离子探针分析仪应用
目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同位素的深度浓度 分布最有效的表面分析工具。3. 面分析 通过离子成像法可以提供关于元素横向分布的信息和适当条件下单定量信息。目前离子成像已经用于研究晶界析出物、冶金和单晶的效应、横向扩散、矿物相的特征以及表面杂质分布等。4. 微区分析（区域直径小于25μm的微区），用于元素的痕量分析、杂质分析、空气中悬浮粒子的分析等。5. 体分析 即对固体一般特性的分析。 由于离子探针有许多优点，故自问世以来在半导体、金属、矿物、环境保护、同位素和催化剂各个方面的应用都有很大发展。（1）在半导体材料方面的应用由于半导体材料纯度要求很高，要求分析的区域最小，迫切要求做表面分析和深度分析，因......阅读全文
离子探针分析仪应用
离子探针分析仪应用由于SISM的特点，目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同
离子探针分析仪应用
目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同位素的深度浓度 分布最有效的表面分析工
离子探针分析仪的应用概述
由于SISM的特点，目前可以应用于下列五个方面的分析研究： 1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同位素的
离子探针分析仪简介
离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表面，使之激发和溅射二次离子，经过加速和质谱分析，分析区域可
离子探针分析仪特点
离子探针分析仪有以下几个特点：1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。4. 可作同位素
详述离子探针分析仪在各方面的应用
（1）在半导体材料方面的应用 由于半导体材料纯度要求很高，要求分析的区域最小，迫切要求做表面分析和深度分析，因此也是最适合离子探针发挥作用的领域，其中有代表性的工作有： • 表面、界面和体材料的杂质分析 • 离子注入浓度及掺杂的测定 • 在实效分析方面的应用 （2）在金属材料方面的应用
离子探针分析仪器组成
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），
离子探针分析仪仪器组成
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），
离子探针质量显微分析仪
离子探针质量显微分析仪ion microprobe mass analyzer以聚焦很细(1～2微米)的高能(10～20千电子伏)一次离子束作为激发源照射样品表面，使其溅射出二次离子并引入质量分析器，按照质量与电荷之比进行质谱分析的高灵敏度微区成分分析仪器，简称离子探针。简史 应用离子照射样品产生二
锌离子荧光染料探针的应用
锌离子在许多生理和病理过程中都起到至关重要的作用,因此对锌离子进行探测和识别有重要理论和实际意义。荧光探针因其设计简单、易于操作、灵敏度高、可细胞成像等诸多优点而广泛应用于锌离子的识别研究。锌是生物中含量第二高的过渡金属（仅次于铁), 大脑中大多数Zn 2+紧密结合，因此细胞外和细胞内的游离Zn 2
离子探针分析仪的组成结构介绍
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。 ① 一次离子发射系统 一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、
离子探针分析仪基本原理
离子探针的原理是利用能量为1～20KeV的离子束照射在固体表面上，激发出正、负离子（溅射），利用质谱仪对这些离子进行分析，测量离子的质荷比和强度，从而确定固体表面所含元素的种类和数量。被加速的一次离子束照射到固体表面上，打出二次离子和中性粒子等，这个现象称作溅射。溅射过程可以看成是单个入射离子和组成
请问离子探针分析仪有哪些特点？
SISM有以下几个特点： 1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。 2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。 3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。 4
离子探针分析仪基本原理
离子探针的原理是利用能量为1～20KeV的离子束照射在固体表面上，激发出正、负离子（溅射），利用质谱仪对这些离子进行分析，测量离子的质荷比和强度，从而确定固体表面所含元素的种类和数量。被加速的一次离子束照射到固体表面上，打出二次离子和中性粒子等，这个现象称作溅射。溅射过程可以看成是单个入射离子和组成
离子探针原理
离子探针(IMA)的基本原理是，用高能负氧离子轰击样品表面，测定被飞溅活化出来并发生电离的原子（即离子）的同位素组成，以获得年龄。为一种得到迅猛发展的新型质谱计，它具有许多其他测年方法所没有的优点：不需要化学处理；具有高的分辨率，可同时获得几组年龄以确定被测对象同位素体系是否封闭，有无铅丢失；可对样
离子探针方法
离子探针方法是将质谱测定技术与离子发射显微镜技术相结合的现代仪器分析方法。能提供一般质谱分析所不能提供的试样微区质谱。由于它能对固体物质作微区、微量及深度成分分析，在某些条件下检测灵敏度可达ppb数量级，因此被广泛地应用于半导体、冶金、地质和生物研究等部门。其原理是利用聚焦的高能一次离子束轰击试样表
离子探针产品介绍、特点和应用领域
离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限
关于离子探针质量显微分析仪的简介
离子探针质量显微分析仪（ion microprobemass analyzer）,以聚焦很细（1～2 微米）的高能（10～20 千电子伏）一次离子束作为激发源照射样品表面，使其溅射出二次离子并引入质量分析器，按照质量与电荷之比进行质谱分析的高灵敏度微区成分分析仪器，简称离子探针。
离子探针分析仪的基本原理简介
离子探针的原理是利用能量为1～20KeV的离子束照射在固体表面上，激发出正、负离子（溅射），利用质离子探针分析仪基本原理谱仪对这些离子进行分析，测量离子的质荷比和强度，从而确定固体表面所含元素的种类和数量。 被加速的一次离子束照射到固体表面上，打出二次离子和中性粒子等，这个现象称作溅射。溅射过
钙离子荧光探针：比值型荧光探针
前面我们介绍了荧光指示剂法可以将Ca2+检测的实验与其他技术结合使用，如可以与流式细胞仪、荧光分光光度计、或者荧光显微镜进行联合检测 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，数量较少，可见光型数目较多，包括Fluo-3、钙黄绿素、Rhod-2等。荧光指示剂根据测光原理和数据
关于离子探针质量显微分析仪的展望介绍
离子探针质量显微分析仪的展望：离子探针作为一个具有分析微量元素的高灵敏度的微区分析方法正在迅速发展。但是，由于二次离子溅射机理较为复杂，定量分析仍存在许多问题。今后发展和改进的主要方向是：提高质谱分辨率，以减少和排除二次离子质谱干扰；实现多种质谱粒子探测，以获得样品和多种粒子的信息和资料；定量分
关于离子探针质量显微分析仪的仪器介绍
离子探针质量显微分析仪主要包括四部分： ①能够产生加速和聚焦一次离子束的离子源； ②样品室和二次离子引出装置； ③能把二次离子按质荷比分离的质量分析器； ④二次离子检测和显示系统及计算机数据处理系统等。 应用：元素检测、能检测包括氢在内的、元素周期表上的全部元素，对不同的元素，检测灵敏
关于离子探针质量显微分析仪的简史介绍
应用离子照射样品产生二次离子的基础研究工作最初是R.H.斯隆（1938）和R.F.K.赫佐格（1949）等人进行的。1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛赞在质谱法和离子显微技术基础上研制成了直接成像式离子质量分析器。1967 年H.利布尔在电子探针概念的基础上，用离子束代替电子束，以质谱仪（见质谱
关于离子探针质量显微分析仪的分析介绍
1、离子探针质量显微分析仪的深度分析： 作动态分析时，在一次离子束剥蚀作用下，样品成分及其浓度将随剥蚀时间而变化，因而得到了样品深度-浓度分布曲线。离子探针在半导体材料中对控制杂质元素注入量和注入深度及浓度分布上起着重要作用。还以其横向分辨率为1～2 微米、深度分辨率为50～100 埃的本领，
质谱仪离子探针质谱仪产品介绍、特点和应用领域
离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限
量子点作为荧光离子探针应用的研究进展
1. 引言量子点是一种准零维纳米晶粒，因其三个维度均受到量子限域，从而表现出一些独特的光学性能，如激发波长范围宽、发射波长范围窄且对称、量子产率高、荧光寿命长、光学性能稳定等优点。量子点作为荧光离子探针在离子以及小分子检测领域引起了许多研究人员的关注并且取得了不错的进展。离子和无机小分子与量子点之间
北京离子探针中心离子探针质谱仪器研发进入攻坚阶段
2010年1月16-17日，由北京离子探针中心主办的“2009北京SHRIMP成果报告会”在京隆重举行。中国科学院多位院士、政府相关部门负责人以及来自全国各地的地学界同仁等约100人出席了开幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流会”已经成为中国地学界同仁们进行学术交
探究环境监测中分析化学法的应用－离子探针
1 引言 当今，环境污染愈来愈严重，要想合理的控制环境污染问题，就要运用合适的分析方法，对环境中的污染物进行有效的分析监测，找寻有效的解决办法。分析化学法是当代环境监测中较为常用的一种，它有着大的优越性，所以，在环境监测中的运用范围越来越广泛。分析化学在环境监测中的运用指的是经过探究，采用现
纳米离子探针分析技术及其在地球科学中的应用
现代微束分析技术的进步，一方面，显著提高了分析精度，它甚至可以达到采用化学法分离和纯化处理后的测量精度; 另一方面，显著提升了空间分辨能力，其分析束斑的大小从微米级进入亚微米或纳米级. 在离子探针方面，最新型号Cameca IMS- 1280HR以高分析精度为特色，而Cameca NanoSIMS
氟硼荧类阴离子探针的实验教学应用研究
氟硼荧类阴离子探针的实验教学应用研究引言随着超分子化学的发展，分子识别在合成化学、生命科学、信息科学以及材料科学等领域中起着越来越重要的作用。分子识别是指分子之间通过非共价键结合而形成特定功能体的过程。为了使分子识别过程所包含的信息简单有效的向外界传递，可通过巧妙设计的具有分子器件性质的光化学传感分