透射电镜（TEM）样品制备原则及要求
TEM制样原则：a.简单。b.不破坏样品表面，如：避免磨样过程中产生的位错及离子减薄过程中产生的非晶现象等。c.尽可能获得大的薄区。TEM样品要求：a.对电子束透明(电子束穿透固体样品的厚度主要取决于：加速电压和样品原子序数)。b.固体、干燥、无油、无磁性。......阅读全文
TEM制样复型技术
复型技术复型技术用于材料表面形貌及断口的观察分析中。所谓复型，就是把样品表面形貌复制出来，其原理与侦破案件时用石膏复制罪犯鞋底花纹相似。复型法实际上是一种间接或部分间接的分析方法，因为通过复型制备出来的样品是真实样品表面行貌组织结构细节的薄膜复制品。
TEM中如何正确制样
溶液相纳米颗粒常见的纳米粒子（金属纳米颗粒、量子点、氧化物纳米颗粒等）都能够很好溶解、或者分散在溶剂中，使得制样过程变得简单很多。常见的方法有两种：1.捞取法：用特制的镊子夹取载网放置于分散好的胶体溶液中，适当晃动，取出载网晾干即可，如图1所示。2.滴液法：在干净桌面上铺一张A4纸或者面巾纸，在A4
TEM制样：薄膜制备技术
薄膜制备技术样品要求：1、薄膜应对电子束“透明”，制得的薄膜应当保持与大块样品相同的组织结构。2、薄膜得到的图像应当便于分析，所以即使在高压电子显微镜中也不宜采用太厚的样品，减薄过程做到尽可能的均匀．薄膜应具有适当的强度和刚性 。3、薄膜制备方法必须便于控制，具备足够的可靠性和重复性。样品制备:1、
TEM制样聚焦离子束法
聚焦离子束法适用于半导体器件的线路修复和精确切割。聚焦离子束系统（FIB），利用源自液态金属镓的离子束来制备样品。通过调整束流强度，FIB可以对样品的指定区域进行快速和极精细的加工。其汇聚扫描方式可以是矩形、线形或点状。FIB可以制备供扫描透射电镜观测用的各种材料的薄膜样品。
XRD样品制样要求
Xrd可以测量块状和粉末状的样品，对于不同的样品尺寸和样品性质有不同的要求，下面对分别对其作简要的介绍：a）块状样品的要求及制备对于非断口的金属块状试样，需要了解金属自身的相组成、结构参数时，应该尽可能的磨成平面，并进行简单的抛光，这样不但可以去除金属表面的氧化膜，也可以消除表面应变层。然后再用超声
TEM对微晶玻璃的制样要求
先磨薄片厚度小于500um,再到中心透射电镜制样室进行钉薄，然后离子减薄。
TEM制样离子轰击减薄法
离子轰击减薄法离子轰击减薄法多用于矿物、陶瓷、半导体及多相合金等。1. 将待观察的试样按预定取向切割成薄片,再经机械减薄抛光等过程预减薄至30-40μm的薄膜。2. 把薄膜钻取或切取成尺寸为2.5-3mm的小片。3. 装入离子轰击减薄装置进行离子轰击减薄和离子抛光。原理：在高真空中，两个相对的冷阴极
TEM样品
1. 样品一般应为厚度小于100nm的固体。2. 感兴趣的区域与其它区域有反差。3. 样品在高真空中能保持稳定。4. 不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去。5. 对磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响。TEM样品常放置在直径为3mm的200目样品网上，在样
TEM制样粉末状多相催化剂
.粉末状多相催化剂对于多相催化剂而言，样品通常呈现为粉末状。这类样品需要分散到溶剂中，再挂网。因为理论上，样品越薄越利于观察。所以对于粉末样品，挂网前务必充分研磨，确保样品足够薄。有时候为了能够拍出理想的电镜照片，常常研磨一小时甚至数小时。研磨完成后分散到溶剂中，并超声15分钟以上。对于溶剂的选择一
TEM样品制备
由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。
TEM样品制备
样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意
TEM样品制备
样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。 ▽ 超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料 ▽ 材料薄膜制备
TEM样品室
样品室（specimen room ） 样品室处在聚光镜之下，内有载放样品的样品台。样品台必须能做水平面上X、Y方向的移动，以选择、移动观察视野，相对应地配备了2个操纵杆或者旋转手轮，这是一个精密的调节机构，每一个操纵杆旋转10圈时，样品台才能沿着某个方向移动3mm左右。现代高档电镜可
X荧光制样之液体样品制备
上一章节讲解完固体样品制备大家应该都会有所了解了，下面给大家讲一下液体样品的制备要求。 液体样品可直接放在液体样品杯中进行直接测定，所用液体体积尽可能达到无限厚，体积应保持恒定。样品杯由不锈钢、聚四氟乙烯等材料制成，并用厚度为几个微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作为支撑保护。 液体样
扫描电镜制样经验分享生物样品
生物样品具有含水量高、质地柔软、导电性差、容易变形等特点，因此采用扫描电镜观察生物样品时，必须对样品进行必要的处理。 生物样品通常指的是动物的体液、肌肉、毛发和一些组织器官，植物的根、茎、叶、果实等，以及各类微生物（细菌、真菌等）。生物样品的含水量高，一般为70%-80%，只有少数的样品，如一些花粉
徕卡微电子类样品电镜制样方法
电子类样品检测手段多种多样，其中扫描电子显微镜检测不仅观察样品表观形貌，通过制样设备可实现对内部指定点或区域的观察分析，就目前来说电镜观察手段及观察方法渐趋成熟，但制样手段及手法仍有许多值得探究，在这里简单介绍下简单易操作的制样方法。下图是经常遇到的几个电子类材料的类型，线路板PCB,LED,OLE
TEM样品的要求
根据透射电镜的成像原理可知，电子束需要穿透试样才能成像，这就要求被观察的样品对于入射电子束是“透明的”。电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压有关。当电子束的加速电压为200kV时，就可以穿透厚度为500nm的铁膜，如果加速电压增至l000kV，则可以穿透厚度大致为1500nm的铁膜。从图像分析的角度
TEM块状样品制备
块状样品制备电解减薄方法用于金属和合金试样的制备。（1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；（2）用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚；（3）抛光研磨到约100μm厚；（4）冲成Ф3mm 的圆片；（5）选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件，将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔；（6）迅速取出减薄
为什么生物样品制样需要梯度脱水、干燥
易遭破坏。生物样品通常是指动物（包括人）的体液（如尿血、唾液、胆汁、胃液、淋巴液及生物体的其他分泌液等）、毛发、肌肉和一些组织器官（如胸腺、胰腺、肝、肺、脑、胃、肾等）以及各种微生物，生物样品制样需要梯度脱水、干燥是因为易遭破坏，生物样品常有动物体内的药物及代谢产物、糖类及有关化合物、脂类及长链脂肪
TEM粉末样品的制备
粉末样品的制备1．选择高质量的微栅网（直径3mm），这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步；（注：高质量的微栅网目前本实验室还不能制备，是外购的，价格20元/只；普通碳膜铜网免费提供使用。）2．用镊子小心取出微栅网，将膜面朝上（在灯光下观察显示有光泽的面，即膜面），轻轻平放在白色滤纸上；3
TEM对样品的要求
对样品的要求1. 样品一般应为厚度小于100nm的固体。2. 感兴趣的区域与其它区域有反差。3. 样品在高真空中能保持稳定。4. 不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去。5. 对磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响。TEM样品常放置在直径为3mm的200目样
如何制备tem/sem生物样品
透射电镜和扫描电镜制样方法很多，透射电镜的注意重金属染色，扫描电镜注意样品干燥和导电性能良好，而且针对不同的样品和观察效果有不同的制样方法
如何制备tem/sem生物样品
透射电镜和扫描电镜制样方法很多，透射电镜的注意重金属染色，扫描电镜注意样品干燥和导电性能良好，而且针对不同的样品和观察效果有不同的制样方法，
TEM样品防污染措施
样品防污染措施在透射电镜观察的过程中，样品污染一直是个影响高分辨成像质量的重要原因之一。样品的污染主要是由于镜筒内残留的碳氢化合物，以及吸附在样品表明的有机物，当电子束照射某一区域时，向其聚集所致。如何有效加以改善呢?(1)改善样品室的真空卫生。①达到尽可能高的真空度，一般使用要优于20μPa;②不
金属制样
冲样：金属材料韧性比较好，可在冲样机上冲出直径为3mm的小圆片，也可用机械切片机（mechanicalpunch）将直径3mm薄圆片从材料上切下来。一个设计得很好的机械切片机只会在切下的小圆片的圆周上引起很小的损伤，但对某些材料机械切片时产生的冲击可造成剪切变形。4.预减薄：如果冲样前的试样磨得不是
扫描电镜制样怎样使粉末样品分散的更好
一般来说粉末样品分为导电样品和不导电样品两种。导电样品：在样品台上贴上一小块导电胶，取少量粉末撒到导电胶上，再用洗耳球吹吹，将没有沾牢的样品去掉，便可直接装样观察了。不导电样品：只需要多一道喷金的工艺就可以了。
电镜制样徕卡电镜制样流程图
电镜制样-电镜制样流程图
透射电镜（TEM）样品制备之粉末样品
粉末样品的制备：制备粉末样品的关键是要做好支持膜，并把粉末分散均匀、浓度适中。待支持膜干透了以后再装入电镜观察，以免在电子束的照射下，支持膜破裂。(1).在铜网上预先粘附一层很薄的支持膜；(2).根据粉末样品性质选择合理的分散剂；(3).通过超声将粉末分散均匀形成悬浮液；(4).采用滴样或者捞样方法
透射电镜（TEM）样品制备之块体样品
块体样品的制备 ：金属薄膜、陶瓷样品在最终减薄以前，要尽可能磨得薄一些，最好在30um以下，不要超过50um。(1).切取薄片可用线切割、金刚石砂轮片切割等；(2).通过手工研磨将金属试样研磨成厚度～0.05mm的金属薄片；(3).用冲片器将金属薄片冲成直径为3mm的小圆；(4).最终减薄，样品中心
制样品设备分类
由于制样形状的不同一般有三种不同的设备：1.哑铃形制样机适用于非金属拉伸试验中哑铃型试件的制备，可制备各种尺寸的哑铃状试样。此机器制样效率高，所制出的试样尺寸准确，并配有切削碎屑吸收装置，有利于环境卫生。2.万能制样机用于加工塑料、有机玻璃等非金属材料的冲击、拉伸、压缩及热性能等试验用的标准试样。本