多模态跨尺度生物医学成像设施面向全国开放共享
大设施定制化Spectra 300 (S)TEM冷场发射透射电子显微镜凭借其尖端技术配置，如高亮度高相干性冷场电子源、低剂量成像系统、高衬度物镜系统、及多模态信号采集能力，突破了传统成像与分析界限，可同步实现样品的超微结构解析、原位成分鉴定及动态功能表征，为病毒-宿主互作机制、细胞器精细构效关系乃至生物大分子动态行为研究提供高分辨、多模态的分析平台。 本设备已完成全参数校准与生物兼容性验证，适配从负染/切片样本、液体样本到冷冻单颗粒及冷冻断层成像的全链条生物医学研究需求，正式面向全国用户开放共享。核心配置与功能包括： 1、冷场发射电子源（能量分辨率≤0.3 eV）； 2、高衬度物镜极靴（C-twin）； 3、集成式Super-X EDS探测器（双探头，元素分析范围B-U）； 4、GIF Continuum K3 IS相机（Gatan 1069）； 5、冷冻传输样品台（ Gatan 698 & Fischi......阅读全文
北京工业大学购947万透射电镜支持重大仪器研制专项
近日，北京工业大学国家重大科研仪器设备研制专项-苛刻使役条件下材料性能与结构动态研究系统中标结果公布，该项目采购内容是一套场发射透射电子显微镜（TEM），中标金额为947.23万元。 采购项目名称：北京工业大学国家重大科研仪器设备研制专项-苛刻使役条件下材料性能与结构动态研究系统 采购文件编
7000万预算，上交大只采购这两台仪器？
近日，上海交通大学公布了冷冻透射电子显微镜系统(第一期)的采购公告，为了应用用于蛋白质、蛋白质复合物和大分子机器（如病毒）的结构生物学研究。上海交通大学预算7000万采购300kv 透射电子显微镜和120KV 透射电子显微镜，招标文件截止至5月30日，其公告具体如下： 一、项目编号： 招标编
透射电子显微术－TEM
分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象谱图的表示方法：质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象提供的信息：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等
透射电镜（TEM）的操作
电镜操作：照相前，要调好电压对中、电流对中、亮度对中，消除像散，使物镜光阑孔与中心透射斑点同心。用5倍的双目镜协助，对图像聚焦。要选择亮度均匀的区域作为拍摄对象，尽可能使图像充满拍摄区域，把主要的观察对象放在荧光屏中心。FULL-HALF(全张-半张)转换旋钮要旋转到位，如果不到位，会出现图像分割不
打破100％依赖进口－我国首台国产商业场发射透射电镜诞生
打破国内透射电镜100%依赖进口的局面！ 1月20日，由生物岛实验室领衔研制，拥有自主知识产权的首台国产场发射透射电子显微镜在广州发布。这标志着我国已掌握透射电镜用的场发射电子枪等核心技术，并具备量产透射电镜整机产品的能力，将为我国在材料科学、生命科学、半导体工业等前沿科学及工业领域的高质量发
透射电子显微镜基础知识（三）
电子 理论上，光学显微镜所能达到的最大分辨率，d，受到照射在样品上的光子波长λ以及光学系统的数值孔径，NA，的限制： 二十世纪早期，科学家发现理论上使用电子可以突破可见光光波波长的限制（波长大约400纳米-700纳米）。与其他物质类似，电子具有波粒二象性，而他们的波动特性意味着一束电子具有与一束
清华大学仪器共享平台Hitachi－S5500－高分辨场发射扫描电镜
仪器名称：高分辨场发射扫描电镜 Hitachi S-5500仪器编号：08005387产地：日本生产厂家：日立公司型号：S-5500出厂日期：200511购置日期：200804样品要求：扫描样品：样品台尺寸4mmx7mm（最大5mmx9mm）透射样品：直径3mm铜网或同尺寸的薄样品。所属单位：材料学
清华大学仪器共享平台Hitachi－S5500－高分辨场发射扫描电镜
仪器名称：高分辨场发射扫描电镜 Hitachi S-5500仪器编号：08005387产地：日本生产厂家：日立公司型号：S-5500出厂日期：200511购置日期：200804所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区123室固定电话：固定手机：固定email：联系人
Hitachi－S5500高分辨场发射扫描电镜－共享
仪器名称：高分辨场发射扫描电镜 Hitachi S-5500仪器编号：08005387产地：日本生产厂家：日立公司型号：S-5500出厂日期：200511购置日期：200804样品要求：扫描样品：样品台尺寸4mmx7mm（最大5mmx9mm）透射样品：直径3mm铜网或同尺寸的薄样品。所属单位：材料学
清华大学仪器共享平台Hitachi－S5500－高分辨场发射扫描电镜
仪器名称：高分辨场发射扫描电镜 Hitachi S-5500仪器编号：08005387产地：日本生产厂家：日立公司型号：S-5500出厂日期：200511购置日期：200804所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区123室固定电话：固定手机：固定email：联系人
场发射扫描电子显微镜的指标信息和附件信息
指标信息 二次电子图像（SEI） 分辨率1.5nm 背散射电子图像（BEI) 分辨率3.0nm X射线能谱仪（EDS） 分辨率128ev 分析范围B5～U92 电子背散射衍射（EBSP）空间分辨率 0.5μm 采集时间 20ms～2s/每菊池图 数字图像采集系统 分辨率512×384p
场发射扫描电子显微镜的产品特点和应用范围
场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化
场发射扫描电子显微镜－JEOL－JSM－6301F共享
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
场发射枪扫描电子显微镜的主要用途
主要用途： 适用于 金属、 陶瓷、 半导体、 矿物、 生物、 高分子、 复合材料和 纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）； 可进行微区的点、线、面成分分析； 指定元素在形貌上成象； 晶体材料的晶体取向及微区取向分析、结构分析、正反极图、欧拉空间分析等； 图象定
JEOL－JSM－6301F场发射扫描电子显微镜－共享
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
关于透射电子显微镜的背景知识介绍
1、电子 理论上，光学显微镜所能达到的最大分辨率，d，受到照射在样品上的光子波长λ以及光学系统的数值孔径，NA，的限制： 二十世纪早期，科学家发现理论上使用电子可以突破可见光光波波长的限制（波长大约400纳米-700纳米）。与其他物质类似，电子具有波粒二象性，而他们的波动特性意味着一束电子具
透射电镜的背景知识
电子 理论上，光学显微镜所能达到的最大分辨率，d，受到照射在样品上的光子波长λ以及光学系统的数值孔径，NA，的限制： 二十世纪早期，科学家发现理论上使用电子可以突破可见光光波波长的限制（波长大约400纳米-700纳米）。与其他物质类似，电子具有波粒二象性，而他们的波动特性意味着一束电子具有与
多模态跨尺度生物医学成像设施面向全国开放共享
大设施定制化Spectra 300 (S)TEM冷场发射透射电子显微镜凭借其尖端技术配置，如高亮度高相干性冷场电子源、低剂量成像系统、高衬度物镜系统、及多模态信号采集能力，突破了传统成像与分析界限，可同步实现样品的超微结构解析、原位成分鉴定及动态功能表征，为病毒-宿主互作机制、细胞器精细构效关系
SEM－vs－TEM：操作上的差异
SEM vs TEM：操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5
SEM－vs－TEM：操作上的差异
SEM vs TEM：操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5
6款产品－精心之作，赛默飞之夜带您进入电镜的神奇领域
分析测试百科网讯 在2019年全国电子显微学学术年会上，赛默飞为广大参会人员展示其最新产品、技术、解决方案和创新软件。在赛默飞之夜的晚宴上，赛默飞正式发布了Spectra 扫描/透射电子显微镜、Krios G4新一代冷冻电镜、Aquilos 2 新一代冷冻双束电镜等共计6款新品。晚宴发布会赛默飞
扫描电镜和透射电镜的区别
电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中，两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。 在这篇博客中，将简要描述他们的相似点和不同点。 扫描电镜和透射电镜的工作原理 从相似点开始, 这两种设
多层纳米线透射电子显微术分析和磁性研究
多层纳米线以其特有的结构在基础物理研究和纳米器件应用领域具有重要的价值。透射电子显微镜(TEM)具有全面表征和分析纳米单体的功能,对多层纳米线阵列和单根多层纳米线微纳尺度下结构和成份的研究将为探讨纳米线阵列的磁性和形貌之间的关系,以及单根多层纳米线的电学和磁学性质奠定基础,这有助于推动纳米器件和磁记
结合SEM和TEM技术
结合SEM和TEM技术 还有一种电子显微镜技术被提及，它是透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的结合，即扫描透射电镜（STEM）。 如今，大多数透射电镜（TEM）可以切换到“STEM模式”，用户只需要改变其对准程序。 在扫描透射电镜（STEM）模式下，光束被精确聚焦并扫描样品区域（如SEM），而图
透射电子显微镜基础知识（五）
TEM成像原理 透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况：吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布
场发射扫描电镜
用运载火箭发射航天器，不是任何时候都可以进行，有年份、月份、日期和时刻的选择。比如，哈雷彗星以76年为周期回归，哈雷彗星探测器应选在其回自太阳的几个连续年份中发射；火星与地球的会合周期为780天，火星探测器应在火星与地球会合前后连续的几个月份中发射；有些航天器必须在某个月内连续的几天中发射；由于工作
tem是什么
tem是指透射电子显微镜。透射电子显微镜，简称TEM，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。目前TEM的分辨力可达0.2nm。电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前
SEM－vs－TEM：操作上的差异
这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SE
关于透射电子显微镜的基本信息介绍
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的
透射电子显微镜的功能介绍
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射