵敏度可达ppb数量级，因此被广泛地应用于半导体、冶金、地质和生物研究等部门。其原理是利用聚焦的高能一次离子束轰击试样表
钙离子荧光探针：比值型荧光探针
前面我们介绍了荧光指示剂法可以将Ca2+检测的实验与其他技术结合使用，如可以与流式细胞仪、荧光分光光度计、或者荧光显微镜进行联合检测 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，数量较少，可见光型数目较多，包括Fluo-3、钙黄绿素、Rhod-2等。荧光指示剂根据测光原理和数据
北京离子探针中心离子探针质谱仪器研发进入攻坚阶段
2010年1月16-17日，由北京离子探针中心主办的“2009北京SHRIMP成果报告会”在京隆重举行。中国科学院多位院士、政府相关部门负责人以及来自全国各地的地学界同仁等约100人出席了开幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流会”已经成为中国地学界同仁们进行学术交
离子探针分析仪应用
离子探针分析仪应用由于SISM的特点，目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同
离子探针分析仪应用
目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同位素的深度浓度 分布最有效的表面分析工
离子探针分析仪简介
离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表面，使之激发和溅射二次离子，经过加速和质谱分析，分析区域可
离子探针分析仪特点
离子探针分析仪有以下几个特点：1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。4. 可作同位素
太阳核心可能“潜伏”着暗物质
据每日科学网8月5日报道，英国伦敦大学皇家霍洛威学院一名科学家的最新研究结果，与上个月公布的“太阳内部或正积聚暗物质”的报告不谋而合。该科学家宣称，太阳内部中心不但“潜伏”了暗物质，且在逐渐冷却太阳的核心温度。 7月2日，《物理评论快报》杂志的一篇论文阐述了来自牛津大学宇宙
电子探针测试前需要准备什么
电子探针一般对样品表面抛光质量要求较高，在尺寸方面也有要求。具体制样要求如下：（1）光、薄片尺寸：薄片大小为 48.0±5mm x 26.0±5mm，光片大小为直径≤29mm的圆形光片（2）表面平整洁净。对表面不清洁的样品，需进行精细抛光。（3）抛光后或不需抛光的薄片，需要送样人用炭素笔在薄片上圈定
常见物质离子颜色
1.红色[Fe(SCN)]2+(血红色)；Cu2O(砖红色)；Fe2O3(红棕色)；红磷(红棕色)；液溴(深红棕色)；Fe(OH)3(红褐色)；I2的CCl4溶液(紫红色)；MnO4-(紫红色)；Cu(紫红色)；在空气中久置的苯酚(粉红色). 2.橙色:溴水；K2Cr2O7溶液. 3.黄色:
离子探针分析仪器组成
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），
锌离子荧光染料探针的应用
锌离子在许多生理和病理过程中都起到至关重要的作用,因此对锌离子进行探测和识别有重要理论和实际意义。荧光探针因其设计简单、易于操作、灵敏度高、可细胞成像等诸多优点而广泛应用于锌离子的识别研究。锌是生物中含量第二高的过渡金属（仅次于铁), 大脑中大多数Zn 2+紧密结合，因此细胞外和细胞内的游离Zn 2
离子探针分析仪仪器组成
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），
钙离子荧光探针类型大盘点
钙离子在许多生理过程中起着复杂的作用。例如，细胞内钙离子在促进神经元从神经元中释放神经递质的信号转导途径中必不可少，并参与所有肌肉细胞收缩所需的机制。细胞离子浓度受被动和主动离子通道和泵的调节。离子通道和泵的故障可能导致离子浓度调节不当，从而产生不利于正常细胞功能的不利条件。钙离子浓度研究领域中常使
同位素质谱仪和离子探针
同位素质谱仪 同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果精确，样品用量少（微克量级）。能精确测定元素的同位素比值。广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。 离子探针 离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m
PRL：太阳内部或许正在积聚暗物质
资料图：NASA太阳动力学观测卫星拍摄到的太阳照片 北京时间7月13日消息，据国外媒体报道，一项最新研究显示，太阳也许是网罗暗物质的大网。如果暗物质恰好具有某种特定形态，它将能够在这颗距离我们最近的恒星内部积聚，并以一种能被我们观测到的形式改变热量在太阳内部的传递方式。 暗物质是
关于离子探针的基本信息介绍
离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测
离子探针质量显微分析仪
离子探针质量显微分析仪ion microprobe mass analyzer以聚焦很细(1～2微米)的高能(10～20千电子伏)一次离子束作为激发源照射样品表面，使其溅射出二次离子并引入质量分析器，按照质量与电荷之比进行质谱分析的高灵敏度微区成分分析仪器，简称离子探针。简史 应用离子照射样品产生二
离子探针分析仪的应用概述
由于SISM的特点，目前可以应用于下列五个方面的分析研究： 1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同位素的
我国引进首台纳米离子探针通过验收
我国引进的第一台NanoSIMS 50L型纳米离子探针验收会于近日在中国科学院地质于地球物理研究所召开。中国科学院地质于地球物理研究所副所长吴福元研究员为组长的专家组认真听取了法国CAMECA公司纳米离子探针设计师、François Hillion博士所作的验收报告。专家组对仪器
离子探针是怎么进行运作的？
电离电极（离子探针）：多用于燃气燃烧器上。程控器给电离电极供电，如果没有火焰，电极上的供电将停止，如果有火焰，燃气被其自身的高温电离，离子电流在电极、火焰和燃烧头之间流动，离子电流被整流成直流，并通过接地的燃烧器外壳到达火焰继电器使之工作，以保证燃烧器后序工作顺利进行。如果电离电极发生接地现象，那么
太阳系附近未能搜寻到暗物质
据英国《自然》杂志网站4月19日报道，在迄今最大型的同类调查中，在太阳系周围彻底搜寻暗物质踪迹的宇宙学家们空手而归。科学家们认为，最新研究将颠覆传统的暗物质理论，但也有研究人员对该研究方法和结论提出了质疑。 暗物质是一种假定中的不可见物质，据信其占据了宇宙总物质的80%。宇宙理论学家
物质落入黑洞前产生高能射线耀斑
我们的银河系中心潜伏着一个超大质量黑洞，一些围绕它旋转的热气体可能会落入其中。据物理学家组织网近日报道，最近，欧洲空间局(ESA)赫歇尔空间天文台对这些热分子气体进行了详细观察，发现它们能有这么高温度，可能是黑洞正在给自己“烹煮”美餐。 该黑洞位于银河系中心一个无线电光源人马座A*(Sgr
请问离子探针分析仪有哪些特点？
SISM有以下几个特点： 1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。 2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。 3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。 4
DPiMS2020原位探针离子化质谱仪
岛津液质联用仪, DPiMS-2020 是一种基于探针电喷雾电离的单极质谱仪。它使用探针从样品板上放置的样品中取出微量的液体, 并将其注入 MS 单元进行质量分析。 它是非常容易操作和它能测量样品例如化工产品、食物材料和生物样品, 直接地或以非常极小的样品预处理。
离子探针产品介绍、特点和应用领域
离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限
离子探针分析仪基本原理
离子探针的原理是利用能量为1～20KeV的离子束照射在固体表面上，激发出正、负离子（溅射），利用质谱仪对这些离子进行分析，测量离子的质荷比和强度，从而确定固体表面所含元素的种类和数量。被加速的一次离子束照射到固体表面上，打出二次离子和中性粒子等，这个现象称作溅射。溅射过程可以看成是单个入射离子和组成
离子探针分析仪基本原理
离子探针的原理是利用能量为1～20KeV的离子束照射在固体表面上，激发出正、负离子（溅射），利用质谱仪对这些离子进行分析，测量离子的质荷比和强度，从而确定固体表面所含元素的种类和数量。被加速的一次离子束照射到固体表面上，打出二次离子和中性粒子等，这个现象称作溅射。溅射过程可以看成是单个入射离子和组成