EXPLORERserieshandheldXRFhasenteredthepublicreviewstagefortheANTOPAward
The 2026 ANTOP Award nomination is in full swing! The "Handheld XRF High-Performance Breakthrough Pioneer Award" submitted by Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd. has entered the public review stage. We sincerely invite all experts in the industry to cast your valuable vote for Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd. EXPLORER series handheld XRF! Every vote from you is an encouragement to the industry and a vote......阅读全文
XRF的选型误区（二）
重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器，一定是建立在分析技术研究基础之上的，否则
关于XRF的仪器分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式
XRF测试结果分析方式
定性分析不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱
关于XRF的优点介绍
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。 非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 测试元素范围大，WDX可在p
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的选型误区（三）
重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等，更重要的是应用技术服务。对于大
关于XRF的波长介绍
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。
XRF的选型误区（一）
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
XRF是什么东西
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统
XRF选购基础知识
1仪器品牌& 公司实力这点和购买其他商品一样,我们都会注意到这点,购买XRF我们要看这个品牌是不是在RoHS指令执行期间才冒出来的,大家都知道仪器技术都是要靠积累和沉淀的,还有大家关心的是会不会这个公司应为RoHS而生,因为RoHS而亡.如果这个公司赚够钱,突然蒸发了,那用户怎么办,售后服务由谁
XRD与XRF的区别
XRD与XRF的区别： 1，用途：XRD：测定晶体的结构，XRF：元素的定性、定量分析。 2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。 3，仪器：单色X射线光源，不需要分光晶体。
WDXRF（波谱）与EDXRF(能谱)有哪些区别之处
X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。X射线荧光分析仪分为波长色散型（WD-XRF）与能量色散型（ED-XRF）两种。两者虽然同属于X射线荧光分析仪，产生信号的方法相同，后得到的波谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，两者在原理和仪器结构上有
ANTOP奖项申报小窍门
Antpedia十周年之际，始设立“ANTOP奖”，希望以见证者的身份记录下对行业产生卓越贡献或独特影响的人/物/事。我们坚信，促进行业发展的每一个“标识”，都能被发现，都应被记载！ 鉴于ANTOP奖项不同于以往奖项的全新申报规则，小伙伴们可能不是很熟悉，申报过程中有诸多的误区，小编特别为大家
ANTOP——GCMS产品获奖盘点
作为分析测试行业前进的见证者，分析测试百科网忠实记录着行业前进的每一个步伐！ 自2017年开启ANTOP奖以来，已成功举办3届，科学仪器企业竞相参与，得到了广大网络用户的好评和业界人士的高度关注，下面小编将为您盘点历届获得ANTOP奖的GCMS产品。 耐用易维护GC-MS/MS 奖项主体：W
一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能
关于XRF的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
XRF原理天瑞EDX－2800
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
XRF镀层测厚仪的组成介绍
XRF光谱仪的主要部件组成为X射线管、光圈、探测器、对焦系统、相机以及样品台。如上图所示。X射线管是仪器的一部分，产生照射样品的X射线。光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决光斑尺寸，正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。探测器与相关电子设备一并处理从样品中激发出的
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
关于XRF的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
XRF筛选方法若干问题
1、方法的范围、应用及概述这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。XRF是一种通过比较来进行定量的仪器，因此它
XRF使用规程9900OXSAS
1． 开机前首先须确认电路和仪器及各辅助设备正常。 2． 打开外循环冷却水机，并将其温度设定为20℃。打开P10气体阀，并将其输出压力设定为0.025MPa。 3． 依次打开主机背后的主电源和高压发生器电源，旋开主机前面的紧急制动按钮。 4． 打开计算机，登陆OXSAS分析程序。点击弹出窗口中的In
选择XRF技术的优势介绍
相比其他分析技术，XRF具有许多优势。 其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性技术，仅需制备少量样品甚至完全不需要制备样品，因此，其相比其他技术成本较低。 这也就是为什么全球这么多人选择使用XRF技术进行日常的材料分析工作。
XRF仪器的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自
XRF分析仪的用途
XRF分析仪用于需要辨别材料的化学成分或样件合金牌号的应用中。便携式XRF分析仪可在野外现场采用堪比实验室的技术对那些庞大、笨重或运送成本很高的样品进行检测。在现场进行分析可以实时提供信息，使用户迅速做出决策。
XRF分析仪探测什么？
XRF分析仪可以探测从镁（Mg）到铀（U）的元素。XRF分析仪几乎可以指向任何样件进行检测，并获得准确的结果。使用分析仪完成的常见应用包括废料分拣、合金牌号的辨别、金属制造业的质量控制（QC）、地质勘探或采矿、工业材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及消费产品的检测，以发现漆层中的铅或其他污染物。
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
XRF合金分析仪简介
合金分析仪是基于X射线理论而诞生的，它主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和军事制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。
关于XRF的基本分析
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。