尼康和日本电子联手，Pittcon推出NeoScope台式扫描电镜
2008年3月3日，Pittcon 2008，新奥尔良，路易斯安那州 尼康Nikon和日本电子JEOL，世界上两大成像设备供应商，联手向市场推出台式SEM扫描电镜。两家公司将在Pittcon 2008联合推出NeoScope。 “对两家公司来说，NeoScope的合作伙伴关系是一个自然的进展。”迈克尔.梅茨格(Michael Metzger)，纽约梅尔维尔(Melville)的尼康仪器营销总监说。“我们正在从光学和电子显微镜领域，提取各自的专长，并提供给光学显微镜使用者一个全新的工具，将对生命科学研究和工业生产质量检验产生重大影响” 。 Peter Genovese(彼得基诺维斯)，马萨诸塞州皮博迪(Peabody)的日本电子美国副总裁和销售总监补充说：“我们发现了一个两家公司相遇的天然平台。在实验室和研究环境中，尼康和日本电子有相辅相成的产品。虽然电子显微镜的科学和光学显微镜密切相关，但新产品NeoScope SEM拓......阅读全文
尼康和日本电子联手，Pittcon推出NeoScope台式扫描电镜
2008年3月3日，Pittcon 2008，新奥尔良，路易斯安那州 尼康Nikon和日本电子JEOL，世界上两大成像设备供应商，联手向市场推出台式SEM扫描电镜。两家公司将在Pittcon 2008联合推出NeoScope。 “对两家公司来说，NeoScope的合作伙伴关系是一个自然的进展。”
JEOL在Pittcon－2019展出下一代台式扫描电子显微镜JCM7000
分析测试百科网讯2019年3月17日至21日，Pittcon 2019在美国宾夕法尼亚州费城会议中心举行。在本届展会上，日本电子（JEOL）不仅推出了JMS-TQ4000GC三重四极杆质谱仪系统（相关链接：JEOL在Pittcon 2019推出三重四极杆质谱仪JMS-TQ4000GC），还展示了
新品速览－耶拿、JEOL将在Pittcon展发布ICPMS、TOC、GC等新品
分析测试百科网讯 举世瞩目的Pittcon 2019即将在美国最古老的城市之一费城召开。分析测试百科网一如既往为您带来Pittcon会议的最新信息。 首先是德国耶拿新品速览。 在今年的Pittcon上，德国耶拿凭借一系列高性能仪器以及足以获奖的支持和服务开启了新一年的征程。精确而准确的分析仪
JEOL日本电子场发射扫描电镜共享
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>扫描电子显微镜（SEM）分室放置地点：逸夫科技楼B112室固定电话：62773810固定手机：固定email：联系人：付惟琛（010-627711
JEOL日本电子场发射扫描电镜共享应用
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>扫描电子显微镜（SEM）分室放置地点：逸夫科技楼B112室固定电话：62773810固定手机：固定email：联系人：付惟琛（010-627711
日本电子在Pittcon－2011展会上推出质谱和电镜新品
2011年3月13日～3月18日，在美国亚特兰大举办的Pittcon 2011展会上， 日本电子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。 Spiral Tof-Tof Spiral Tof-Tof 有15m的飞行时间，比常规的MALDI
清华大学仪器共享平台JEOL－日本电子场发射扫描电镜
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>扫描电子显微镜（SEM）分室放置地点：逸夫科技楼B112室固定电话：62773810固定手机：固定email：联系人：付惟琛（010-627711
清华大学仪器共享平台JEOL－日本电子场发射扫描电镜
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：样品要求：固体样品（块状或粉末）。块状样品横向距离小于26mm，高度小于10mm。样品不能有磁性。预约说明：取消预约需提前48小时。为提高仪器使用效率，每次最少预约时间为2小时。所属单位：材
清华大学仪器共享平台JEOL日本电子场发射扫描电镜
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>扫描电子显微镜（SEM）分室放置地点：逸夫科技楼B112室固定电话：62773810固定手机：固定email：联系人：付惟琛（010-627711
清华大学仪器共享平台JEOL－日本电子场发射扫描电镜
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>扫描电子显微镜（SEM）分室放置地点：逸夫科技楼B112室固定电话：62773810固定手机：固定email：联系人：付惟琛（010-627711
扫描电镜（SEM）电子透镜的介绍
扫描电镜（SEM）利用电子束对样品进行纳米级分辨率的图像分析。灯丝释放出电子，形成平行的电子束。然后，电子束通过透镜聚焦于样品表面。电子透镜是如何工作的？存在哪几种电子透镜？电子透镜是如何聚焦电子的？扫描电镜：电子、电子束和电子透镜电子从灯丝中释放出来，然后平行于电子透镜。电子束穿过镜筒——由一组透
日本电子发布截至3月31日的2020年财报：收入1172亿日元
分析测试百科网讯，日本电子（JEOL）发布截止到2020年3月31日的2020年财报，销售收入1172.43亿日元，相比去年1112.89亿日元增长5.4%。2019年毛利润448.65亿日元，毛利率为38.27%，运营利润7.03亿日元，相比去年增5.4%，净利润为5.389亿日元，净利润率为4.
透射电镜江湖纷争（一）：日本电子JEOL
如今的透射电子显微镜市场，可谓是呈三足鼎立之势：日本电子，日立和FEI。 今天主要介绍一下老大哥日本电子株式会社JEOL。 提起日本电子，大家都不陌生，目前在我国各大科研院所都不难看到JEOL电镜的影子。日本电子株式会社，是一家世界顶级的科学仪器生产制造商。在这么多的仪器制造商中说它顶级，其
扫描电镜－SEM－都产生了哪些电子？
扫描电镜 SEM 都产生了哪些电子？电子与样品的相互作用会产生不同种类的电子、光子或辐射。对于扫描电镜 SEM 来说，用于成像的两类电子分别是背散射电子 (BSE) 和二次电子 (SE)。背散射电子来自于入射电子束，这些电子与样品发生弹性碰撞，其中一部分反弹回来，这就是背散射电子。另一方面，二次电子
日本电子扫描电镜共享
仪器名称：扫描电镜仪器编号：02012309产地：日本生产厂家：日本电子公司型号：JSM-6460LV出厂日期：200208购置日期：200210所属单位：材料学院>先进材料薄膜材料实验室放置地点：逸夫技科楼1134室固定电话：固定手机：固定email：联系人：曾飞（010-62795373,186
2025年度前三季度电镜中标盘点：最受欢迎的明星型号都有谁？
电镜是材料科学、生命科学、半导体工业、纳米技术等领域不可或缺的分析工具。电子显微镜主要包括：扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM），还有一种分类把聚焦离子束（FIB-SEM）单独分出来，但在本文的统计中，FIB-SEM算到扫描电镜中进行统计。 本文首先介绍了不同类型显微镜的工作原理、技术特点及
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
日本电子又推出高端扫描电镜
2011年7月26日，日本电子株式会社全球又同步推出一款超高分辨率的热长发射扫描电镜JSM-7800F。它的分辨率可达 0.8nm (15kV)， 1.2nm (1kV)。稳定的大电流可实现高速精准的成分分析，且应用面极广。 在中国从推出之日起一年内为推广期，价格优惠。
尼康仪器（上海）召回部分进口NIKON品牌高度测微仪
据海关总署官网2018年10月17日消息，日前，尼康仪器（上海）有限公司向海关总署提交了召回计划，召回部分进口Nikon（尼康）品牌高度测微仪。该产品由高度测微仪本体、显示装置、输出装置及电源适配器组成，本次召回涉及的相关部件型号为：MF-501、MF-1001和MH-15M（高度测微仪本体）；计数
扫描电镜SEM工作原理
透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜四级放大后在
SEM扫描电镜必备知识
1. 光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论，电子的波长仅与加速电压有关：λe=h / mv= h /
扫描电镜（SEM）的应用
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。
扫描电镜（SEM）的应用
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。扫描电镜（SEM）案例分享：材料表面
扫描电镜SEM工作原理
透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜四级放大后
扫描电镜－SEM－如何工作？
扫描电镜 SEM 如何工作？我们着重讲述扫描电镜 SEM。SEM 的示意图如图1 所示。在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。首先，电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。他们随后被加速并被带正电的阳极所吸引。您可以在这篇指导中找到更多关于灯丝分
扫描电镜SEM工作原理
目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜四级放大后在荧光屏上成像。电
扫描电镜－SEM－：精细控制
扫描电镜 SEM ：精细控制如你所见，在显示器显示出样品图像之前（如图4），电子要经历各种不同的过程。当然，你没必要等待电子结束它的旅程，整个过程几乎时瞬间发生的，时间长度为纳秒(10-9 秒)量级。然而，镜筒内电子的每一步都需要预先计算并精确控制，以确保获得高质量的图像。电子显微镜的性能在不断提高
日本电子在APMC10发布ipad遥控扫描电镜
在澳大利亚珀斯 (Perth) 召开的第十届亚太电镜(APMC10)大会上，日本电子发布了可以用ipad、iphone、iMac遥控的场发射扫描电镜程序界面，适用于日本电子生产的全部场发射扫描电镜。这是继日本电子的钨灯丝扫描电镜JSM-6010扫描电镜后，日本电子推出的更加方便、有趣的控制系
JEOL发布新的扫描电镜IT500
分析测试百科网讯 近日，JEOL宣布发布新的扫描电子显微镜（SEM）JSM-IT500。 JSM-IT500系列在吞吐量方面突破了传统的通用型SEM，比其InTouchScope™系列高出约35％，实现了更快，更容易的分析。 JSM-IT500 产品主要特点 1.SEM和EDS系统的积分