多模态跨尺度生物医学成像设施面向全国开放共享先进生物医学成像设备漫谈
大设施定制化Spectra 300 (S)TEM冷场发射透射电子显微镜凭借其尖端技术配置，如高亮度高相干性冷场电子源、低剂量成像系统、高衬度物镜系统、及多模态信号采集能力，突破了传统成像与分析界限，可同步实现样品的超微结构解析、原位成分鉴定及动态功能表征，为病毒-宿主互作机制、细胞器精细构效关系乃至生物大分子动态行为研究提供高分辨、多模态的分析平台。 本设备已完成全参数校准与生物兼容性验证，适配从负染/切片样本、液体样本到冷冻单颗粒及冷冻断层成像的全链条生物医学研究需求，正式面向全国用户开放共享。核心配置与功能包括： 1、冷场发射电子源（能量分辨率≤0.3 eV）； 2、高衬度物镜极靴（C-twin）； 3、集成式Super-X EDS探测器（双探头，元素分析范围B-U）； 4、GIF Continuum K3 IS相机（Gatan 1069）； 5、冷冻传输样品台（ Gatan 698 & Fischi......阅读全文
透射电子显微镜的结构与功能特点
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射
关于透射电子显微镜的基本信息介绍
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的
透射电子显微镜的功能介绍
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射
关于透射电子显微镜的简介
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的
透射电子显微镜的功能和技术特点
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射
国家重点专项场发射枪扫描电子显微镜通过验收
12月6日，由北京中科科仪股份有限公司承担的国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”项目技术综合验收会在北京外国专家大厦召开，科技部专家组成员、项目牵头单位、合作和应用单位代表参加了本次会议。 会上，验收专家组现场听取了中科科仪项目负责人张永明所做的完成情况汇报，观看了
日立新型场发射扫描电子显微镜Regulus®系列上市
－分辨率・倍率的提升和新功能的搭载，从而获得更高质量的图像－ 2017年5月31日，日本株式会社日立高新技术（TSE:8036，日立高新技术）于5月30日开始发售场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）的全新品牌 "Regulus®系列"。 "Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌
新型热场发射扫描电子显微镜JSM7900F上市
—新一代高性能分析工具，兼具超高分辨率和简易操作性的FE-SEM— 日本电子株式会社 （社长 栗原 権右衛門）宣布：新型热场发射扫描电子显微镜JSM-7900F于2017年5月开始全球销售。 开发背景 纳米技术、金属、半导体、陶瓷及医学生物学等各种各样领域里，扫描电子显微镜被活用，而且它的
打破国外垄断－场发射枪扫描电子显微镜专项通过验收
日前，国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”项目在北京通过科技部验收，这标志着这一纳米研究领域的高端科学仪器实现了国产化。 该项目由中国科学院下属企业北京中科科仪股份有限公司承担研制工作。在项目技术综合验收会上，科技部验收专家组现场听取了项目完成情况汇报，观看了项目
场发射扫描电子显微镜（FESEM）对检测样品的要求说明
1、样品中不得含有水、有机小分子等易挥发、易分解成分。 2、样品尽量小，最大尺寸：高15mm，直径30mm。 3、多孔或易潮解样品，需提前真空干燥处理。 4、粉末样品中不能含有铁、钴、镍等具有磁性成分，且不易被磁化。超声分散，滴在铝箔上，干燥后送样。 5、需观察样品断面时，断面自己制备。
场发射扫描电子显微镜的操作检查光学系统
电子光学系统是由电子枪、电磁透镜、扫描线圈组成的，也是扫描电子显微镜的核心部分。为保证电子束沿这些部件的轴线穿行，必须调节这些部件合轴，即光阑对中。而电镜初学者往往一味地进行调焦、变倍操作，可是得到的图像仍不清楚，于是怀疑电镜出现故障。下面将就从光阑对中、物镜消像散、查看电子束束流和灯丝寿命情况这几
透射电子显微镜对比度信息和亮场相关介绍
对比度信息 TEM中的对比度信息与操作的模式关系很大。复杂的成像技术通过改变透镜的强度或取消一个透镜等等构成了许多的操作模式。这些模式可以用于获得研究人员所关注的特别信息。 亮场 TEM最常见的操作模式是亮场成像模式。在这一模式中，经典的对比度信息根据样品对电子束的吸收所获得。样品中较厚的
高分辨TEM答疑
1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别? XPS采样深度为2-5nm，我想知道EDS采样深度大约1um。 1.jpg 2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像? 原子分辨率STEM并不
高分辨TEM答疑
1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别? XPS采样深度为2-5nm，我想知道EDS采样深度大约1um。 2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像? 原子分辨率STEM并不是HAADF的ZL，ADF或明场探头也可以做到，只是可
上了邮票的科研成就－被中断
上了邮票的科研成就被中断 场发射的另一个关键部分是牵拉出电子的外加电场，电场电压高达300千伏。“在这样的高压下保持电压稳定，才能‘拉’出稳定一致的电子，专业上称为‘单色性好’。”万克树说。 据题为《中国透射式电子显微镜发展的历程》的文章记载，1963年，我国就开始了高压100kV电子枪
透射电子显微镜基础知识（二）
恩斯特·阿贝最开始指出，对物体细节的分辨率受到用于成像的光波波长的限制，因此使用光学显微镜仅能对微米级的结构进行放大观察。通过使用由奥古斯特·柯勒和莫里茨·冯·罗尔研制的紫外光显微镜，可以将极限分辨率提升约一倍。然而，由于常用的玻璃会吸收紫外线，这种方法需要更昂贵的石英光学元件
透射电子显微镜基础知识（二）
恩斯特·阿贝最开始指出，对物体细节的分辨率受到用于成像的光波波长的限制，因此使用光学显微镜仅能对微米级的结构进行放大观察。通过使用由奥古斯特·柯勒和莫里茨·冯·罗尔研制的紫外光显微镜，可以将极限分辨率提升约一倍。然而，由于常用的玻璃会吸收紫外线，这种方法需要更昂贵的石英光学元件。当时
Z－衬度像/HAADFSTEM－像
Z 衬度像/HAADF-STEM 像（ Z-contrast Imaging/ High angle annular dark field image,HAADF）20 世纪 90 年代以来，随着电镜硬件的不断发展，尤其是具有场发射电子枪的超高真空电镜的出现和普及，一种高分辨扫描透射成像技术，即高分
透射电镜的历史
恩斯特·阿贝最开始指出，对物体细节的分辨率受到用于成像的光波波长的限制，因此使用光学显微镜仅能对微米级的结构进行放大观察。通过使用由奥古斯特·柯勒和莫里茨·冯·罗尔研制的紫外光显微镜，可以将极限分辨率提升约一倍。然而，由于常用的玻璃会吸收紫外线，这种方法需要更昂贵的石英光学元件。当时人们认为由于
三种常见电子显微镜透射电镜－、扫描电镜、反射电镜介绍
常见的类型主要有3种：透射电镜 TEM、扫描电镜SEM以及反射电镜REM。一、透射电子显微镜 TEM透射电子显微镜是电子显微镜的原始类型，它的主要原理是将高压电子束引导至样品以照亮样品并产生样品的放大图像。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、
医学中扫描电镜的应用
一、基本技术平台 1.仪器：电子显微镜(electron microscope,简称电镜或EM)及制样设备： ①透射电镜(TransmissonEM, TEM):内部结构 ②扫描电镜(Scanning EM, SEM):表面超微结构 2.样品制备技术或电镜技术(electron mi
透射电子显微镜的简介
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真
高真空蒸发镀膜仪的设计让其操作更容易实现
高真空蒸发镀膜仪是全自动程序控制，彩色触摸屏界面，操作简单，它可以镀金（AU），铂（PT）和其他非氧化的贵金属，也可以镀铱（IR），铬（CR），铝（AL）和其他易氧化膜材料的细颗粒。它特别适用于场发射电子显微镜，透射电子显微镜和非晶碳熔覆/TEM网格支撑膜的样品制备，还可以为薄膜应用和其他材料领
清华大学仪器共享平台FEI－Titan－80300－场发射球差校正电镜
仪器名称：FEI Titan 80-300 场发射球差校正电镜仪器编号：09004581产地：美国生产厂家：FEI公司型号：Titan80-30出厂日期：200806购置日期：200904所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼131房间固定电话：固定手机：固定email
场发射式电子枪
场发射式电子枪则比钨灯丝和六硼化镧灯丝的亮度又分别高出 10 - 100 倍，同时电子能量散布仅为 0.2 - 0.3 eV，所以目前市售的高分辨率扫描式都采用场发射式电子枪，其分辨率可高达 1nm 以下。 目前常见的场发射电子枪有两种:冷场发射式(cold field emission , FE
再创先河！中科科仪“场发射枪扫描电子显微镜”通过验收
2021年6月8日，中国仪器仪表行业协会（简称“协会”）受北京中科科仪股份有限公司（简称“中科科仪”）委托，组织相关专家召开了科技成果评价会，对中科科仪研制的“场发射枪扫描电子显微镜”进行了科技成果评价。评价委员会由中国科学院院士朱静、中国人民解放军军事科学医学院教授张德添、中国科学院电工研究所
透射电镜(TEM)与扫描电镜(SEM)在测试中的一些常见问题
透射电镜简单分类透射电镜根据产生电子的方式不同可以分为热电子发射型和场发射型｡热电子发射型用的灯丝主要有钨灯丝和六硼化镧灯丝；场发射型有热场发射和冷场发射之分｡根据物镜极靴的不同可以分为高倾转､高衬度､高分辨和超高分辨型｡2TEM要液氮才能正常操作吗不同于能谱探头,TEM液氮冷却并不是必须的,但它有
透射电子显微镜－背景知识
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如
透射电子显微镜背景
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、