XOS公司推出HD1000型分析仪用于玩具筛查和认证
XOS Introduces the HD 1000 Lead Analyzer to Screen and Certify Toys Analyzer is ideal for checking finished-goods inventories to meet new Federal lead regulations EAST GREENBUSH, NY: Today XOS introduces the HD 1000 Lead Analyzer uniting the speed and ease-of-use of conventional XRF analyzers with the precision and accuracy of chemical techniques. The HD 1000 is now ready to meet industry needs for both screening a......阅读全文
XRF的能量相关信息介绍
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为: E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。 因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外
XRF镀层测厚仪的技术介绍
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。最大范围约为50μm左右。如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变
XRF镀层测厚仪的相关介绍
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样
GENIUS－XRF系列新品闪耀登场
RoHS 合金 地矿 土壤 精准检测、10秒到位 GENIUS XRF系列新品闪耀登场 经过近一年的前瞻性研发，天瑞仪器向市场正式推出GENIUS XRF系列产品，该系列是在原有手持三代基础上创新升级而成，故也被称为手持四代x荧光分析仪。 手持式产品一直是天瑞传统优势产品之一，其便携小巧
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
关于XRF的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
XRF使用规程9900OXSAS
1． 开机前首先须确认电路和仪器及各辅助设备正常。 2． 打开外循环冷却水机，并将其温度设定为20℃。打开P10气体阀，并将其输出压力设定为0.025MPa。 3． 依次打开主机背后的主电源和高压发生器电源，旋开主机前面的紧急制动按钮。 4． 打开计算机，登陆OXSAS分析程序。点击弹出窗口中的In
简述XRF仪器的结构组成
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的
XRF仪器的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自
XRF分析技术的相关介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
xrf国家标准有哪些？
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 在中国标准分类中，xrf与xrf涉及到润滑油、金属无损检验方法、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、耐火材料综合、特种
直读光谱与XRF的异同
1、两者的测试原理不同：直读光谱仪是用电弧（火花）的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，经光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，
XRF操作问题解答
R o HS测试时，为什么记数率变化很大？ 答：由于材料不同，X荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数率变化更大，其变化并不影响实际的测量结果。 2. 样品测试时间有多长？ 答：测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的
XRF分析仪探测什么？
XRF分析仪可以探测从镁（Mg）到铀（U）的元素。XRF分析仪几乎可以指向任何样件进行检测，并获得准确的结果。使用分析仪完成的常见应用包括废料分拣、合金牌号的辨别、金属制造业的质量控制（QC）、地质勘探或采矿、工业材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及消费产品的检测，以发现漆层中的铅或其他污染物。
XRF检测仪器产品特点
XRF检测仪器是一款具有三重X射线防护措施；人性化的操作界面；应用α算法、FP法、经验系数法、基本参数法分析软件。满足RoHS/WEEE相关管控要求，完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。 EXF-10A适用于工厂来料及制程控制中的有害物质检
选择XRF技术的优势介绍
相比其他分析技术，XRF具有许多优势。 其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性技术，仅需制备少量样品甚至完全不需要制备样品，因此，其相比其他技术成本较低。 这也就是为什么全球这么多人选择使用XRF技术进行日常的材料分析工作。
XRF原理天瑞EDX－2800
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
关于XRF的发展历程介绍
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
XRF筛选方法若干问题
1、方法的范围、应用及概述这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。XRF是一种通过比较来进行定量的仪器，因此它
什么是CPC认证？CPC认证的检测内容有哪些？亚马逊美国站儿童玩具CPC认证讲解
儿童玩具在市场上的需求不断增长，但与此同时，消费者对儿童玩具的安全性和质量要求也越来越高。为了确保儿童玩具的安全性和合规性，各个国家和地区都引入了不同的产品认证标准。在亚马逊美国站销售儿童玩具的卖家们，必须了解并满足美国的儿童玩具CPC认证标准。一、什么是CPC认证？（证书有效期：1年 （化学测试有
IPC对《消费品安全改进法案》发表评论
美国工业电子电路和电子互连行业协会(IPC)与美国资讯工业协会(ITI)和消费电子协会(CEA)联合向美国消费品安全委员会(CPSC)提交了有关最近生效的《消费品安全改进法案》(CPSIA)的评论。 这项于2008年8月14日生效的法规增添了有关在儿童用品中限用邻苯二甲酸盐和铅的规定。CP
关于XRF的缺点和不足介绍
a)难于作绝对分析，故定量分析需要标样。 b)对轻元素的灵敏度要低一些。 c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
WD－XRF是什么意思
X射线荧光光谱按分离特征谱线的方法分为波色散型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。
简述XRF的基本原理
X射线光管发射的原级X射线射入至样品，激发样品中各元素的特征谱线； 探测器记录特征波长的X射线光子N； 根据特定波长X射线光子N的强度，计算出该波长对应的元素浓度。
在光谱领域中XRF是什么
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
如何利用XRF技术进行检测？
分析仪发出X射线。X射线撞击到被测样品，使样品中的元素发出荧光，然后再返回到分析仪中的X射线探测器。分析仪对返回的X射线进行计数，并通过数学运算，得出分析结果。
XRF大法好，怎么选很重要
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，因为荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，我们因此可以进行元素定量分析。 应用到XRF光谱仪的领域也有很多，比如肥料分拣与回收、合金材料成分辨别、贵金属、地球化学和矿业勘探等等。 但由于影响荧光X射线的强度的因素比较多，除了待
关于XRF的详细信息介绍
X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管
管激发型XRF仪器的特点
管激发型仪器的激发源是X射线管。与放射性同位素源相比，最大的优点在于其可调节性。通过调节管流和高压，可以在一定范围内改变输出X射线的强度和分布，进而有选择性地提高或减小对某些特定元素的激发效率，提高分析能力。再者，X射线管的输出强度远远高于放射性同位素源，光路的几何布置受限制小，可使用准直器、滤光片