解锁食物的秘密:探索XRF是怎么对食品进行批量化学分析的?

消费者健康在食品和饮料行业中自然是至关重要的。食品制造商使用大量的原材料,因此监测原材料进入生产过程之前以及产品到达货架之前对其进行分析是至关重要的。XRF分析XRF仪器广泛应用于食品行业,用于分析食品产品和原材料的元素组成。这种方法是非破坏性的,可以应用于广泛的样本,使其成为质量控制和产品开发的理想工具。XRF分析通过用高能X射线轰击样品来工作,这会导致样品中的原子发射特征X射线。然后检测并分析这些X射线以确定样品的元素组成。XRF技术是一种快速表征方法,其最小或无需样品制备,当研究者想要知道样品中存在什么(即批量化学信息)时非常有用。XRF系统可以轻松分析固体或液体样本,并提供包括样品中存在的元素数量及其浓度的高度准确的化学信息。这些信息对于营养和监管目的尤为重要。除了食品产品外,XRF分析还可以用于分析食品生产中使用的原材料,如谷物、油和添加剂。这些信息可以用于确保原材料的质量和一致性,并识别潜在的污染物或掺杂物。能量色散......阅读全文

WD-XRF与ED-XRF的优缺点

WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。

WD-XRF与ED-XRF有什么区别

WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。

WDXRF(波谱)与EDXRF(能谱)有哪些区别之处

X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。X射线荧光分析仪分为波长色散型(WD-XRF)与能量色散型(ED-XRF)两种。两者虽然同属于X射线荧光分析仪,产生信号的方法相同,后得到的波谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,两者在原理和仪器结构上有

X射线荧光分析的原理及应用

 X射线荧光分析(XRF)——是对任何种类的样品进行元素分析的好分析技术,无论必需分析的样品是液体、固体还是粉末。XRF可以将高的准确度和精密度与简单和快速的样品准备结合,对铍 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析,浓度范围从 100 % 到低至亚 ppm 级。   作为一种确定各种材料化学组成的

x射线荧光光谱仪-SPECTRO-XEPOS的广泛应用

斯派克XEPOS能量色散x射线荧光光谱仪(ED-XRF)重新定义ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光谱仪代表了能量色散x射线荧光技术的飞跃。它提供突破性的进步multi-elemental分析专业,小,微量元素浓度。新发展激励和检测提供出色的灵敏度和检测限制收益显著的精密度和准确

色散型与能量型x射线光谱仪各有什么优缺点

一、X一射线荧光分析仪(XRF)简介X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是

X射线机的优缺点

一、x一射线荧光分析仪(xrf)简介x一射线荧光分析仪(xrf)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在x射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级x射线(即x一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述x射线所采用的两个物理i.波长色徽型x射线荧光光诺仪(wd-xrf)是

单波长能量色散X射线荧光分析技术

  单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence),就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术,将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点,激发样品中元素荧光,这样极大降

什么是X射线荧光光谱

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

在光谱领域中XRF是什么

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

X射线荧光光谱的概念

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

X射线荧光光谱分析的发展概述

20世纪80年代初期,商品X射线荧光光谱仪主要有波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和以正比计数器为探测器的可携式X射线荧光光谱仪(PXRF)。WDXRF谱仪的送样系统和参数的设置已高度自动化,用户根据待分析试样的组成购买理论α系数表,用于校正基体中元素间的

波散XRF与能散XRF的区别

  一.X射线荧光分析仪简介  X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶

XRF的两大类型,波长色散型和能谱色散型区别何在?

  X射线荧光分析仪简介  X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。  波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后

微-X-射线荧光-(µXRF)技术详解

微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术,它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样,微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射,以用于元素分析。与传统 XRF 不同(其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米),µXRF 使用 X 射线

布鲁克推出新一代波散XRF-S8-TIGER™-2

  分析测试百科网讯 近日,Bruker宣布推出其新款波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪S8 TIGER™系列2。作为其即新一代产品,S8 TIGER系列2是最通用的WDXRF工具,可用于工业和学术材料研究以及材料的工业质量控制(QC)中的高级定量元素分析。S8 TIGER™ 2  据介绍,新的

探索小行星碎片,理学WDXRF和热分析帮大忙

  来自 Ryugu 的样本——一颗存在于离地球最近的小行星带中的 C 型小行星,估计有 46 亿年的历史——是迄今为止发现的最古老的已知材料。它是由日本国家航天局 JAXA 发射的探测器 Hyabusa2 收集的。 Hyabusa2 于 2014 年发射,并于 2020 年 12 月返回样本。与作

全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)原理及结构简述

  X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时,受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测,与样品内待测元素的含量相关,此为XRF光谱仪的理论依据。  根据分光系统的不同,XRF光谱仪主要有波长色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)两种,二者结构示

波长色散X射线荧光光谱仪的新进展

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法,是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射线荧光光谱仪(XRF)是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线),从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有波长色散型和能量色散型

XRF的分析

  a) X射线用于元素分析,是一种新的分析技术,但在经过二十多年的探索以后,现在已完全成熟,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。  b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外,还与这种元素在样品中的含量有关。  c) 根据各元素的特征X射线的强

X射线荧光光谱仪有两种基本类型

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD-XR

X荧光光谱仪分类及比较

   一、X-射线荧光光谱仪(XRF) 简介   X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。  波长色散型X射线荧光光谱仪(

XRF的分类

  不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射  线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。  因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:  波长色

波长色散型和能量色散型XRF的相关介绍

  不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射  线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。  因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:  波长色

X荧光分析仪的分类

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射    线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。    因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色

带你认识原子光谱技术

原子光谱技术作为现代分析检测技术中的一个重要组成部分,在分析领域中占据着举足轻重的地位,而其发展也反映了分析技术的不断改革与创新。综述了中国原子光谱技术近15年来(2000年—2014年)的研究与应用进展。内容涉及原子光谱的多个分支领域,包括原子发射光谱,原子吸收光谱,原子荧光光谱,X射线荧光光谱以

原子光谱技术概念扫盲

原子光谱技术作为现代分析检测技术中的一个重要组成部分,在分析领域中占据着举足轻重的地位,而其发展也反映了分析技术的不断改革与创新。综述了中国原子光谱技术近15年来(2000年—2014年)的研究与应用进展。内容涉及原子光谱的多个分支领域,包括原子发射光谱,原子吸收光谱,原子荧光光谱,X射线荧光光谱以

关于原子光谱的技术分类介绍

  原子光谱技术作为现代分析检测技术中的一个重要组成部分,在分析领域中占据着举足轻重的地位,而其发展也反映了分析技术的不断改革与创新。综述了中国原子光谱技术近15年来(2000年—2014年)的研究与应用进展。内容涉及原子光谱的多个分支领域,包括原子发射光谱,原子吸收光谱,原子荧光光谱,X射线荧光光

汇总原子光谱技术的五大领域

原子光谱技术作为现代分析检测技术中的一个重要组成部分,在分析领域中占据着举足轻重的地位,而其发展也反映了分析技术的不断改革与创新。综述了中国原子光谱技术近15年来(2000年—2014年)的研究与应用进展。内容涉及原子光谱的多个分支领域,包括原子发射光谱,原子吸收光谱,原子荧光光谱,X射线荧光光谱以

原子光谱技术有哪些分类

原子光谱技术作为现代分析检测技术中的一个重要组成部分,在分析领域中占据着举足轻重的地位,而其发展也反映了分析技术的不断改革与创新。综述了中国原子光谱技术近15年来(2000年—2014年)的研究与应用进展。内容涉及原子光谱的多个分支领域,包括原子发射光谱,原子吸收光谱,原子荧光光谱,X射线荧光光谱以