2026年Q1透射电镜中标盘点：进口主机垄断市场，国产附件强势突围
透射电子显微镜（TEM）是材料科学、生命科学、半导体产业、纳米技术等前沿领域的核心精密分析设备，是微观科研与工业检测不可或缺的基础设施。TEM设备及配套附件单价高昂，高校、科研院所、政企实验室等采购主体多采用公开招标模式采购。 本文以2026年第一季度TEM主机及配套附件招投标数据为核心依据，全面梳理行业中标情况，重点解析日立、日本电子、赛默飞三大进口主流品牌的市场格局，同时聚焦国产附件品牌的突破表现。本次统计覆盖11个国内外主流TEM及附件品牌，累计统计中标总金额达0.638亿元（63,814,938元）。受行业特性影响，Q1为仪器招投标淡季，整体中标体量偏小，数据特征与2025年淡季规律保持一致。TEM及核心附件产品体系概述 电子显微镜主要分为扫描电子显微镜（SEM）与透射电子显微镜（TEM）两大品类，其中聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）统一归入SEM品类统计。电镜主机实现微观高分辨率观测核心功能，各类配套......阅读全文
什么是透射电子显微镜－TEM？
透射电子显微镜是电子显微镜的原始类型，它的主要原理是将高压电子束引导至样品以照亮样品并产生样品的放大图像。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、组织分析、晶体结构等。透射电镜显微成像原理是：通过钨丝电极的阴极发射电子束，再用阳极加速电子束，当电
透射电子显微镜TEM成像原理
透射电子显微镜的成像原理 可分为三种情况： ● 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 ● 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应
透射电子显微镜TEM系统组件
电子枪：发射电子，由阴极、栅极、阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速、加压的作用。 ● 聚光镜：将电子束聚集，可用已控制照明强度和孔径角。 ● 样品室：放置待观察的样品，并装有倾转台，用以改变试样的角度，还有装配加热、冷却等设
TEM透射电子显微镜的简介
TEM透射电子显微镜（Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显
TEM（透射电子显微镜）透射电子衍射图谱解析
TEM（透射电子显微镜）透射电子衍射图谱解析2017-12-04 07:00透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短
透射电镜－(TEM)
透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000 ?的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来。图1 透射电子显微镜的光路示意图是其光路示意图。TEM的分辨本领能达 3 ?左右。在特殊情况下能更高些。 (1)超高压
透射电子显微镜的TEM成像原理
透射电子显微镜的成像原理 可分为三种情况： 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不
透射电子显微镜(Transmission－electron－microscopy,－TEM)
透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进
透射电子显微镜TEM的原理知识
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件
透射电子显微镜（TEM）的工作原理
工作原理透射电镜和扫描电镜一样，利用聚焦电子束作为照明源，不同的是，透射电镜是以透射电子为成像信号，而扫描电镜是以二次电子、背散射电子等为成像信号（如下图所示）。由于透射电镜样品需要很薄，大部分电子会穿透样品，其强度分布与所观察样品的形貌、组织、结构一一对应。透过样品后的电子束经物镜汇聚调焦和初级放
透射电子显微术－TEM
分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象谱图的表示方法：质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象提供的信息：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等
透射电镜（TEM）的操作
电镜操作：照相前，要调好电压对中、电流对中、亮度对中，消除像散，使物镜光阑孔与中心透射斑点同心。用5倍的双目镜协助，对图像聚焦。要选择亮度均匀的区域作为拍摄对象，尽可能使图像充满拍摄区域，把主要的观察对象放在荧光屏中心。FULL-HALF(全张-半张)转换旋钮要旋转到位，如果不到位，会出现图像分割不
如何通过透射电子显微镜（TEM）初步确定待测样品
束1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围最小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差的限制。现在前沿的技术是纳米电子微区衍射(Nanobea
TEM透射电镜衍射斑点标定目的
1、提高格调提高格调是很容易理解的，因为凡涉是比较有档次的研究，TEM可谓是必不可少，目前的文章要是少了透射实验品质会降低不少，审稿人也没有兴趣，这样的情况下要想引起业界关注怕也是也不太容易。当然，这并不是最主要的，第二个目的才是大家真正关心的。2、辅助进行物相鉴定注意这里说的是“辅助”进行物相鉴定
TEM透射电镜衍射斑点怎么标定
怎样标定这是一个大问题，可以先从宏观上对这个问题进行把握。打一个简单的比方，警察要查找犯罪嫌疑人是谁，在犯罪现场找到了作案者的小拇指指纹，要查到此人的信息就需要将该小拇指指纹拿到公安局的数据库中进行比对，一旦该小拇指与其中一个人的小拇指指纹对上了，很可能就是这个人作案。衍射斑点标定的过程与此相同，也
TEM透射电镜衍射斑点怎么标定
这是一个大问题，可以先从宏观上对这个问题进行把握。打一个简单的比方，警察要查找犯罪嫌疑人是谁，在犯罪现场找到了作案者的小拇指指纹，要查到此人的信息就需要将该小拇指指纹拿到公安局的数据库中进行比对，一旦该小拇指与其中一个人的小拇指指纹对上了，很可能就是这个人作案。衍射斑点标定的过程与此相同，也是利用物
TEM透射电镜衍射斑点标定目的
标定目的这是大家首先遇到的问题。以笔者的角度来看，目前通过衍射标定可以达到以下两个目的：提高格调和辅助进行物相鉴定。1提高格调提高格调是很容易理解的，因为凡涉是比较有档次的研究，TEM可谓是必不可少，目前的文章要是少了透射实验品质会降低不少，审稿人也没有兴趣，这样的情况下要想引起业界关注怕也是也不太
透射电镜（TEM）照片分析软件推介
Digital Micrograph(DM)Digital Micrograph是一款电子显微镜辅助软件，主要用于透射电镜的数据采集和分析；在生物医学领域，电子显微镜(电镜)的应用是非常广泛的，它比常规光学显微镜在放大倍数和清晰度上增强了1万倍以上，是现代医学必不可少的工具；有了电子显微镜，必须要有
透射电镜（TEM）的基本原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序
透射电镜（TEM）的基本原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序
透射电镜（TEM）的基本原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序
透射电镜（TEM）的基本原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序
透射电镜（TEM）样品制备之块体样品
块体样品的制备 ：金属薄膜、陶瓷样品在最终减薄以前，要尽可能磨得薄一些，最好在30um以下，不要超过50um。(1).切取薄片可用线切割、金刚石砂轮片切割等；(2).通过手工研磨将金属试样研磨成厚度～0.05mm的金属薄片；(3).用冲片器将金属薄片冲成直径为3mm的小圆；(4).最终减薄，样品中心
透射电镜（TEM）的基本原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序
透射电镜（TEM）样品制备之粉末样品
粉末样品的制备：制备粉末样品的关键是要做好支持膜，并把粉末分散均匀、浓度适中。待支持膜干透了以后再装入电镜观察，以免在电子束的照射下，支持膜破裂。(1).在铜网上预先粘附一层很薄的支持膜；(2).根据粉末样品性质选择合理的分散剂；(3).通过超声将粉末分散均匀形成悬浮液；(4).采用滴样或者捞样方法
透射电镜TEM耗材篇之载网膜
载网膜如上所述，裸网的孔径在微米级，而透射电镜观察的样品尺度通常在100nm以下，为了确保样品能负责在载网上，在裸网上面需覆盖一层厚度为10nm左右的有机膜，称为支持膜。同时，为了防止载网支持膜和样品在电子束照射下积累电荷，发生样品飘移、跳动，甚至出现支持膜破裂等情况，在支持膜上再覆盖一层导电层，提
透射电镜（TEM）的基本原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序
透射电镜（TEM）样品制备原则及要求
TEM制样原则：a.简单。b.不破坏样品表面，如：避免磨样过程中产生的位错及离子减薄过程中产生的非晶现象等。c.尽可能获得大的薄区。TEM样品要求：a.对电子束透明(电子束穿透固体样品的厚度主要取决于：加速电压和样品原子序数)。b.固体、干燥、无油、无磁性。
影响透射电镜（TEM）的三大要素
透射电镜基本构造与光学显微镜相似，主要由光源、物镜和投影镜三部分组成，只不过用电子束代替光束，用磁透镜代替玻璃透镜。光源由电子枪和一或两个聚光镜组成，其作用是得到具有确定能量的高亮度的聚焦电子束。 透镜的成像作用可以分为两个过程：第一个过程是平行电子束遭到物的散射作用而分裂成为各级衍射谱，即由
影响透射电镜（TEM）的三大要素
透射电镜基本构造与光学显微镜相似，主要由光源、物镜和投影镜三部分组成，只不过用电子束代替光束，用磁透镜代替玻璃透镜。光源由电子枪和一或两个聚光镜组成，其作用是得到具有确定能量的高亮度的聚焦电子束。 透镜的成像作用可以分为两个过程：第一个过程是平行电子束遭到物的散射作用而分裂成为各级衍射谱，即由