关于XRF的波长介绍
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。......阅读全文
关于XRF的波长介绍
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。
关于XRF的优点介绍
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。 非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 测试元素范围大，WDX可在p
波长色散型和能量色散型XRF的相关介绍
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型: 波长色
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
关于XRF仪器的特点介绍
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
关于XRF的发展历程介绍
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
关于XRF的缺点和不足介绍
a)难于作绝对分析，故定量分析需要标样。 b)对轻元素的灵敏度要低一些。 c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
关于XRF的详细信息介绍
X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管
关于XRF的应用领域介绍
XRF是一种确定各种材料化学组成的一种分析方法。被测材料可以是固体、液体、粉末或其它形式。XRF还可测定镀层和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点。应用范围广泛，涉及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和环境等领域，在医药研究方面，XR
关于XRF的基本原理介绍
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
关于滤光片波长的介绍
能从紫外到红外任意波长﹑λ为 1～500埃的各种干涉滤光片。金属－介质膜滤光片的峰值透射率不如全介质膜高，但后者的次峰和旁带问题较严重。薄膜干涉滤光片中还有一种圆形或长条形可变干涉滤光片，适宜于空间天文测量。此外，还有一种双色滤光片，它与入射光束成45°角放置，能以高而均匀的反射和透射率将光束分
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
关于反射镜的波长的介绍
般的光源是由不同波长的单色光所混合而成的复色光，所谓的“单色光”是指白光或太阳光经三菱镜折射所分离出光谱色光--红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫等七个颜色，因为这种被分解的色光，即使再一次通过三菱镜也不会再分解为其他的色光，所以将这种不能再分解的色光叫做单色光；而由“单色光”所混合的光称为“复色光”。
关于XRF的仪器分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式
关于XRF元素定量分析的问题介绍
1) 不同的元素激发和探测效率不同，有的元素很容易激发和检测，有的元素很难激发和检测，那么强度和含量的关系大不相同。 2) X射线荧光光谱分析中一个重要的难点是解决元素之间的吸收增强效应的问题。 最简单的方法当然是采用标准样品，通过检测标准样品的荧光强度，在荧光强度和含量之间通过最优化算法（
单波长XRF在锂电池负极材料元素分析的应用
一、 应用概述 锂电池负极材料中的杂质元素直接影响电池的充放电性能，石墨是主流的锂电池负极材料。随着锂离子电池对性能的要求提升，对于负极材料中杂质元素的限值越来越低，常规使用ICP-OES分析负极材料中杂质元素，样品处理复杂和费时费力，滞后于生产质量控制要求，且无法分析痕量的Si、P、S、Cl
XRF分析的基本介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
关于XRF的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
关于XRF的基本分析
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据
关于XRF的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
关于XRF光谱仪的化学分析介绍
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪
关于红外温度计的波长范围的介绍
目标材料的发射率和表面特性决定测温仪的光谱响应或波长。对于高反射率合金材料,有低的或变化的发射率。在高温区,测量金属材料的最佳波长是近红外,可选用0.18-1.0μm波长。其他温区可选用1.6μm、2.2μm和3.9μm波长。由于有些材料在一定波长是透明的,红外能量会穿透这些材料,对这种材料应选
关于X射线的波长和能量的相关介绍
1、X射线的波长 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。 2、X射线的能量 而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或
XRF镀层测厚仪的组成介绍
XRF光谱仪的主要部件组成为X射线管、光圈、探测器、对焦系统、相机以及样品台。如上图所示。X射线管是仪器的一部分，产生照射样品的X射线。光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决光斑尺寸，正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。探测器与相关电子设备一并处理从样品中激发出的
XRF镀层测厚仪的相关介绍
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样
选择XRF技术的优势介绍
相比其他分析技术，XRF具有许多优势。 其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性技术，仅需制备少量样品甚至完全不需要制备样品，因此，其相比其他技术成本较低。 这也就是为什么全球这么多人选择使用XRF技术进行日常的材料分析工作。
XRF镀层测厚仪的技术介绍
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。最大范围约为50μm左右。如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变
XRF分析技术的相关介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
XRF的能量相关信息介绍
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为: E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。 因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外
关于XRF的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比： （10.2） 式中， 为 =100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似