一种能精细评估薄层油气藏的新型成像方法被提出
近日，电子科技大学自动化工程学院核探测技术与成像团队针对传统密度成像工具在薄层识别中存在分辨率低、测量误差大以及放射性风险高等问题，提出了一种基于可控X射线源的新型成像方法，并结合优化的Fisher分割算法对薄层特征进行识别与参数反演。相关成果发表在《石油科学》上。研究首先采用X射线源替代传统的Cs-137放射源，在提升纵向分辨率的同时显著降低辐射风险。仿真结果表明，该新型X射线工具在保持灵敏度的前提下，具有更优的探测深度与分辨能力。随后，团队将薄层界面识别问题转化为数学聚类问题，并采用非线性最小二乘法对薄层参数进行拟合与估算。实验验证显示，该方法在复杂地层条件下展现出更高的识别精度与应用潜力，为后续薄层油气藏的精细评估提供了有力支持。本成果依托于电子科技大学核探测技术与成像团队，该团队长期致力于核测井仪器设计、脉冲中子与X射线可控源理论、以及数字化蒙特卡罗模拟平台集成等方向的研究，已构建起“电子科技大学—中海油服核测井联合实验......阅读全文
一种能精细评估薄层油气藏的新型成像方法被提出
近日，电子科技大学自动化工程学院核探测技术与成像团队针对传统密度成像工具在薄层识别中存在分辨率低、测量误差大以及放射性风险高等问题，提出了一种基于可控X射线源的新型成像方法，并结合优化的Fisher分割算法对薄层特征进行识别与参数反演。相关成果发表在《石油科学》上。研究首先采用X射线源替代传统的Cs
一种能精细评估薄层油气藏的新型成像方法被提出
近日，电子科技大学自动化工程学院核探测技术与成像团队针对传统密度成像工具在薄层识别中存在分辨率低、测量误差大以及放射性风险高等问题，提出了一种基于可控X射线源的新型成像方法，并结合优化的Fisher分割算法对薄层特征进行识别与参数反演。相关成果发表在《石油科学》上。研究首先采用X射线源替代传统的Cs
重建的美国X射线源迎来新生
在耗资8.15亿美元、历时14个月的重建之后，美国首屈一指的X射线同步加速器—— 一台用于研究材料和分子原子结构的大型机器，重新焕发了生机。在新的APS内循环着一束比人类头发还窄的强电子束。图片来源：ARGONNE NATIONAL LABORATORY据《科学》报道，近日，位于阿贡国家实验室的新型
放射型X射线源的相关介绍
放射型X射线源通常较为简便、体积较小，成本较低；但是，这种放射源不能被关闭，并且会对环境、使用者等造成一定的危害，因此，对于这种类型的X射线源的使用需要进行注册登记，同时对其运输和处理都具有一定的限制，此外，人们还需要对这种放射源进行定期测试。
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
薄层成像系统和凝胶成像系统区别
不一样的...Bio-Rad的紫外灯管是装在底板上的，薄层板不能透过或者透过率很低，达不到成像的要求的；薄层的成像系统紫外灯光是从板上部照射下来成像的。只拍白光的薄层板理论上是可以的，但是貌似要拍出彩色片的话要调节软件里的成像参数。
工业CT的原理是怎样的？
随着制造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。 传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。 于是，许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。
工业CT的原理是怎样的？
随着制造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。 传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。 于是，许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。
工业CT工作原理
电子计算机体层摄影(Computed tomography，简称CT)是近十年来发展迅速的电子计算机和X线相结合的一项新颖的诊断新技术。其原理是基于从多个投影数据应用计算机重建图像的一种方法，现代断层成像过程中仅仅采集通过特定剖面(被检测对象的薄层，或称为切片)的投影数据，用来重建该剖面的图像，因此
Bruker－AXS推出全新X射线源与检测器
7月30日， 在美国丹佛举行的X射线会议上，Bruker AXS公司（全球领先的生命科学、材料研究和工业用X-ray分析工具供应商）和Incoatec GmbH公司（X-ray光学元件供应商）宣布推出一款全新的超速度的X射线源与检测器的组合，以进一步提高现有的Bruker AXS仪器的性能，其中包括
工业CT的工作原理
随着制造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。于是，许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。工业CT(ICT)就是计
工业CT的工作原理
随着制造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。于是，许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。 工业CT(IC
工业CT的原理介绍如下
随着制造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。 传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。 于是，许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。
掠射X射线望远镜的分类
X射线望远镜光学系统一般采用沃尔特Ⅰ型──抛物面焦点与双曲面的后焦点重合的同轴光学系统。其焦平面通过双曲面的前焦点。按照制作工艺来划分,X射线望远镜的研制已经历三代。第一代镜面是铝制的,效率为1％，1963年用这种望远镜拍摄到分辨率为几角分的照片,可看出太阳上存在着X射线发射区。第二代镜面是在光
掠射X射线望远镜的简介
一种使天体X辐射成像的仪器。X射线很易被介质吸收﹐且在介质中其折射率近于1。这表明﹐折射系统不可能用在X射线波段﹐而X射线在非常倾斜的掠射角下将产生全反射。掠射 X射线望远镜就是利用这种全反射原理设计而成的。1952年﹐沃尔特首先建议利用X射线掠射的全反射现象来进行光学聚焦﹐使用两个同轴共焦旋转
薄层数码成像分析仪
薄层数码成像分析仪薄层数码成像分析技术是利用数码成像设备获得薄层板上各点的光强度信息，之后对获得图像进行分析的薄层分析技术。数码成像设备包括两种：照相机和扫描仪（由于数码扫描仪采用逐行成像技术，为便于区分传统薄层扫描仪的逐点扫描，将数码扫描仪称为逐行扫描仪）。和传统薄层扫描一样，照相机或逐行扫描仪都
X线成像原理
X线成像基本原理，一方面是基于X线的穿透性、荧光效应和感光效应；另一方面是基于人体组织之间有密度和厚度的差别。当X线透过人体不同组织结构时，被吸收的程度不同，所以到达荧屏或胶片上的X线量即有差异。这样，在荧屏或X线片上就形成明暗或黑白对比不同的影像。1895年德国的物理学家伦琴在一只嵌有两个金属电极
解析MFX（微焦点X射线源）的基本原理
X射线是高速运动的电子在与物质相互作用中产生的。在X射线管中，从阴极发射的电子，经阴极、阳极间的电场加速后，轰击X射线管靶（Target），将其动能传递给靶上的原子。其中约有1%左右的能量转化为X射线，并从X射线照射窗（Output Window）中射出。在MFX中，阴极发射的电子会被聚焦到靶上
掠射软X射线荧光分析技术研究
掠射X射线分析是近年来迅速发展的一门分析技术，在科学研究以及分析检测和质量控制等生产领域都有着广泛的应用。X射线分析技术具有试样无损分析、制样经济方便、操作简单、分析结果重现性好及精度高等优点，使得这项技术在薄膜特性分析、半导体材料及磁铁材料表面检测方面受到特别的青睐。本文在综述了国内外掠射X射线荧
薄层数码成像仪和传统数码成像仪区别
根据数码成像原理，薄层数码成像从技术上可理解为单光源密集扫描。和传统薄层扫描系统相比，由于使用单一光源，效果不如双波长扫描（即无法消除铺板不均产生的影响）；而在扫描精度方面，却要超过锯齿扫描。 在光源稳定均匀性控制方面，照相机采用一次性闪光，不存在稳定性问题，但是照相机用点光源发散形成面光源照
银河系超软X射线源研究有新发现
从中国科学院云南天文台了解到，该台研究人员发现超软X射线源天箭座V的连续轨道光变曲线存在奇特的无规律变化，首次揭示了射线源周围很可能存在分布不均匀的星周物质和不规则的物质损失。同时分析了其中心密近双星系统的轨道周期变化，给出了物质转移率的大致范围。国际权威天文学杂志《英国皇家天文学会月刊》发表了
X光成像技术现状
X光成像技术在医疗、安检、工业探伤、无损检测等领域中具有举足轻重的地位。传统的X光成像技术采用的是模拟技术，X光影像一旦产生，其图像质量就不能再进一步改善，且其信息为模拟量，不便于图像的储存、管理和传输，限制了它的发展。 X光图像的数字化不仅可利用各种图像处理技术对图像进行处理，改善图像质量，
X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响
利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低
科学家发现轨道连续扩张的持续超软X射线源
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/5/500616.shtm记者14日从中国科学院云南天文台获悉，该台研究人员首次发现银河系中轨道连续扩张的持续超软X射线源，并揭示了由物质转移引起的轨道演化机制，提示当白矮星质量达到相应极限时，很可能会产生Ia
中科院分子影像实验室采用牛津仪器X射线源
中科院自动化研究所分子影像实验室采用牛津仪器超亮微焦斑X射线源(UltraBright)，自主研发成像系统，在分子影像研究领域取得了系列突破性的成果。分子影像技术是现代医学影像发展的重要趋势，利用分子影像技术，可以实时、在体、连续观测疾病发生发展过程中细胞和分子水平的生理过程，探究疾病的发生机理
医用放射治疗X射线源激活抗肿瘤前药研究获进展
近日，中国科学院深圳先进技术研究院生物医药与技术研究所研究员耿晋、博士后张一川和英国爱丁堡大学的Mark Bradley等探索了利用医用放射治疗X射线源激活抗肿瘤前药的可能性，并取得了一系列成果。研究结果以Switching on prodrugs using radiotherapy为题，发表
薄层数码成像分析仪误差分析
薄层数码成像分析技术是利用数码成像设备获得薄层板上各点的光强度信息，之后对获得图像进行分析的薄层分析技术。数码成像设备包括两种：照相机和扫描仪（由于数码扫描仪采用逐行成像技术，为便于区分传统薄层扫描仪的逐点扫描，将数码扫描仪称为逐行扫描仪）。 和传统薄层扫描一样，照相机或逐行扫描仪都具有光
X射单晶末衍射仪对检测样品的要求
送检样品必须为单晶，选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致。 不附着小晶体，没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷。 晶体长、宽、高的尺寸均为0.1~0.4mm ，即晶体对角线长度不超过0.5mm(大晶体可用切割方法取样，小晶体则要考虑其衍射能力)。
X光成像技术的简介
X射线又称伦琴射线，它是肉眼看不见的一种射线，但可使某些化合物产生荧光或使照相底片感光；它在电场或磁场中不发生偏转，能发生反射、折射、干涉、衍射等；它具有穿透物质的本领，但对不同物质它的穿透本领不同；能使分子或原子电离；有破坏细胞作用，人体不同组织对于X射线的敏感度不同，受损害程度也不同。因此，
X光成像技术的发展
随着科技的进步，X线摄影经历了从最早的摄影干板到胶片/增感屏组合，到目前数字化X射线图像的各阶段的进步。二十世纪60年代末至70年代初以来，随着计算机与微电子技术的飞速发展，席卷全球的数字化技术和计算机网络与通信技术已经对X光影像设备产生广泛而深远的影响。 影像设备的数字化和网络化以及占医学信